测量移动通讯系统中驻波比的方法技术方案

一种测量ＶＳＷＲ而不使用另外的测试装置从而测试移动通讯系统基地站中射频单元的方法。测量至少包括一个发射天线的移动通讯系统基地站中发射天线驻波比的方法包括以下步骤：（ａ）使用包含在基地站中的给定测试终端产生测试信号，并将产生的测试信号发送到发射天线；（ｂ）当测试信号送往发射天线时，测量发射天线的正向信号和反射信号的强度；（ｃ）求得正向信号强度和反射信号强度之间的差值，运用求得的差值计算发射天线的驻波比。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测试移动通讯系统中基地站的基地站测试单元，更具体地说，涉及可以测试基地站射频单元的测量发射天线和接收天线驻波比的方法。一般说，例如码分多重存取(下文称为CDMA)的移动通讯系统结构有若干基地站，移动站和BSM(基地站管理器)。其基地站与移动站射频连接，因而使每个基地站能与PSTN(公共电话交换网络)连接。为了使基地站与PSTN连接顺利，需要定期地检查和诊断基地站是否产生异常状态或基地站工作是否正常。为了满足这种要求。需要具有监示和诊断基地站异常状态存在/不存在和基地站工作不正常的功能的测试基地站的基地站测试单元。用于测试基地站的基地站测试单元可以用于基地站的多种测试功能。具体地说，其中在具有外界天线的基地站射频单元出现故障时，上述测试装置用于测试在天线上是否有损坏或在基地站射频单元中是否有损坏。表示基地站射频单元存在/不存在和基地站损坏的系统特征值是电压驻波比(下文称为VSWR)。因此，可以运用测量VSWR测试基地站射频单元。例如，VSWR对应于用电压表示在发射路径中产生的驻波比大小的值，这值可以运用驻波比的最大值与最小值之比求得。然而，在先有技术中存在测量VSWR的限制，只有当用于测量VSWR的硬件和用于控制硬件的控制器是分开安装时才行。本专利技术的目的是提供一种不需要另一测试装置的测试移动通讯系统中基地站射频单元的测量VSWR的方法。本专利技术的另一目的是提供一种使用终端测试移动通讯系统基地站的射频第一终端单元的正向特征和反射特征的方法。本专利技术的还有另一目的是提供使用终端测量移动通讯系统基地站中发射天线和接收天线VSWR的方法。为了达到这些和其他目的，本专利技术使用包含在基地站中的测试终端产生给定的测试信号，在让产生的测试信号通过天线时分别切换正向路径和反射路径，测量正向信号强度和反射信号强度，使用所述测得的信号的强度计算发射天线和接收天线的VSWR。根据本专利技术的第一方面，本专利技术提供测量至少包括一个发射天线的移动通讯系统中基地站发射天线驻波比的一种方法，该方法包括以下步骤(a)使用包含在基地站中的给定测试终端产生测试用的信号，并将产生的测试信号送往发射天线；(b)当测试信号送往发射天线时，测量发射天线的正向信号和反射信号的强度；和(c)求得正向信号强度和反射信号强度之间差值，使用求得的差值计算发射天线的驻波比。此外，根据本专利技术的第二方面，本专利技术运用测量至少包括发射天线和可变衰减器的移动通讯系统中基地站发射天线驻波比的方法可以达到这些目的，该方法包括以下步骤(a)使用包含在基地站中的给定测试终端产生测试用的信号，并将产生的测试信号送往发射天线；(b)当测试信号送往发射天线时，测量发射天线的正向信号和反射信号的强度；(c)调节可变衰减器，使正向信号强度等于反射信号强度；和(d)利用调节后的信号强度，计算发射天线驻波比。此外，根据本专利技术的第一方面，本专利技术提供测量至少包括一个接收天线的移动通讯系统中基地站接收天线驻波比的一种方法，该方法包括以下步骤(a)使用包含在基地站中的给定测试终端产生测试用的信号，并将产生的测试信号送往接收天线；(b)当测试信号送往接收天线时，测量接收天线的正向信号和反射信号的强度；和(c)求得正向信号强度和反射信号强度之间差值，使用求得的差值计算接收天线的驻波比。此外，根据本专利技术的第一方面，本专利技术提供测量至少包括接收天线和可变衰减器的移动通讯系统中基地站接收天线驻波比的方法可以达到这些目的，该方法包括以下步骤(a)使用包含在基地站中的给定测试终端产生测试用的信号，并将产生的测试信号送往发射天线；(b)当测试信号送往接收天线时，测量接收天线的正向信号和反射信号的强度；(c)调节可变衰减器，使正向信号强度等于反射信号强度；和(d)利用调节后的信号强度，计算接收天线驻波比。通过阅读以下结合附图的详细说明，将能更好地理解本专利技术，对本专利技术更完整的评价及其许多优点将会显而易见，附图中相同标号表示相同或类似部件，附图中附图说明图1和2是表示应用本专利技术测量驻波比方法的CDMA系统基地站结构的方块图；图3是表示测试图1和2所示基地站的基地站测试单元结构的详细方块图；图4是表示运用测试呼叫测量发射天线驻波比过程的流程图；图5是表示运用测试终端测试方式测量发射天线驻波比过程的流程图；图6是表示运用测试呼叫或衰减单元和测试终端测试方式测量发射天线驻波比过程的流程图；图7是表示运用测试呼叫测量接收天线驻波比过程的流程图；图8是表示运用测试终端测试方式测量接收天线驻波比过程的流程图；图9是表示运用测试呼叫或衰减单元和测试终端测试方式测量接收天线驻波比过程的流程图；图10是表示根据本专利技术的补偿发射输出过程的流程图。以下结合附图具体地叙述本专利技术的最佳实施例。首先，要提一下附图中相同标号表示具有相同功能的相同或等同部件。还有，在以下说明中，为了更透彻理解本专利技术，提到一些例如包含电路和频率的具体部件的特定细节。然而，本专业的技术人员显然明白本专利技术可以不用这些特定细节而实施。会冲淡本专利技术主题的有关已知功能和结构的叙述在以下说明中加以省略。而且，将在下文解释的、考虑本专利技术功能所定义的用词可能不同于根据芯片设计者或用户的用意或实践所定义的，对于上述用词的定义将要根据全文内容作出。图1和图2是表示应用本专利技术的测量驻波比方法的CDMA通讯系统基地站结构的方块图。参阅图1和2，本专利技术的基地站包括一个发射终端(TX)100A，和二个分集结构的接收终端(RX1和RX2)100B和100C。即，可以看出，是以适合于安装在全向单元(omni-cell)的基地站作为例子叙述本专利技术的测量VSWR方法的。然而，要注意本专利技术的测量VSWR方法当用于将基地站分为α单元，β单元和γ单元的扇面单元时性能是相同的。在图1和2中，发射终端100A和接收终端100B和100C分别包含发射机(XCVR)110，定向耦合器(D/C)120，和天线(Ant0，Ant1，和Ant2)。发射机110被共同连接到作为控制基地站系统的处理器的BCP(BTS〔基地站发射机子系统〕控制处理器)而受到控制。而且，MAP 310和CCP 320也与BCP 300连接，MAP(维护管理个人计算机)310是用于测试，维护，管理，和操作基地站用的个人计算机，而CCP(呼叫控制处理器)320是用于执行呼叫处理的处理器，其在BSC(基地站控制器)中作为BCP 300的上级处理器。此外，作为本专利技术特征单元的基地站测试单元BTU 200与BCP 300连接，它执行按照本专利技术测量VSWR的操作。BTU 200至少有发射路径/接收路径开关单元(射频开关单元RF S/W)210，测试终端(TM终端移动站)230，控制电路单元(BCIUBTU控制处理器)250，和发射功率检测单元(TPDUTX功率检测单元)270。在图1所示的情况下，BTU 200仅包含上面所述单元。然而，在图2中，BTU 200除了上述单元外还包括衰减单元(ATTU)290。这意味一方面本专利技术的测量VSWR方法可以使用衰减单元290进行，而另一方面该方法也可以不使用衰减单元290进行。上述部件的详细说明将在图3的说明中给出。还未说明的BSM(基地管理器)执行基地站的测试，维护和管理，并且可以以工作站计算机的形本文档来自技高网...

【技术保护点】
测量至少包括一个发射天线的移动通讯系统中基地站发射天线驻波比的一种方法，其特征在于包括以下步骤： （ａ）使用包含在所述基地站中的给定测试终端产生测试用的信号，并将所述产生的测试信号发送到所述发射天线； （ｂ）当把测试信号发送到所述发射天线时，测量所述发射天线的正向信号和反射信号的强度；和 （ｃ）求得所述正向信号强度和所述反射信号强度之间的差值，使用所述求得的差值计算所述发射天线的驻波比。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：高光日，金完洙，朴珍洙，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]