测试治具制造技术

该实用新型专利技术公开了一种测试治具，包括：底座；用于承载测试器件的测试平台，所述测试平台至少沿第一方向可移动地设在所述底座上；测试装置，所述测试装置设在所述底座上，所述测试装置设有沿第二方向间隔开设置的多组探针组件，每组所述探针组件具有至少一个测试探针，所述测试平台位于多组所述探针组件下方且沿所述第一方向可移动，所述测试平台移动以使得多组所述探针组件能够对所述测试器件在所述第一方向上不同位置的焊点进行测试。根据本实用新型专利技术实施例的测试治具，能够实现对不同型号的测试器件进行测试，降低测试周期。降低测试周期。降低测试周期。

【技术实现步骤摘要】
测试治具


[0001]本技术涉及探针测试
，具体涉及一种测试治具。

技术介绍

[0002]现有技术的测试治具，在对测试器件例如PCB板进行测试时，不同的PCB型号和拼版尺寸需要进行定制，而单独定制不仅需要全新布线，而且制作周期长，导致验证的周期时间也较长。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种测试治具，能够实现对不同型号的测试器件进行测试，降低测试周期。
[0004]根据本技术实施例的测试治具，包括：底座；用于承载测试器件的测试平台，所述测试平台至少沿第一方向可移动地设在所述底座上；测试装置，所述测试装置设在所述底座上，所述测试装置设有沿第二方向间隔开设置的多组探针组件，每组所述探针组件具有至少一个测试探针，所述测试平台位于多组所述探针组件下方且沿所述第一方向可移动，所述测试平台移动以使得多组所述探针组件能够对所述测试器件在所述第一方向上不同位置的焊点进行测试。
[0005]根据本技术的一些实施例，所述测试装置包括：固定支架，所述固定支架固定在所述底座上；调整装置，所述调整装置沿上下方向可移动地设在所述固定支架上，多组所述探针组件沿所述第二方向可移动地设在所述调整装置上。
[0006]根据本技术的一些实施例，所述固定支架包括至少两个固定柱和固定横梁，所述固定柱的下端固定在底座上，所述固定横梁连接在至少两个所述固定柱之间上，所述测试平台位于所述固定横梁的下方。
[0007]根据本技术的一些实施例，所述调整装置包括：可调节横梁，所述可调节横梁沿上下方向可移动地套设在所述固定柱上，多组所述探针组件沿所述第二方向间隔开地设在所述可调节横梁上；驱动机构，所述驱动机构设在所述固定横梁上且与所述可调节横梁连接，以用于驱动所述可调节横梁沿上下方向移动。
[0008]根据本技术的一些实施例，所述驱动机构包括：第一驱动连杆，所述第一驱动连杆的一端与所述可调节横梁铰接；第二驱动连杆，所述第二驱动连杆上设有固定部，所述固定部与所述固定横梁铰接，所述第二驱动连杆的一端与所述第一驱动连杆可活动连接，所述第二驱动连杆的另一端形成有驱动柄，所述驱动柄活动以驱动所述第一驱动连杆带动所述可调节横梁上下移动。
[0009]根据本技术的一些实施例，所述可调节横梁内设有沿第二方向延伸的调节通道，多组所述探针组件可移动地设在所述调节通道内。
[0010]根据本技术的一些实施例，每组所述探针组件包括绝缘柱和多个所述测试探针，多个所述测试探针套设在所述绝缘柱上且通过绝缘件间隔开。
[0011]根据本技术的一些实施例，所述测试探针包括连接部和测试部，所述连接部套设在所述绝缘柱上，所述测试部与所述连接部相连以用于测试所述焊点。
[0012]根据本技术的一些实施例，多个所述测试探针沿上下方向间隔开设在所述绝缘柱上且绕所述安装柱的周向可转动。
[0013]根据本技术的一些实施例，所述测试探针还包括固定件，所述测试部设有固定孔，所述固定件穿过所述固定孔与所述连接部固定连接且在所述固定孔内沿所述第一方向可移动，以使所述测试部在所述第一方向上位置可调。
[0014]由此根据本技术实施例的测试治具，测试平台可移动地设在底座上且可用于承载测试器件，测试装置设有多组测试探针组件，能够实现对整个测试器件的测试，可用于对不同类型的测试器件例如不同排布的PCB板进行测试，而不需要针对不同型号的PCB板设计不同的版型和拼版尺寸进行定制和重新布线，可减少定制测试拼版的时间，降低测试验证周期，提高测试效率。
附图说明
[0015]图1为根据本技术实施例的一个角度的测试治具的结构示意图；
[0016]图2为根据本技术实施例的另一个角度的结构示意图；
[0017]图3为图1中部分结构的放大示意图。
[0018]附图标记：
[0019]100：测试治具；
[0020]11：底座，12：测试平台，13：测试器件，14：焊点；
[0021]21：固定支架，22：固定柱，23：固定横梁；
[0022]3：调整装置，31：可调节横梁，311：调节通道，32：驱动机构，321：第一驱动连杆，322：第二驱动连杆，323：固定部，324：驱动手柄；
[0023]4：探针组件，41：绝缘柱，42：绝缘件，43：测试探针，44：连接部，45：测试部，451：固定孔，46：固定件。
具体实施方式
[0024]以下结合附图和具体实施方式对本技术提出的一种测试治具100作进一步详细说明。
[0025]结合图1
‑
图3所示，根据本技术实施例的测试治具100可以包括底座11、测试平台12和测试装置(即如图1和图2所示的固定支架21和调整装置3)，测试平台12和测试装置均设在底座11上，底座11用于支撑测试平台12和测试装置，测试平台12用于承载测试器件13，所述测试器件13即需要进行测试的器件，例如需要进行测试的PCB板等，测试装置用于对测试器件13进行测试。
[0026]具体地，测试平台12可至少沿第一方向可移动地设在底座11上，即测试平台12可沿第一方向移动，或者测试平台12沿第一方向可移动的同时也可沿其它方向移动，具体可根据实际情况设置，只要测试平台12在底座11上可以动即可，在本技术的下面阐述的实施例中以测试平台12沿第一方向移动为例进行说明。测试器件13设在测试平台12上，也就是说，测试器件13在底座11上可至少沿第一方向移动。
[0027]测试装置设有沿第二方向间隔开设置的多组探针组件4，探针组件4用于对测试器件13测试，这样多组探针组件4可在第二方向上对测试器件13的多组焊点14进行对准测试。每组所述探针组件4具有至少一个测试探针43，即每组探针组件4可以设有一个测试探针43，或者每组探针组件4可以设有多个测试探针43，需要说明的是，这里的多个指的是两个或者两个以上，例如如图1所示，每组探针组件4可以包括三个测试探针43。
[0028]测试平台12位于多组所述探针组件4下方且沿所述第一方向可移动，测试平台12移动以使得多组所述探针组件4能够对所述测试器件13在所述第一方向上不同位置的焊点14进行测试。具体地，测试平台12设在探针组件4的下方，这样测试平台12可相对探针组件4在探针组件4的下方沿第一方向移动，测试器件13上的焊点14一般呈阵列分布，例如，测试器件13的焊点14可按照沿第一方向和第二方向上成行成列分布划分，由此，多组探针组件4可对测试器件13在第二方向的多个焊点14进行测试，当测试平台12移动时，测试器件13随着测试平台12沿第一方向移动，从而使得多组探针组件4可对第一方向上的下一排的焊点14进行测试，随着测试平台12的移动，多组测试探针43可对第一方向上的多排焊点14进行测试，以实现对测试器件13在第一方向和第二方向上对不同位置的焊点14进行测试，进而能够实现对整个测试器件13的测试，可用于本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试治具，其特征在于，包括：底座；用于承载测试器件的测试平台，所述测试平台至少沿第一方向可移动地设在所述底座上；测试装置，所述测试装置设在所述底座上，所述测试装置设有沿第二方向间隔开设置的多组探针组件，每组所述探针组件具有至少一个测试探针，所述测试平台位于多组所述探针组件下方且沿所述第一方向可移动，所述测试平台移动以使得多组所述探针组件能够对所述测试器件在所述第一方向上不同位置的焊点进行测试。2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述测试装置包括：固定支架，所述固定支架固定在所述底座上；调整装置，所述调整装置沿上下方向可移动地设在所述固定支架上，多组所述探针组件沿所述第二方向可移动地设在所述调整装置上。3.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述固定支架包括至少两个固定柱和固定横梁，所述固定柱的下端固定在底座上，所述固定横梁连接在至少两个所述固定柱之间上，所述测试平台位于所述固定横梁的下方。4.根据权利要求3所述的测试治具，其特征在于，所述调整装置包括：可调节横梁，所述可调节横梁沿上下方向可移动地套设在所述固定柱上，多组所述探针组件沿所述第二方向间隔开地设在所述可调节横梁上；驱动机构，所述驱动机构设在所述固定横梁上且与所述可调节横梁连接，以用于驱动所述可调节横梁沿上下方向移动。5.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴东辉，肖滨，李刚，
申请(专利权)人：昆山灵科传感技术有限公司，
类型：新型
国别省市：