用于对老化测试机的配电板进行离机测试校验的推车制造技术

本实用新型专利技术提供一种用于对老化测试机的配电板进行离机测试校验的推车，其特征在于，所述用于对老化测试机的配电板进行离机测试校验的推车包括：具有车体框架和设置在所述车体框架上并且用于放置需要测试校验的配电板的顶板的车体；设置在所述顶板上的电源连接器，所述配电板的电源插头能够插接到所述电源连接器上；用于将所述电源连接器电连接到电源的电源线；以及用于将所述配电板电连接到信号源的信号电缆。根据本实用新型专利技术的用于对老化测试机的配电板进行离机测试校验的推车可以避免反复地拆卸和安装配电板，不仅可以大大提高工作效率，而且还可以显著地降低安全风险。而且还可以显著地降低安全风险。而且还可以显著地降低安全风险。

【技术实现步骤摘要】
用于对老化测试机的配电板进行离机测试校验的推车


[0001]本技术涉及芯片制造过程中使用的老化测试机，尤其涉及用于对老化测试机的配电板进行离机测试校验的推车。

技术介绍

[0002]在芯片制造过程中，需要利用老化测试机对芯片性能进行测试。常用的老化测试机具有32个配电板，配电板用于给测试板提供电源和信号通信以便对芯片进行测试。每个配电板包括布置在其中的多个(例如57个)电子集成卡，配电板发生故障的几率较大并且难于修复。图1示意性地显示了对配电板进行修复的现有流程。如图1所示，在块S1从老化测试机上拆卸下出现故障的配电板，在块S2对出现故障的配电板进行离机修复，在块S3将修复后的配电板装回老化测试机，在块S4对修复后的配电板进行通电，在块S5对修复后的配电板进行测试校验，在块S6确定配电板是否已经测试校验合格。如果在块S6确定配电板已经测试校验合格，在块S7结束修复流程；如果在块S6确定配电板测试校验不合格，重新执行块S1
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S6直到确定配电板已经测试校验合格。在重新执行块S1
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S6时需要反复地拆卸和安装配电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于对老化测试机的配电板进行离机测试校验的推车，其特征在于，所述用于对老化测试机的配电板进行离机测试校验的推车包括：具有车体框架(7)和设置在所述车体框架(7)上并且用于放置需要测试校验的配电板(11)的顶板(9)的车体(5)；设置在所述顶板(9)上的电源连接器(19)，所述配电板(11)的电源插头(21)能够插接到所述电源连接器(19)上；用于将所述电源连接器(19)电连接到电源的电源线(14)；以及用于将所述配电板(11)电连接到信号源的信号电缆(28)。2.根据权利要求1所述的用于对老化测试机的配电板进行离机测试校验的推车，其特征在于，在所述顶板(9)上设置有两个所述电源连接器(19)，以方便处于所述配电板不同侧的电源插头(21)的插接。3.根据权利要求1所述的用于对老化测试机的配电板进行离机测试校验的推车，其特征在于，在所述顶板(9)的底侧设置有带有开关的电源分配盒(13)，所述电源连接器(19)与所述电源分配盒(13)电连通，并且所述电源分配盒(13)通过所述电源线(14)与所述电源电连接。4.根据权利要求1所述的用于对老化测试机的配电板进行离机测试校验的推车，其特征在于，所述电源连接器(19)设置有弹簧加载的盖子(23)。5.根据权利要求1所述的用于对老化测试机的配电板进行离机测试校验的推车，其特征在于，在所述顶板(9)的上侧设置有用于盖住...

【专利技术属性】
技术研发人员：周宣名，夷长江，
申请(专利权)人：英特尔产品成都有限公司，
类型：新型
国别省市：