一种面板集成检测设备和调试方法技术

本发明专利技术公开了一种面板集成检测设备和调试方法，其包括设置于隔振台上的集成电路检测装置和AOI检测装置，所述AOI检测装置包括光机安装架和光学检测模组，所述光机安装架上至少设置有用于调节所述光学检测模组空间位置和/或空间角度的第一调节模组，所述集成电路检测装置上设置有用于调节其空间位置和/或空间角度的第二调节模组；所述第二调节模组能够实现集成电路检测装置沿第一轴的轴向的位移调节和绕第三轴的旋转调节。本发明专利技术不仅结构简单，而且能够有效降低振动对面板检测精度带来的影响，提高面板检测的精度。提高面板检测的精度。提高面板检测的精度。

【技术实现步骤摘要】
一种面板集成检测设备和调试方法


[0001]本专利技术公开了一种集成检测设备，属于Micro LED检测
，具体公开了一种面板集成检测设备和调试方法。

技术介绍

[0002]目前，Micro LED作为一种主流的显示技术相对于其它微显示技术虽然具有无与伦比的优势，但是Micro LED微显示器需要进行ATE测试和AOI测试，才可以有效地降低配至有Micro LED微显示器的故障率。
[0003]由于Micro LED像素尺寸微缩化，其给Micro LED的测试带来了挑战。目前常规的Micro LED的检测通常式通过ATE测试装置和AOI测试装置独立实现，即需要首先在一个工位基于集成电路检测装置完成Micro LED的ATE测试，然后将检测合格后的Micro LED移送至另一个工位，基于AOI设备对其完成AOI测试，上述检测方法需要工位切换工序，故其检测耗时较长；为了解决上述技术问题，集成有电路检测装置、AOI检测装置的面板检测设备应运而生，该面板检测设备一般包括底座，底座上配置有隔振台，隔振台上安装有光机安装架，光机安装架通过一个本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种面板集成检测设备，其特征在于：包括设置于隔振台(7)上的集成电路检测装置(2)和AOI检测装置，所述AOI检测装置包括光机安装架(1)和光学检测模组(3)，所述光机安装架(1)上至少设置有用于调节所述光学检测模组(3)空间位置和/或空间角度的第一调节模组，所述集成电路检测装置(2)上设置有用于调节其空间位置和/或空间角度的第二调节模组；所述第二调节模组能够实现集成电路检测装置(2)沿第一轴的轴向的位移调节和绕第三轴的旋转调节。2.根据权利要求1所述的面板集成检测设备，其特征在于：所述第一调节模组包括沿第二轴的轴向延伸的第一直线模组(11)、沿第三轴的轴向延伸的第二直线模组(9)和能够绕第一轴旋转的旋转模组(10)，第一轴、第二轴和第三轴两两相互垂直。3.根据权利要求2所述的面板集成检测设备，其特征在于：所述第一直线模组(11)包括固接于所述光机安装架(1)上的固定板(11.1)和沿第二轴的轴向滑动配合连接于所述固定板(11.1)上的移动板(11.2)，所述移动板(11.2)上这是固接有有两个与其垂直布置的连接板(11.3)。4.根据权利要求2所述的面板集成检测设备，其特征在于：所述旋转模组(10)包括连接于所述第二直线模组(9)或所述第一直线模组(11)移动端的底板(10.1)，所述底板(10.1)上连接有可绕第一轴旋转的基板(10.2)，所述基板(10.2)上连接有用于固定光机的光机夹爪(10.3)和用于夹持光机镜头的端部的镜头固定座(10.4)。5.根据权利要求3或4所述的面板集成检...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖治祥，王宏丽，朱涛，叶坤，
申请(专利权)人：武汉精测电子集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：