一种光学镜片缺陷检测方法、装置及设备制造方法及图纸

技术编号:36692743 阅读:28 留言:0更新日期:2023-02-27 20:01
本发明专利技术公开了一种光学镜片缺陷检测方法、装置及设备,涉及光学镜片检测技术领域,该方法包括:获取待检测光学镜片的第一图像;对待检测光学镜片进行清洁处理;获取清洁后的待检测光学镜片的第二图像;对所述第一图像进行分割处理,得到所述第一图像对应的第一分割图像,所述第一分割图像包含所述待检测光学镜片的第一特征子图;对所述第二图像进行分割处理,得到所述第二图像对应的第二分割图像,所述第二分割图像包含待检测光学镜片的第二特征子图;求取所述第一特征子图和所述第二特征子图的特征交集图,得到所述待检测光学镜片的缺陷特征图;该方法能够排除检测光学镜片缺陷过程中灰尘的影响,从而提高光学镜片缺陷检测的精度。的精度。的精度。

【技术实现步骤摘要】
一种光学镜片缺陷检测方法、装置及设备


[0001]本专利技术涉及光学镜片检测
,特别涉及一种光学镜片缺陷检测方法、装置及设备。

技术介绍

[0002]光学镜片即是利用光学玻璃或者光学树脂制造的镜片,被广泛应用于光学设备中,例如,条形码扫描仪透镜、平面光学元件和专业成像光学透镜等,光学镜片上的缺陷直接影响设备的性能。
[0003]目前,光学镜片缺陷检测的常规方法为:将镜片置于同轴光源下,利用工业相机对待检测镜片进行拍照,然后对拍摄的图片进行分析处理,得到待检测镜片的缺陷信息;通过此方法检测光学镜片的缺陷信息,在对待检测镜片拍照的过程中,镜片表面会附着灰尘,在对拍摄的图片分析处理过程中,会把灰尘信息判定为缺陷信息,导致光学镜片缺陷检测结果不准确。

技术实现思路

[0004]基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种光学镜片缺陷检测方法、装置及设备,以解决现有的光学镜片缺陷检测技术,在对拍摄的图片分析处理过程中,会把灰尘信息判定为缺陷信息,导致光学镜片缺陷检测结果不准确问题。
[0005]第一方面,本专利技术实施例本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学镜片缺陷检测方法,其特征在于,包括:获取待检测光学镜片的第一图像;对所述待检测光学镜片进行清洁处理;获取清洁后的待检测光学镜片的第二图像;对所述第一图像进行分割处理,得到所述第一图像对应的第一分割图像,所述第一分割图像包含所述待检测光学镜片的第一特征子图;对所述第二图像进行分割处理,得到所述第二图像对应的第二分割图像,所述第二分割图像包含所述待检测光学镜片的第二特征子图;求取所述第一特征子图和所述第二特征子图的特征交集图,得到所述待检测光学镜片的缺陷特征图。2.根据权利要求1所述的光学镜片缺陷检测方法,其特征在于,对所述第一图像进行分割处理包括:去除所述第一图像中的所述待检测光学镜片图像以外的图像区域,保留所述待检测光学镜片的图像,得到第一预处理图像;对所述第一预处理图像进行模糊操作,去除所述第一预处理图像的噪声;将所述第一预处理图像与模糊后的第一预处理图像进行比较,去除所述第一预处理图像中灰度值小于模糊后的第一预处理图像中灰度值的像素点,保留所述第一预处理图像中灰度值大于模糊后的第一预处理图像中灰度值的像素点,得到第一初始分割图像。3.根据权利要求2所述的光学镜片缺陷检测方法,其特征在于,对所述第一图像进行分割处理还包括:计算预设卷积核尺度范围内的灰度均值,将所述灰度均值作为阈值,将所述第一初始分割图像中灰度值大于所述阈值的像素点的灰度值置为第一设定值,将灰度值小于所述阈值的像素点的灰度值置为第二设定值;去除灰度值为所述第二设定值的像素点,保留灰度值为所述第一设定值的像素点,得到所述第一特征子图对应像素点,得到所述第一分割图。4.根据权利要求3所述的光学镜片缺陷检测方法,其特征在于,对所述第二图像进行分割处理包括:去除所述第二图像中的所述待检测光学镜片图像以外的图像区域,保留所述待检测光学镜片图像,得到第二预处理图像;对所述第二预处理图像进行模糊操作,去除所述第二预处理图像的噪声;将所述第二预处理图像与模糊后的第二预处理图像进行比较,去除所述第二预处理图像中灰度值小于模糊后的第二预处理图像中灰度值的像素点,保留所述第二预处理图像中灰度值大于模糊后的第二预处理图像中灰度值的像素点,得到第二初始分割图像。5.根据权利要求4所述的光学镜片缺陷检测方法,其特征在于,对所述第二图像进行分割处理还包括:将所述第二初始分割图像中灰度值大于所述阈值的像素点的灰度值置为所述第一设定值,将灰度值小于所述阈值的像素点的灰度值置为所述第二设定值;去除灰度值为所述第二设定值的像素点,保留灰度值为所述第一设定值的像素点,得到所述第二特征子图对应的像素点,得到所述第二分割图。
6.根据权利要求5所述的光学镜片缺陷检测方法,其特征在于,求取所述第一特征子图和所述第二特征子图的特征交集图,得到所述待检测光学镜片的缺陷特...

【专利技术属性】
技术研发人员:贺小华樊为民邱兴德高锦龙
申请(专利权)人:深圳市壹倍科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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