一种用于X射线散射测试系统的数据采集系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种用于X射线散射测试系统的数据采集系统，包括数据采集单元和与其配合的系统控制单元，所述数据采集单元用于采集X射线散射信号，所述系统控制单元用于控制采集装置以及接收和处理数据信息，所述数据采集单元与外部的X射线散射测试系统的上位机连接。本实用新型专利技术通过调整装置可以调整样品的高度和X射线探测器的高度，同时设置辅助控制器，辅助控制调整装置，减轻处理器模块的工作量，提高了系统的控制效率，同时通过振动传感器监测振动信息，避免异常振动造成样品检测结果异常。常。常。

【技术实现步骤摘要】
一种用于X射线散射测试系统的数据采集系统


[0001]本技术涉及X射线检测
，具体为一种用于X射线散射测试系统的数据采集系统。

技术介绍

[0002]小角X射线散射被越来越多地应用于材料微观结构研究，该技术被用来表征物质的长周期、准周期结构、界面层以及呈无规则分布的纳米体系；还可用于金属和非金属纳米粉末、胶体溶液、生物大分子以及各种材料中所形成的纳米级微孔、合金中的非均匀区(GP区)和沉淀析出相尺寸分布的测定，小角X射线散射技术对促进材料研究具有重要意义，通过X射线探测器采集散射的X射线数据并成像，正个过程需要数据采集系统来控制实现。
[0003]传统的数据采集系统中，缺少必要调节功能和监视功能，无法调节待测样品的高度和探测器的高度，同时无法监测在装置工作时的振动情况，过大的振动会影响样品的检测结果。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种用于X射线散射测试系统的数据采集系统，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种用于X射线散射测试系统的数据采集系本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于X射线散射测试系统的数据采集系统，其特征在于：包括数据采集单元(1)和与其配合的系统控制单元(2)，所述数据采集单元(1)用于采集X射线散射信号，所述系统控制单元(2)用于控制采集装置以及接收和处理数据信息，所述数据采集单元(1)与外部的X射线散射测试系统的上位机连接。2.根据权利要求1所述的一种用于X射线散射测试系统的数据采集系统，其特征在于：所述数据采集单元(1)包扩X射线探测器(10)和与其配合的调整装置(11)，所述调整装置(11)与系统控制单元(2)连接。3.根据权利要求2所述的一种用于X射线散射测试系统的数据采集系统，其特征在于：所述系统控制单元(2)包括处理器组件(20)和监控组件(21)，所述处理器组件(20)包括处理器模块(201)、接口模块(202)、储存模块(203)和通信模块(204)，所述接口模块(202)和储存模块(203)与处理器模块(201)连接，所述通信模块(204)与接口模块(202)连接；所述监控组件(21)包括若干振动传感器(2101)和若干距离传感器(2102)，所述若干振动传感器(2101)和若干距离传感器(2102)分别与接口模块(202)连接。4.根据权利要求3所述的一种用于X射线散射测试系统的数据采集系统，其特征在于：所述调整装置(11)包括样品台调整机构(110)和探测器调整机构(111)，所述样品台调整机构(110)包括底座(1101)和高度调整组件一(1102)，所述探测器调整机构(111)件包括安装台(1111)、直线调整组件(1112)和高度调整组件二(1113)；所述高度调整组件一(1102)包括升降电缸一(11021)、埋放槽(11022)和样品台(11023)，所述埋放槽(11022)开设在底座(1101)内部，所述样品台(11023)的底部设置有若干导向滑杆，所述导向滑杆贯穿底座(1101)，所述升降电缸一(11021)设置在埋放槽(11022)内，所述升降电缸一(11021)的上部与样品台(11023)连接，一个所述距离传感器(2102)与样品台(11023)底部连接，所述升降电缸与接口模块(202)连接，一个所述振动传感器(2101)与样品台(11023)的底部连接。5.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：武美玲，
申请(专利权)人：安徽国科仪器科技有限公司，
类型：新型
国别省市：