一种X射线样品分析装置制造方法及图纸

本技术涉及样品检测领域，具体涉及一种X射线样品分析装置。该装置包括外壳，外壳的正面和背面各设置一个KF40接口，两个KF40接口在光线投影面上部分或全部重合，X射线能够穿过两个KF40接口；以及部分设置在外壳内的准直机构，准直机构包括一个保护罩和位于所述保护罩内的若干个切光机构，每个切光机构穿过保护罩连接一个步进电机；所述切光机构在对应的所述步进电机的控制下能够在两个KF40接口在光线投影面上重合的区域形成X射线通光孔。本技术通过一体成型的密封外壳实现10<supgt;‑5</supgt;毫巴真空环境，减少散射和吸收，提高X射线的穿透深度和信号强度，从而提高检测的灵敏度和准确性。通过步进电机控制刀片的位置来精准控制X光斑的大小，提高分析结果的准确性和稳定性。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及样品检测领域，具体涉及一种x射线样品分析装置。

技术介绍

1、x射线样品分析是一种应用广泛的无损检测技术，可以对物质的结构和成分进行分析。x射线样品分析能够在不对样品做任何破坏性处理的前提下分析样品的结构和成分，而无需对样品进行任何破坏性处理，为各行各业提供了非常重要的技术支持和帮助。该技术广泛应用于制药、矿产、材料科学、环境监测等领域。

2、x射线样品分析的原理是利用x射线的穿透性进行分析。当x射线照射到样品上时，样品中的原子会吸收或散射x射线，从而形成x射线衍射图谱或x射线吸收谱。通过对这些谱线的分析，可以确定样品的成分和结构信息。空气中的分子会散射和吸收x射线，从而影响x射线的穿透深度和散射方向，同时也会产生背景噪声，影响信号的检测和分析。因此，在真空环境中，可以减少散射和吸收，提高x射线的穿透深度和信号强度，从而提高检测的灵敏度和准确性。

3、x射线样品分析中，光斑的大小对于分析结果的准确性和稳定性具有非常重要的影响。如果光斑的大小过大，会导致分析区域过大，从而降低了空间分辨率，使得仪器无法准确地分析样品的微小区域；而且光斑的大小过大会导致信号和噪声混杂在一起，从而降低信噪比，影响分析精度。空间分辨率是x射线样品分析中非常重要的参数，它决定了仪器能够分辨出多小的样品区域；信噪比是指信号和噪声的比值，是评估仪器分析精度的重要指标。

4、现有的x射线样品分析装置通过光源发射x光线，利用狭缝实现对x光斑大小的可控调节，照射到样品上，产生的信号被探测器接收，然后通过分析软件实现对样品的结构分析，分析软件可以对接收到的信号进行处理和分析，从而得到样品的结构和成分信息。然后，现有的x射线样品分析装置直接在非真空环境下将x光线照射到样品上，空气中的分子会散射和吸收x射线，造成分析结果的不准确。而且现有的x射线样品分析装置的控制光斑大小的狭缝不能精确调整光斑的大小，影响到分析结果的准确性和稳定性。

技术实现思路

1、为解决上述问题，本技术提供一种x射线样品分析装置。

2、该装置包括：

3、外壳10，所述外壳10的正面和背面各设置一个kf40接口7，两个所述kf40接口7在光线投影面上部分或全部重合，x射线能够穿过两个所述kf40接口7；以及

4、部分设置在所述外壳10内的准直机构2，所述准直机构2包括一个保护罩21和位于所述保护罩21内的若干个切光机构22，每个所述切光机构22穿过所述保护罩21连接一个步进电机26；

5、所述切光机构22在对应的所述步进电机26的控制下能够在两个kf40接口7在光线投影面上重合的区域形成x射线通光孔9。

6、进一步的，所述切光机构22包括：

7、与所述步进电机26连接的丝杆222；

8、连接在所述丝杆222上的刀架223；以及

9、连接在所述刀架223上的用以遮挡x射线的刀片225。

10、进一步的，所述丝杆222与所述保护罩21连接处设置密封机构224。

11、进一步的，所述准直机构2为两个，每个所述准直机构2包括两个所述切光机构22，两个所述准直机构2的所述丝杆222的运动方向互相垂直。

12、进一步的，所述刀片225为碳化钨刀片。

13、进一步的，所述两个kf40接口7在光线投影面上全部重合。

14、进一步的，所述外壳10与所述保护罩21一体成型。

15、进一步的，所述保护罩21位于所述外壳10内，所述步进电机26位于所述外壳10外。

16、本技术实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：

17、本技术通过一体成型的密封外壳实现10-5毫巴真空环境，减少散射和吸收，提高x射线的穿透深度和信号强度，从而提高检测的灵敏度和准确性。通过步进电机控制刀片的位置来精准控制x光斑的大小，提高分析结果的准确性和稳定性。

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【技术保护点】

1.一种X射线样品分析装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述X射线样品分析装置，其特征在于，所述切光机构(22)包括：

3.根据权利要求2所述X射线样品分析装置，其特征在于，所述丝杆(222)与所述保护罩(21)连接处设置密封机构(224)。

4.根据权利要求2所述X射线样品分析装置，其特征在于，所述准直机构(2)为两个，每个所述准直机构(2)包括两个所述切光机构(22)，两个所述准直机构(2)的所述丝杆(222)的运动方向互相垂直。

5.根据权利要求3所述X射线样品分析装置，其特征在于，所述刀片(225)为碳化钨刀片。

6.根据权利要求1所述X射线样品分析装置，其特征在于，所述两个KF40接口(7)在光线投影面上全部重合。

7.根据权利要求1所述X射线样品分析装置，其特征在于，所述外壳(10)与所述保护罩(21)一体成型。

8.根据权利要求1所述X射线样品分析装置，其特征在于，所述保护罩(21)位于所述外壳(10)内，所述步进电机(26)位于所述外壳(10)外。

【技术特征摘要】

1.一种x射线样品分析装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述x射线样品分析装置，其特征在于，所述切光机构(22)包括：

3.根据权利要求2所述x射线样品分析装置，其特征在于，所述丝杆(222)与所述保护罩(21)连接处设置密封机构(224)。

4.根据权利要求2所述x射线样品分析装置，其特征在于，所述准直机构(2)为两个，每个所述准直机构(2)包括两个所述切光机构(22)，两个所述准直机构(2)的所述丝杆(222)的运动方向互相垂直。<...

【专利技术属性】
技术研发人员：李奇尧，
申请(专利权)人：安徽国科仪器科技有限公司，
类型：新型
国别省市：