一种小角广角连用X射线散射联合采集系统技术方案

本实用新型专利技术提供一种小角广角连用X射线散射联合采集系统，包括X射线光源以及样品舱，广角探测组件密封设置在样品舱远离X射线光源的一侧；小角探测组件密封设置在广角探测组件远离样品舱的一侧，且小角探测组件的小角探测器能够基于X射线传输方向沿Y轴以及Z轴空间位移；广角探测组件的广角探测器能够基于X射线传输方向沿X轴、Y轴以及Z轴空间位移，并配合小角探测器的空间位移实现广角和\或小角探测。本实用新型专利技术可根据不同样品调节广角探测器和小角探测器的测试位置，以获得广角和小角的联合采集；此外，广角探测器和小角探测器可独立运动，可实现广角信号和小角信号的单独采集，因此本实用新型专利技术可满足不同实验需求。因此本实用新型专利技术可满足不同实验需求。因此本实用新型专利技术可满足不同实验需求。

【技术实现步骤摘要】
一种小角广角连用X射线散射联合采集系统


[0001]本技术涉及X射线散射
，具体涉及一种小角广角连用X射线散射联合采集系统。

技术介绍

[0002]X射线散射分析技术是一种十分有效的材料分析方法，用于测定物质内部散射体的形状、尺寸和取向，在纳米材料、生物大分子、高分子等材料分析中具有广泛的应用。
[0003]现有的利用X射线散射方法研究晶体结构的方案有如下几种：其一，利用一个二维面探测器做广角或小角测试，即通过调整探测器距离样品的距离远近来切换广角或小角测试的模式，然而这种方案无法同时采集并获得广角和小角的数据；其二，就是在靠近样品的位置放置一个小的带倾角的二维面探测器，由于需要避开主要光路且需将对小角信号的影响降至最低，此探测器的位置需固定，因此造成探测面积较小，此外，由于不同的样品广角衍射环的探测数量不同，导致该方案的数据质量不可控；其三，是利用L型探测器来实现小角与广角联合采集的目的，该方案对探测器的要求比较高，只能用特殊的探测器来满足要求，无法满足不同实验需要。

技术实现思路

[0004]为解决上述技术问题，本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种小角广角连用X射线散射联合采集系统，包括X射线光源(10)以及位于X射线光源发射的X射线传输方向上的样品舱(20)，其特征在于，还包括：广角探测组件(30)，所述广角探测组件密封设置在样品舱远离X射线光源的一侧；以及小角探测组件(40)，所述小角探测组件密封设置在广角探测组件远离样品舱的一侧，且小角探测组件的小角探测器(410)能够基于X射线传输方向沿Y轴以及Z轴空间位移；其中，所述广角探测组件的广角探测器(310)能够基于X射线传输方向沿X轴、Y轴以及Z轴空间位移，并配合小角探测器的空间位移实现广角和\或小角探测。2.根据权利要求1所述的小角广角连用X射线散射联合采集系统，其特征在于，当所述广角探测器(310)移动至不至于遮挡小角散射信号传输至小角探测器(410)时，实现广角和小角联合探测。3.根据权利要求2所述的小角广角连用X射线散射联合采集系统，其特征在于，当所述小角探测器(410)移动至靠近样品舱(20)时，实现小角探测器的广角探测。4.根据权利要求1所述的小角广角连用X射线散射联合采集系统，其特征在于，所述样品舱(20)包括设置在舱内的样品台(210)。5.根据权利要求3所述的小角广角连用X射线散射联合采...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗恒，
申请(专利权)人：安徽国科仪器科技有限公司，
类型：新型
国别省市：