一种用于测量产品尺寸均匀性的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于测量装置技术领域，涉及一种用于测量产品尺寸均匀性的装置，包括数显百分表、支杆、底座；数显百分表包括壳体、显示屏、信息处理系统、测量杆；所述支杆固定设于所述底座上，所述壳体设于所述支杆上；所述显示屏设于所述壳体上，所述信息处理系统设于所述壳体内；所述测量杆有多个，平行设于所述壳体上，且每个测量杆均连接有位移传感器，所述位移传感器、显示屏均与信息处理系统连接，所述测量杆与待测产品接触，通过位移传感器获取测量杆的位移数据，并传输给信息处理系统，信息处理系统将位移数据处理后通过显示屏显示。本实用新型专利技术可实现一次测量多个点位的尺寸，并可实现通过信息处理系统计算处理后自动得出平均值、极值。极值。极值。

【技术实现步骤摘要】
一种用于测量产品尺寸均匀性的装置


[0001]本技术属于测量装置
，涉及一种用于测量产品尺寸均匀性的装置。

技术介绍

[0002]百分表常用于形状和位置误差以及小位移的长度测量，改变测头的形状并配以相应的支杆，可制成百分表的变形品种，如厚度百分表、深度百分表和内径百分表等。现有百分表通常是测量产品一个位置的尺寸，通过多次测量不同位置，确定产品尺寸等参数。传统使用百分表测量产品尺寸均匀性存在下述问题：
[0003]1.使用传统百分表测量过程复杂。每次测量前，需要确定待测量位置，然后分别多次相应位置的样品尺寸。
[0004]2.数据处理复杂。需要对宽度数据进行计算，需要计算三个位置的宽度平均值及极差值，极差值除以平均值即为产品尺寸均匀性。

技术实现思路

[0005]有鉴于此，本技术的目的在于解决上述不足，提供一种用于测量产品尺寸均匀性的装置。
[0006]为达到上述目的，本技术提供如下技术方案：
[0007]一种用于测量产品尺寸均匀性的装置，包括数显百分表、支杆、底座；所述数显百分表包括壳体、显示屏、信息处理系统、测量杆；所述支杆固定设于所述底座上，所述壳体设于所述支杆上；所述显示屏设于所述壳体上，所述信息处理系统设于所述壳体内；所述测量杆有多个，平行设于所述壳体上，且每个所述测量杆均连接有位移传感器，所述位移传感器、显示屏均与信息处理系统连接，所述测量杆与待测产品接触，通过位移传感器获取测量杆的位移数据，并传输给信息处理系统，信息处理系统将位移数据处理后通过显示屏显示，通过多个测量杆一次测量同时获得多个位置的尺寸数据，从而实现产品尺寸均匀性的测量。
[0008]进一步，所述测量杆包括夹持杆、标准杆、连接杆；所述夹持杆固定设于所述壳体上，所述连接杆一端设有用于与产品接触的测头，另一端与所述标准杆固定连接；所述标准杆滑动设于所述夹持杆内，并与位移传感器连接。
[0009]进一步，还包括标块；所述标块用于放置在底座上，对数显百分表进行校准。
[0010]进一步，所述壳体上还设有归零按钮，所述归零按钮与控制器连接；所述归零按钮用于数显百分表校准时，对测量杆的位移数据进行归零。
[0011]进一步，所述支杆上设有夹爪，所述夹爪的两端设有C型夹口；所述支杆滑动设于其中一个C型夹口中，所述测量杆设于另一个C型夹口中，两个所述C型夹口上均设有锁紧螺钉，并通过所述锁紧螺钉进行夹紧锁定。
[0012]进一步，所述底座包括第一底座、第二底座；所述支杆固定设于所述第一底座上；所述第二底座通过螺钉与第一底座可拆卸式连接。
[0013]进一步，所述第二底座上还设有卡槽，用于放置待测产品。
[0014]本技术的有益效果在于：本技术采用多个测量杆，可实现一次测量多个点位的尺寸，并可实现通过信息处理系统计算处理后自动得出平均值、极值；可以快捷测出产品尺寸的均匀性，无需多次测量及复杂计算，用于评价产品尺寸均匀性是否满足相关标准要求。
[0015]本技术的其他优点、目标和特征在某种程度上将在随后的说明书中进行阐述，并且在某种程度上，基于对下文的考察研究对本领域技术人员而言将是显而易见的，或者可以从本技术的实践中得到教导。本技术的目标和其他优点可以通过下面的说明书来实现和获得。
附图说明
[0016]为了使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本技术作优选的详细描述，其中：
[0017]图1为本技术中用于测量产品尺寸均匀性的装置整体示意图；
[0018]图2为本技术中数显百分表结构示意图；
[0019]图3为尺寸测量的数据处理流程示意图；
[0020]图4为第一底座示意图；
[0021]图5为第二底座示意图；
[0022]图6为夹爪示意图。
[0023]附图标记：1
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显示屏；2
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夹持杆；3
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标准杆；4
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连接杆；5
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测头；7
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夹爪；8
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第一底座；9
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第二底座；10
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螺钉；11
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锁紧螺钉；12
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锁紧螺钉；13
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螺帽；14
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壳体；15
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支杆；16
‑
归零按钮。
具体实施方式
[0024]以下通过特定的具体实例说明本技术的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本技术的其他优点与功效。本技术还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本技术的精神下进行各种修饰或改变。需要说明的是，以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本技术的基本构想，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0025]其中，附图仅用于示例性说明，表示的仅是示意图，而非实物图，不能理解为对本技术的限制；为了更好地说明本技术的实施例，附图某些部件会有省略、放大或缩小，并不代表实际产品的尺寸；对本领域技术人员来说，附图中某些公知结构及其说明可能省略是可以理解的。
[0026]本技术实施例的附图中相同或相似的标号对应相同或相似的部件；在本技术的描述中，需要理解的是，若有术语“上”、“下”、“左”、“右”、“前”、“后”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此附图中描述位置关系的用语仅用于示例性说明，不能理解为对本技术的限制，对于
本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。
[0027]请参阅图1～6，为一种用于测量产品尺寸均匀性的装置，用于测量拉伸试样的宽度均匀性，其包括数显百分表、支杆15、底座；数显百分表包括壳体14、显示屏1、信息处理系统、测量杆；支杆15固定安装在底座上，壳体14安装在支杆15上；显示屏1安装在壳体14上，信息处理系统安装在壳体14内；测量杆有3个，平行安装在壳体14上，且每个测量杆均连接有位移传感器，位移传感器、显示屏1均与信息处理系统连接，测量杆与待测产品接触，通过位移传感器获取测量杆的位移数据，并传输给信息处理系统，信息处理系统将位移数据处理后通过显示屏1显示，通过多个测量杆一次测量同时获得多个位置的尺寸数据，从而实现产品尺寸均匀性的测量。
[0028]其中，测量杆包括夹持杆2、标准杆3、连接杆4；夹持杆2固定安装在壳体14上，连接杆4一端安装有用于与产品接触的测头5，另一端与标准杆3固定连接；标准杆3滑动安装在夹持杆2内，并与位移传感器连接。
[0029]还包括标块；标块用于放置在底座上，对数显百分表进行校本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于测量产品尺寸均匀性的装置，其特征在于：包括数显百分表、支杆、底座；所述数显百分表包括壳体、显示屏、信息处理系统、测量杆；所述支杆固定设于所述底座上，所述壳体设于所述支杆上；所述显示屏设于所述壳体上，所述信息处理系统设于所述壳体内；所述测量杆有多个，平行设于所述壳体上，且每个所述测量杆均连接有位移传感器，所述位移传感器、显示屏均与信息处理系统连接，所述测量杆与待测产品接触，通过位移传感器获取测量杆的位移数据，并传输给信息处理系统，信息处理系统将位移数据处理后通过显示屏显示。2.根据权利要求1所述的用于测量产品尺寸均匀性的装置，其特征在于：所述测量杆包括夹持杆、标准杆、连接杆；所述夹持杆固定设于所述壳体上，所述连接杆一端设有用于与产品接触的测头，另一端与所述标准杆固定连接；所述标准杆滑动设于所述夹持杆内，并与位移传感器连接。3.根据权利要求1所述的用于测量产品尺寸均匀性的装置，...

【专利技术属性】
技术研发人员：尹竹松，祖立成，冉凡青，白永芳，魏建国，宋子勋，王梓旭，冯嘉雨，
申请(专利权)人：天津忠旺铝业有限公司，
类型：新型
国别省市：