电磁信号测量方法、装置、计算机设备和存储介质制造方法及图纸

本申请涉及一种电磁信号测量方法、装置、计算机设备和存储介质。方法包括：首先通过获取电磁近场探头校准系统的近场探头校准矩阵，该近场探头校准矩阵为基于电磁近场探头校准系统在不同负载的闭合回路中的传输信号的特征生成；然后根据近场探头校准矩阵对被测电子设备的初始电磁信号进行修正，得到被测电子设备的标准电磁信号；最后根据标准电磁信号确定被测电子设备的电磁干扰结果。其中，初始电磁信号为通过与电磁近场探头校准系统连接的电磁场探头对被测电子设备进行测量得到的。采用本方法能够准确分析电子设备的电磁干扰情况。本方法能够准确分析电子设备的电磁干扰情况。本方法能够准确分析电子设备的电磁干扰情况。

【技术实现步骤摘要】
电磁信号测量方法、装置、计算机设备和存储介质


[0001]本申请涉及信号处理领域，特别是涉及一种电磁信号测量方法、装置、计算机设备和存储介质。

技术介绍

[0002]随着电子设备小型化和高频化的趋势，电磁干扰(Electromagnetic Interference，EMI)逐渐成为电子设备性能提高的技术瓶颈。基于此，可以通过测量电子设备上的电磁信号来诊断分析电子设备的电磁干扰问题。
[0003]相关技术中，通常是将近场探头与网络分析仪进行连接构成电磁近场探头校准系统，通过近场探头对电子设备的电磁信号进行测量，然后网络分析仪根据近场探头测量到的电磁信号分析电子设备的电磁干扰情况。
[0004]然而，相关技术中无法准确分析电子设备的电磁干扰情况。

技术实现思路

[0005]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够准确分析电子设备的电磁干扰情况的电磁信号测量方法、装置、计算机设备和存储介质。
[0006]第一方面，本申请提供了一种电磁信号测量方法，应用于电磁近场探头校准系统，该方法包括：
[0007]获取电磁近场探头校准系统的近场探头校准矩阵；近场探头校准矩阵为基于电磁近场探头校准系统在不同负载的闭合回路中的传输信号的特征生成；
[0008]根据近场探头校准矩阵对被测电子设备的初始电磁信号进行修正，得到被测电子设备的标准电磁信号；初始电磁信号为通过与电磁近场探头校准系统连接的电磁场探头对被测电子设备进行测量得到的；
[0009]根据标准电磁信号确定被测电子设备的电磁干扰结果。
[0010]在其中一个实施例中，获取电磁近场探头校准系统的近场探头校准矩阵，包括：
[0011]通过与电磁近场探头校准系统连接的多个校准件，获取多个校准件的散射系数传输参数；各校准件用于电磁近场探头校准系统的标准件误差产生源，且各校准件与电磁近场探头校准系统连接后构成不同负载的闭合回路；
[0012]根据多个校准件的散射系数传输参数，生成近场探头校准矩阵。
[0013]在其中一个实施例中，通过与电磁近场探头校准系统连接的多个校准件，获取校准件的散射系数传输参数，包括：
[0014]通过与电磁近场探头校准系统连接的多个校准件，获取各校准件与电磁近场探头校准系统对应的闭合回路；
[0015]根据各闭合回路的传输特性，获取电磁近场探头校准系统在各闭合回路中的多个传输参数；
[0016]根据电磁近场探头校准系统在各闭合回路中的多个传输参数，获取电磁近场探头
校准系统在各校准件中的散射系数传输参数。
[0017]在其中一个实施例中，若校准件为直通校准件，闭合回路为第一直通回路；
[0018]若校准件为传输线校准件，闭合回路为第二直通回路。
[0019]在其中一个实施例中，多个校准件的散射系数传输参数，生成近场探头校准矩阵，包括：
[0020]获取电磁近场探头校准系统各端口之间的标准阻抗参数矩阵；
[0021]根据多个校准件的散射系数传输参数，获取电磁近场探头校准系统的各端口之间的测试端口参数矩阵；
[0022]根据标准阻抗参数矩阵和测试端口参数矩阵，生成近场探头校准矩阵。
[0023]在其中一个实施例中，根据多个校准件的散射系数传输参数，获取电磁近场探头校准系统的各端口之间的测试端口参数矩阵，包括：
[0024]根据散射系数传输参数计算误差参数矩阵；
[0025]根据误差参数矩阵，获取电磁近场探头校准系统的各端口之间的测试端口参数矩阵。
[0026]在其中一个实施例中，根据标准阻抗参数矩阵和测试端口参数矩阵，生成近场探头校准矩阵，包括：
[0027]将测试端口参数矩阵融合入标准阻抗参数矩阵中得到融合端口参数矩阵；
[0028]对融合端口参数矩阵进行数域转换处理，得到近场探头校准矩阵。
[0029]第二方面，本申请还提供了一种电磁信号测量装置，应用于电磁近场探头校准系统。该装置包括：
[0030]矩阵获取模块，用于获取电磁近场探头校准系统的近场探头校准矩阵；近场探头校准矩阵为基于电磁近场探头校准系统在不同负载的闭合回路中的传输信号的特征生成；
[0031]信号获取模块，用于根据近场探头校准矩阵对被测电子设备的初始电磁信号进行修正，得到被测电子设备的标准电磁信号；初始电磁信号为通过与电磁近场探头校准系统连接的电磁场探头对被测电子设备进行测量得到的；
[0032]结果确定模块，用于根据标准电磁信号确定被测电子设备的电磁干扰结果。
[0033]第三方面，本申请还提供了一种计算机设备。该计算机设备包括存储器和处理器，该存储器存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现上述第一方面中任一项实施例中的方法的步骤。
[0034]第四方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质。该计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面中任一项实施例中的方法的步骤。
[0035]第五方面，本申请还提供了一种计算机程序产品。该计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面中任一项实施例中的方法的步骤。
[0036]本申请实施例提供的电磁信号测量方法、装置、计算机设备和存储介质，首先通过获取电磁近场探头校准系统的近场探头校准矩阵，该近场探头校准矩阵基于电磁近场探头校准系统在不同负载的闭合回路中的传输信号的特征生成；然后根据近场探头校准矩阵对被测电子设备的初始电磁信号进行修正，得到被测电子设备的标准电磁信号；最后根据标准电磁信号确定被测电子设备的电磁干扰结果。其中，初始电磁信号为通过与电磁近场探
头校准系统连接的电磁场探头对被测电子设备进行测量得到的。由于该方法是在初始电磁信号的基础上，结合电磁近场探头校准系统在不同负载的闭合回路所生成的近场探头校准矩阵，获取得到的标准电磁信号。相当于是在对被测电子设备的电磁信号进行测量的过程中，考虑了电磁近场探头校准系统中除了近场探头之外的测量部分对测量结果的影响，并将该影响因素量化为一个近场探头校准矩阵，这样获取的被测电子设备的电磁信号的测量结果更加准确。
附图说明
[0037]图1为一个实施例中电磁信号测量方法的应用环境图；
[0038]图2为一个实施例中电磁信号测量方法的流程示意图；
[0039]图3为一个实施例中近场探头校准矩阵获取方法的流程示意图；
[0040]图4为一个实施例中散射系数传输参数获取方法的流程示意图；
[0041]图5为一个实施例中直通校准件的结构示意图；
[0042]图6为一个实施例中传输校准件的结构示意图；
[0043]图7为另一个实施例中近场探头校准矩阵获取方法的流程示意图；
[0044]图8为一个实施例中探头测量校准模型的结构示意图；
[0045]图9为一个实施例中测试端口参数矩阵获取方法的流程示意图；
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电磁信号测量方法，其特征在于，应用于电磁近场探头校准系统，所述方法包括：获取所述电磁近场探头校准系统的近场探头校准矩阵；所述近场探头校准矩阵为基于所述电磁近场探头校准系统在不同负载的闭合回路中的传输信号的特征生成；根据所述近场探头校准矩阵对被测电子设备的初始电磁信号进行修正，得到所述被测电子设备的标准电磁信号；所述初始电磁信号为通过与所述电磁近场探头校准系统连接的电磁场探头对所述被测电子设备进行测量得到的；根据所述标准电磁信号确定所述被测电子设备的电磁干扰结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述电磁近场探头校准系统的近场探头校准矩阵，包括：通过与所述电磁近场探头校准系统连接的多个校准件，获取多个所述校准件的散射系数传输参数；各所述校准件用于所述电磁近场探头校准系统的标准件误差产生源，且各所述校准件与所述电磁近场探头校准系统连接后构成所述不同负载的闭合回路；根据多个所述校准件的散射系数传输参数，生成所述近场探头校准矩阵。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述通过与所述电磁近场探头校准系统连接的多个校准件，获取所述校准件的散射系数传输参数，包括：通过与所述电磁近场探头校准系统连接的多个校准件，获取各所述校准件与所述电磁近场探头校准系统对应的闭合回路；根据各所述闭合回路的传输特性，获取所述电磁近场探头校准系统在各所述闭合回路中的多个传输参数；根据所述电磁近场探头校准系统在各所述闭合回路中的多个传输参数，获取所述电磁近场探头校准系统在各所述校准件中的散射系数传输参数。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，若所述校准件为直通校准件，所述闭合回路为第一直通回路；若所述校准件为传输线校准件，所述闭合回路为第二直通回路。5.根据权利要求2
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4任一项所述的方法，其特征在于，所述根据多个所述校准件的散射系数传输参数，生成所述近场探头校准矩阵，包...

【专利技术属性】
技术研发人员：邵伟恒，薛姗，
申请(专利权)人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室，
类型：发明
国别省市：