平均辐射温度检测方法、电子设备和存储介质技术

本发明专利技术提供一种平均辐射温度检测方法、电子设备和存储介质，包括以下步骤：根据所获取的各内壁面的尺寸信息和人体到各所述内壁面的距离信息，获取人体对各内壁面的辐射角系数信息；获取各所述内壁面的表面温度信息和各所述内壁面的发射率信息；根据所获取的太阳总辐射强度信息和太阳直射辐射强度信息，获取太阳散射辐射强度信息；根据所述太阳直射辐射强度信息、所述太阳散射辐射强度信息、各所述内壁面的表面温度信息、各所述内壁面的发射率信息和人体对各内壁面的辐射角系数信息，获取平均辐射温度信息。本发明专利技术同时考虑不同内壁面辐射发射率、人体对不同壁面的辐射角系数和太阳辐射影响，能够更精确地指导评价室内人员的热舒适程度。适程度。适程度。

【技术实现步骤摘要】
平均辐射温度检测方法、电子设备和存储介质


[0001]本专利技术涉及室内热舒适检测和控制
，具体涉及一种平均辐射温度 检测方法、电子设备和存储介质。

技术介绍

[0002]随着人们对室内热舒适的要求逐步提高以及辐射式采暖空调系统的普及应 用，改变室内平均辐射温度成为控制室内人员热舒适的重要途径之一，因此精 确检测出平均辐射温度愈发重要。
[0003]平均辐射温度是假定人体在一均匀的黑色内表面的空间内产生的热损失与 在真实的内表面温度不均匀的环境中的热损失相等时的黑色内表面的温度。目 前常用的平均辐射温度检测方法有六种，分别是定义计算法、传统简化法、线 性简化法、模拟简化法、面积加权法和黑球温度计测量法。但在现实生活中， 室内人员接受的辐射还包括透过窗进入室内的太阳辐射，当考虑太阳辐射影响 时，可将投射到人体的直接太阳辐射和散射太阳辐射纳入考虑。在本
目前缺乏同时考虑不同内壁面辐射发射率、人体对不同壁面的辐射角系数和太 阳辐射影响的精确的平均辐射温度检测方法。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种平均辐射温度检测方法、电子设备和存储介质， 同时考虑不同内壁面辐射发射率、人体对不同壁面的辐射角系数和太阳辐射影 响，精确地检测出平均辐射温度。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供一种平均辐射温度检测方法，包括以下步骤：
[0006]根据所获取的各内壁面的尺寸信息和人体到各所述内壁面的距离信息，获 取人体对各内壁面的辐射角系数信息；获取各所述内壁面的表面温度信息和各 所述内壁面的发射率信息；根据所获取的太阳总辐射强度信息和太阳直射辐射 强度信息，获取太阳散射辐射强度信息；根据所述太阳直射辐射强度信息、所 述太阳散射辐射强度信息、各所述内壁面的表面温度信息、各所述内壁面的发 射率信息和人体对各内壁面的辐射角系数信息，获取平均辐射温度信息。
[0007]可选的，所述内壁面包括非透明壁内壁面和\或透明壁内壁面。
[0008]可选的，所述根据所述太阳直射辐射强度信息、所述太阳散射辐射强度信 息、各所述内壁面的表面温度信息、各所述内壁面的发射率信息和人体对各内 壁面的辐射角系数信息，获取平均辐射温度信息，包括：
[0009]按照如下公式计算所述平均辐射温度：
[0010][0011]其中：
[0012]T
MRT
为平均辐射温度；
[0013]X
p,i
为人体相对第i个内壁面的辐射角系数；
[0014]ε
i
为第i个内壁面的长波辐射发射率；
[0015]T
i
为第i个内壁面的表面温度；
[0016]α
irr,diff
为人体对太阳散射辐射的吸收率；
[0017]X
p,j
为人体相对第j个透明壁内壁面的辐射角系数；
[0018]I
diff
为的太阳散射辐射强度；
[0019]ε
p
为人体表面的长波辐射发射率；
[0020]σ为黑体辐射常数；
[0021]α
irr,beam
为人体对太阳直射辐射的吸收率；
[0022]A
p
为人体在太阳直射辐射方向上的投影面积；
[0023]I
beam
为太阳直射辐射强度；
[0024]A
pr
为人体有效辐射面积。
[0025]可选的，所述根据所述太阳直射辐射强度信息、所述太阳散射辐射强度信 息、各所述内壁面的表面温度信息、各所述内壁面的发射率信息和人体对各内 壁面的辐射角系数信息，获取平均辐射温度信息，包括：根据所述太阳直射辐 射强度信息、所述太阳散射辐射强度信息、各所述内壁面的表面温度信息、各 所述内壁面的发射率信息和人体对各内壁面的辐射角系数信息，获取辐射换热 量信息；根据所述辐射换热量信息，获取平均辐射温度信息。
[0026]可选的，所述根据所述辐射换热量信息，获取平均辐射温度信息，包括：
[0027]按照如下公式获取平均辐射温度信息：
[0028][0029]其中：
[0030]ε
p
为人体表面的长波辐射发射率；
[0031]σ为黑体辐射常数；
[0032]A
pr
为人体有效辐射面积；
[0033]T
cl
为人体表面温度；
[0034]T
MRT
为平均辐射温度；
[0035]Q
r
为辐射换热量。
[0036]可选的，所述根据所述太阳直射辐射强度信息、所述太阳散射辐射强度信 息、各所述内壁面的表面温度信息、各所述内壁面的发射率信息和人体对各内 壁面的辐射角系数信息，获取辐射换热量信息，包括：
[0037]按照如下公式获取辐射换热量信息：
[0038][0039]其中：
[0040]T
MRT
为平均辐射温度；
[0041]X
p,i
为人体相对第i个内壁面的辐射角系数；
[0042]ε
i
为第i个内壁面的长波辐射发射率；
[0043]T
i
为第i个内壁面的表面温度；
[0044]α
irr,diff
为人体对太阳散射辐射的吸收率；
[0045]X
p,j
为人体相对第j个透明壁内壁面的辐射角系数；
[0046]I
diff
为太阳散射辐射强度；
[0047]ε
p
为人体表面的长波辐射发射率；
[0048]σ为黑体辐射常数；
[0049]α
irr,beam
为人体对太阳直射辐射的吸收率；
[0050]A
p
为人体在太阳直射辐射方向上的投影面积；
[0051]I
beam
为太阳直射辐射强度；
[0052]A
pr
为人体有效辐射面积；
[0053]T
cl
为人体表面温度；
[0054]α
p
为人体表面的长波辐射吸收率。
[0055]可选的，根据所述内壁面的材料种类，在预先存储的材料物性数据库进行 查询，以获取各所述内壁面的长波辐射发射率信息，所述材料物性数据库内存 储有材料种类与长波辐射发射率之间的对应关系；或者采用红外热像仪对各所 述内壁面进行测量，以获取各所述内壁面的长波辐射发射率。
[0056]可选的，所述根据所获取的太阳总辐射强度信息和太阳直射辐射强度信息， 获取太阳散射辐射强度信息，包括：将室外太阳总辐射强度减去室外太阳直射 辐射强度，以获取所述太阳散射辐射强度信息。
[0057]本专利技术还提供一种电子设备，包括处理器和存储器，所述存储器上存储有 计本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种平均辐射温度检测方法，其特征在于，包括以下步骤：根据所获取的各内壁面的尺寸信息和人体到各所述内壁面的距离信息，获取人体对各内壁面的辐射角系数信息；获取各所述内壁面的表面温度信息和各所述内壁面的发射率信息；根据所获取的太阳总辐射强度信息和太阳直射辐射强度信息，获取太阳散射辐射强度信息；根据所述太阳直射辐射强度信息、所述太阳散射辐射强度信息、各所述内壁面的表面温度信息、各所述内壁面的发射率信息和人体对各内壁面的辐射角系数信息，获取平均辐射温度信息。2.如权利要求1所述的平均辐射温度检测方法，其特征在于，所述内壁面包括非透明壁内壁面和\或透明壁内壁面。3.如权利要求2所述的平均辐射温度检测方法，其特征在于，所述根据所述太阳直射辐射强度信息、所述太阳散射辐射强度信息、各所述内壁面的表面温度信息、各所述内壁面的发射率信息和人体对各内壁面的辐射角系数信息，获取平均辐射温度信息，包括：按照如下公式获取平均辐射温度信息：其中：T
MRT
为平均辐射温度；X
p,i
为人体相对第i个内壁面的辐射角系数；ε
i
为第i个内壁面的长波辐射发射率；T
i
为第i个内壁面的表面温度；α
irr,diff
为人体对太阳散射辐射的吸收率；X
p,j
为人体相对第j个透明壁内壁面的辐射角系数；I
diff
为太阳散射辐射强度；ε
p
为人体表面的长波辐射发射率；σ为黑体辐射常数；α
irr,beam
为人体对太阳直射辐射的吸收率；A
p
为人体在太阳直射辐射方向上的投影面积；I
beam
为太阳直射辐射强度；A
pr
为人体有效辐射面积。4.如权利要求2所述的平均辐射温度检测方法，其特征在于，所述根据所述太阳直射辐射强度信息、所述太阳散射辐射强度信息、各所述内壁面的表面温度信息、各所述内壁面的发射率信息和人体对各内壁面的辐射角系数信息，获取平均辐射温度信息，包括：根据所述太阳直射辐射强度信息、所述太阳散射辐射强度信息、各所述内壁面的表面温度信息、各所述内壁面的发射率信息和人体对各内壁面的辐射角系数信息，获取辐射换热量信息；根据所述辐射换热量信息，获取平均辐射温度信息。
5.如权利要求4所述的平均辐射温度检测方法，其特征在于，所述根据所述辐射换热量信息，获取平均辐射温度信息，包括：按照如下公式获取平均辐射温度信息：其中：ε
p
为人体表面的长波辐射发射率；σ为黑体辐射...

【专利技术属性】
技术研发人员：张小波，瞿燕，张紫薇，焦昕宇，李海峰，
申请(专利权)人：华东建筑设计研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：