一种用于芯片测试的探针控制设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于芯片测试的探针控制设备，包括支架和固定机构，所述固定机构设置于支架一侧的上部，所述固定机构中的连接座设置于支架一侧的上部，所述固定机构还包括有滑槽、滑条、螺栓、连接板、第一弹簧、夹持块和拉杆，所述滑槽开设于连接座的底部；本实用新型专利技术通过固定机构的设置，具备可对探针以及整组探针一同拆装，从而利于后续的单根亦或是整组一同进行更换操作，并且操作简单便捷，提高了工作效率，利用连接座、滑槽、滑条和螺栓的配合方便对将整组探针本体拆装，经取料机构的设置，方便自动将检测完成的后的芯片取下，以便于后续再次放置未检测的芯片，不仅利于操作，而且提高了检测的效率。而且提高了检测的效率。而且提高了检测的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种用于芯片测试的探针控制设备


[0001]本技术涉及芯片测试探针
，具体涉及一种用于芯片测试的探针控制设备。

技术介绍

[0002]在芯片生产后为保证其合格性需要对其进行检测工作，而为了检测出失效或者半失效的芯片，芯片检测环节必不可少，而其在检测时需要通过探针对其进行检测工作，且探针是用于测试PCBA的一种用于芯片测试的探针控制设备测试针，表面镀金，内部有平均寿命3万至10万次的高性能弹簧，
[0003]现有技术中，公告号CN216449623U公开了一种用于芯片测试的探针控制设备用于高精密芯片测试的探针台，涉及高精密芯片测试
，本技术包括底座，底座上表面设有限位杆、升降丝杆、气缸和支撑架，限位杆表面设有升降台，升降丝杆穿透升降台并与升降台螺纹连接，升降丝杆上表面设有电机，电机输出端同轴连接有连杆，连杆与升降丝杆同轴连接。本技术通过气缸，在使用时，启动气缸，从而升降工作台，随后将芯片通过固定槽和支撑块固定，随后启动电机随后带动升降丝杆旋转，从而带动升降台升降，随后移动滑动块将探针移动至需要测试的位置，从而对芯片进行测试，当本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于芯片测试的探针控制设备，包括支架（1）和固定机构（2），其特征在于：所述固定机构（2）设置于支架（1）一侧的上部，所述固定机构（2）中的连接座（21）设置于支架（1）一侧的上部；所述固定机构（2）还包括有滑槽（22）、滑条（23）、螺栓（24）、连接板（25）、第一弹簧（26）、夹持块（27）和拉杆（28），所述滑槽（22）开设于连接座（21）的底部，所述滑条（23）滑动连接于滑槽（22）的内部，所述螺栓（24）螺纹连接于连接座（21）的一侧，所述连接板（25）安装于滑条（23）的底部，所述第一弹簧（26）分别安装于连接板（25）内腔的两侧，所述夹持块（27）安装于第一弹簧（26）的一侧，所述拉杆（28）安装于夹持块（27）的一侧。2.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试的探针控制设备，其特征在于：所述支架（1）一侧的顶部安装有电动滑台（6），所述电动滑台（6）的底部安装于电动推杆（7），所述连接座（21）安装于电动推杆（7）的输出端。3.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试的探针控制设备，其特征在于：所述支架（1）的一端设置有调整机构（3），所述调整机构（3）包括底板（31）、第一电机...

【专利技术属性】
技术研发人员：车志东，潘其好，
申请(专利权)人：南京科兴半导体检测设备有限公司，
类型：新型
国别省市：