【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及探卡,具体为一种探卡固定微调装置。
技术介绍
1、探卡主要用于连接芯片管脚和标准仪器,是晶圆级芯片自动测试的核心部分,在半导体测试中,探卡能够实现对半导体器件的快速、准确和可靠的测试,帮助生产出更高品质的半导体产品,同时,探卡还可以实现自动化测试,从而大大提高测试效率和准确性。
2、在探卡的加工和测试的过程中,通常需要设置固定微调装置确保探卡能够稳定地固定在加工设备上,同时允许对探卡的位置、角度或高度进行细微的调整,以满足加工精度和测试准确性的要求。
3、而现有的应用于探卡固定微调装置大多不具备多方向调整的功能,只能在一个或两个方向上实现有限的调整,而无法在三维空间内自由移动探卡以达到最佳的测试位置,当不能在x轴(水平方向)上进行调整,会使得探卡无法准确地对准测试点,导致测试结果的偏差;同样,无法在y轴(垂直于x轴的另一个水平方向)上进行调整,那么探卡与测试设备之间的对齐度也会受到影响;而z轴(垂直方向)的调整缺失,则导致探卡与芯片表面的接触压力不均匀,进而影响测试的准确性和可靠性,且对探卡固定时大
...【技术保护点】
1.一种探卡固定微调装置,包括:工作台(1),其特征在于:所述工作台(1)的内腔设置有微调结构(2);
2.根据权利要求1所述的一种探卡固定微调装置,其特征在于:所述升降板(28)底部的两侧均固定连接有导向杆(223),所述导向杆(223)的底端贯穿至传动板(22)的底部,所述传动板(22)和固定板(23)的表面均开设有与导向杆(223)相适配的滑孔。
3.根据权利要求1所述的一种探卡固定微调装置,其特征在于:所述螺纹块(211)的两侧均固定连接有定位块(224),所述升降板(28)内腔的两侧均开设有与定位块(224)相适配的定位槽(225)。
4.根...
【技术特征摘要】
1.一种探卡固定微调装置,包括:工作台(1),其特征在于:所述工作台(1)的内腔设置有微调结构(2);
2.根据权利要求1所述的一种探卡固定微调装置,其特征在于:所述升降板(28)底部的两侧均固定连接有导向杆(223),所述导向杆(223)的底端贯穿至传动板(22)的底部,所述传动板(22)和固定板(23)的表面均开设有与导向杆(223)相适配的滑孔。
3.根据权利要求1所述的一种探卡固定微调装置,其特征在于:所述螺纹块(211)的两侧均固定连接有定位块(224),所述升降板(28)内腔的两侧均开设有与定位块(224)相适配的定位槽(225)。
4.根据权利要求1所述的一种探卡固定微调装置,其特征在于:所述横向移动块(213)的底部开设有与升降板(28)相适配的连接槽(226)。
5.根据权利要求1所述的一种探卡固定微调装置,其特征在于:所述横向...
【专利技术属性】
技术研发人员:车志东,郭超峰,
申请(专利权)人:南京科兴半导体检测设备有限公司,
类型:发明
国别省市:
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