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本实用新型公开了一种用于芯片测试的探针控制设备，包括支架和固定机构，所述固定机构设置于支架一侧的上部，所述固定机构中的连接座设置于支架一侧的上部，所述固定机构还包括有滑槽、滑条、螺栓、连接板、第一弹簧、夹持块和拉杆，所述滑槽开设于连接座的底...
该专利属于南京科兴半导体检测设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过南京科兴半导体检测设备有限公司授权不得商用。

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