一种评估绝缘漆成膜率的测试方法、装置和存储介质制造方法及图纸

一种评估绝缘漆成膜率的测试方法、装置和存储介质，包括以下步骤：获取待测试绝缘漆的固含量m；将实际生产过程的标准漆膜和待测试绝缘漆固化后的待测试漆膜进行热失重分析，得到热失重曲线；判断待测试漆膜热失重曲线是否存在目标拐点使得某一曲线段偏离标准漆膜热失重曲线，并获取偏离的曲线段的面积占比k；计算待测试绝缘漆的成膜率C＝m

【技术实现步骤摘要】
一种评估绝缘漆成膜率的测试方法、装置和存储介质


[0001]本专利技术涉及漆包线
，特别是一种评估绝缘漆成膜率的测试方法、装置和存储介质。

技术介绍

[0002]漆包线主要由金属导体和绝缘漆膜两部分组成，而绝缘漆膜是绝缘漆采用薄漆多涂方式后烘烤而形成，工艺定额中通常用绝缘漆固含量表征漆包线成膜率。绝缘漆固含量越高，每吨绝缘漆生产的漆包线越多，成膜率越高。
[0003]在生产过程中，通过统计发现，在生产规格、机台、参数设置相同的条件下，固含量相同但是厂家不同的绝缘漆实际生产漆包线的产量有一定差异，目前，市面上缺少绝缘漆固含量和实际成膜率的测试方案。

技术实现思路

[0004]针对上述不同绝缘漆在固含量相近的情况下缺少有效测试实际成膜率的问题，本专利技术提供一种评估绝缘漆成膜率的测试方法、装置和存储介质，利用热失重(DTG)曲线，分析待测试绝缘漆固含量与实际成膜率的关系，为漆包线绝缘漆膜工艺定额提供有效的评估，优化生成本。
[0005]为实现上述目的，本专利技术选用如下技术方案：一种评估绝缘漆成膜率的测试方法，包括以下步骤：
[0006]获取待测试绝缘漆的固含量m；
[0007]将实际生产过程的标准漆膜和待测试绝缘漆固化后的待测试漆膜进行热失重分析，得到热失重曲线；
[0008]判断待测试漆膜热失重曲线是否存在目标拐点使得某一曲线段偏离标准漆膜热失重曲线，并获取偏离的曲线段的面积占比k；
[0009]计算待测试绝缘漆的成膜率C＝固含量m
×r/>(1
‑
面积占比k)。
[0010]作为本专利技术的进一步改进：所述获取待测试绝缘漆的固含量m包括：
[0011]取1
‑
2g的待测试绝缘漆并将其均匀分布质量为m0的容器中，测量烘烤前的容器和待测试绝缘漆总质量m1；
[0012]将均匀分布有待测绝缘漆的容器在180℃下烘烤1h，测量烘烤后的容器和待测试绝缘漆总质量m2；
[0013]计算固含量m＝(m2‑
m0)/(m1‑
m0)
×
100％。
[0014]作为本专利技术的进一步改进：所述实际生产过程的标准漆膜为在实际生产中已应用的且能够满足实际生产需求的漆膜，所述待测试绝缘漆固化后的待测试漆膜为待测试绝缘漆在180℃下烘烤1h固化形成的漆膜，所述热失重曲线为热重微分曲线。
[0015]作为本专利技术的进一步改进：所述判断待测试漆膜热失重曲线是否存在目标拐点使得某一曲线段偏离标准漆膜热失重曲线包括：
[0016]获取待测试漆膜热失重曲线的多个拐点，并确定多个拐点所在曲线段的曲线趋势走向；
[0017]当某拐点所在曲线段的曲线趋势走向与标准漆膜热失重曲线在相同温度区间上的曲线趋势走向不相同时，该拐点为目标拐点使得某一曲线段偏离标准漆膜热失重曲线。
[0018]作为本专利技术的进一步改进：所述拐点为改变曲线趋势走向的凹凸曲线分界点，所述曲线趋势走向包括以下之一：曲线上升趋势走向、曲线横向趋势走向、曲线下跌趋势走向。
[0019]作为本专利技术的进一步改进：所述获取偏离的曲线段的面积占比k包括：
[0020]确定偏离的曲线段的温度区间；
[0021]获取所述温度区间内曲线段的峰面积s1和待测试漆膜在预设温度内的热失重曲线峰面积s；
[0022]计算偏离的曲线段的面积占比k＝s1/s
×
100％。
[0023]作为本专利技术的进一步改进：所述确定偏离的曲线段的温度区间包括：
[0024]获取偏离的曲线段的始端和尾端分别对应在横向温度轴上两温度值，两温度值之间确定为计算面积占比的温度区间。
[0025]作为本专利技术的进一步改进：在计算偏离的曲线段的面积占比中，所述待测试漆膜在预设温度内的热失重曲线峰面积用于表示待测试绝缘漆的固含量，所述温度区间内曲线段的峰面积用于表示在温度区间内低分子量物质挥发的含量。
[0026]本专利技术还选用如下技术方案：一种评估绝缘漆成膜率的测试装置，包括存储器和处理器，所述处理器通过调用所述存储器中存储的控制程序，以执行如上述的一种评估绝缘漆成膜率的测试方法。
[0027]本专利技术还选用如下技术方案：一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序当被处理器执行时使所述处理器执行如上述的一种评估绝缘漆成膜率的测试方法。
[0028]相较于现有技术，本专利技术具有以下有益效果：
[0029]本专利技术分别测试生产过程中绝缘漆膜与固化后的绝缘漆膜的热失重曲线，通过计算不同失重温度下各组分占比，间接计算绝缘漆实际成膜率，优化生产成本。利用热失重曲线分析绝缘漆固含量与成膜率的关系，为绝缘漆膜工艺定额的计算方法提供了新的测试方向，操作简单，适用性强，可广泛应用于不同种类绝缘漆成膜率的计算。
附图说明
[0030]为了更清楚地说明技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0031]图1为本专利技术的流程示意图。
[0032]图2为实施例的工艺示意图。
[0033]图3为实施例的热失重曲线示意图。
具体实施方式
[0034]为了能够清楚、完整地理解技术方案，现结合实施例和附图对本专利技术进一步说明，显然，所记载的实施例仅仅是本专利技术部分实施例，所属领域的技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0035]应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
[0036]还应当理解，在此本专利技术说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本专利技术。如在本专利技术说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
[0037]还应当进一步理解，在本专利技术说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
[0038]如图1所示，一种评估绝缘漆成膜率的测试方法，包括以下步骤：
[0039]获取待测试绝缘漆的固含量m，包括：
[0040]取1
‑
2g的待测试绝缘漆并将其均匀分布质量为m0的容器中，测量烘烤前的容器和待测试绝缘漆总质量m1；
[0041]将均匀分布有待测绝缘漆的容器在180℃下烘烤1h，测量烘烤后的容器和待测试绝缘漆总质量m2；
[0042]计算固含量m＝(m2‑
m0)/(m1‑
m0)本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种评估绝缘漆成膜率的测试方法，其特征在于包括以下步骤：获取待测试绝缘漆的固含量m；将实际生产过程的标准漆膜和待测试绝缘漆固化后的待测试漆膜进行热失重分析，得到热失重曲线；判断待测试漆膜热失重曲线是否存在目标拐点使得某一曲线段偏离标准漆膜热失重曲线，并获取偏离的曲线段的面积占比k；计算待测试绝缘漆的成膜率C＝固含量m
×
(1
‑
面积占比k)。2.根据权利要求1所述的一种评估绝缘漆成膜率的测试方法，其特征在于，所述获取待测试绝缘漆的固含量m包括：取1
‑
2g的待测试绝缘漆并将其均匀分布质量为m0的容器中，测量烘烤前的容器和待测试绝缘漆总质量m1；将均匀分布有待测绝缘漆的容器在180℃下烘烤1h，测量烘烤后的容器和待测试绝缘漆总质量m2；计算固含量m＝(m2‑
m0)/(m1‑
m0)
×
100％。3.根据权利要求1所述的一种评估绝缘漆成膜率的测试方法，其特征在于，所述实际生产过程的标准漆膜为在实际生产中已应用的且能够满足实际生产需求的漆膜，所述待测试绝缘漆固化后的待测试漆膜为待测试绝缘漆在180℃下烘烤1h固化形成的漆膜，所述热失重曲线为热重微分曲线。4.根据权利要求1所述的一种评估绝缘漆成膜率的测试方法，其特征在于，所述判断待测试漆膜热失重曲线是否存在目标拐点使得某一曲线段偏离标准漆膜热失重曲线包括：获取待测试漆膜热失重曲线的多个拐点，并确定多个拐点所在曲线段的曲线趋势走向；当某拐点所在曲线段的曲线趋势走向与标准漆膜热失重曲线在相同温度区间上的曲线趋势走向不相同时，该拐点为目标拐...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐乐，陈炜，吕文奇，马红杰，张立彦，袁伟刚，
申请(专利权)人：珠海格力电器股份有限公司格力电工马鞍山有限公司格力电工眉山有限公司格力电工南京有限公司，
类型：发明
国别省市：