电路仿真测试方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本申请涉及一种电路仿真测试方法、装置、设备及介质，所述方法包括：创建参数化数据模型，所述参数化数据模型用于根据预设参数，生成预设写入数据；创建测试平台，所述测试平台用于根据所述预设写入数据生成测试结果；创建眼图生成模块，所述眼图生成模块用于根据所述测试结果生成数据眼图；进行仿真测试，将所述预设写入数据输入至所述测试平台并获取测试结果，利用所述眼图生成模块生成数据眼图。本申请能够快速测试出电路性能符合预设标准的半导体产品，提高出厂的半导体产品的良率及可靠性。靠性。靠性。

【技术实现步骤摘要】
电路仿真测试方法、装置、设备及介质


[0001]本申请涉及半导体与集成电路
，具体涉及一种电路仿真测试方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]随着半导体与集成电路技术的快速发展，市场对芯片产品的需求量及性能的要求越来越高。为了提高芯片的数据传输效率，芯片的被测设备中电路的数据传输带宽不断增加，传统的半导体芯片测试方法一般很难适用于测试存储芯片的被测设备中电路的性能。
[0003]在包括半导体存储器的半导体电路的写入操作期间，半导体电路可以根据从存储控制器提供的数据选通时钟来从存储控制器接收写入数据，然后将接收的写入数据存储在半导体存储器之内。半导体电路的性能严重影响着数据接收的可靠性，并且半导体电路中宽带传输的数据之间会相互影响并产生码间干扰，各种因素参杂在一起，可能导致向半导体存储器写入的数据与实际接收的数据存在差异。
[0004]因此，需要提供一种电路仿真测试方法来高效地测试半导体产品中电路的性能，以提高半导体制成品的可靠性。

技术实现思路

[0005]基于此，有必要提供一种能够仿真并测试出半导体产品中电路性能的电路仿真测试方法、装置、设备及介质，并有效地仿真测试出传输的数据受码间干扰等因素的影响。
[0006]本申请的一方面提供一种电路仿真测试方法，包括：
[0007]创建参数化数据模型，所述参数化数据模型用于根据预设参数，生成预设写入数据；
[0008]创建测试平台，所述测试平台用于根据所述预设写入数据生成测试结果；
[0009]创建眼图生成模块，所述眼图生成模块用于根据所述测试结果生成数据眼图；
[0010]进行仿真测试，将所述预设写入数据输入至所述测试平台并获取测试结果，利用所述眼图生成模块生成数据眼图。
[0011]于上述实施例中的电路仿真测试方法中，在进行仿真测试的过程中，基于创建的参数化数据模型根据预设参数生成预设写入数据，然后将获取的预设写入数据输入至创建的测试平台，并获取测试结果，利用眼图生成模块生成数据眼图，可以对比在相同的仿真测试环境及条件下，根据理想状态下无码间干扰的写入数据生成的数据眼图，及基于创建的参数化数据模型根据预设参数生成的预设写入数据生成的数据眼图，来测试半导体产品中电路性能及传输的数据受码间干扰等因素的影响程度，以快速测试出电路性能符合预设标准的半导体产品，提高出厂的半导体产品的良率及可靠性。由于本申请有效地仿真测试出半导体产品中电路传输的数据受码间干扰等因素的影响，对于研究并获取传输数据码间干扰的形成机理及抑制办法提供数据支撑。
[0012]在其中一个实施例中，所述预设写入数据为串行的多位数据串，从而在进行仿真
测试的过程中根据预设写入数据生成数据眼图，以仿真测试出半导体产品中电路传输的数据受码间干扰等因素的影响。
[0013]在其中一个实施例中，所述预设参数包括第一值和第二值；所述预设写入数据被配置为：若前一位数据为低电平时，后一位高电平数据的电压比预设高电压低所述第一值；且若前一位数据为高电平时，后一位低电平数据的电压比预设低电压高所述第二值。
[0014]在其中一个实施例中，所述预设写入数据还被配置为：若前一位数据为低电平时，后一位低电平数据的电压等于预设低电压；且若迁移位数据位为高电平时，后一位高电平数据的电压等于预设高电压。
[0015]在其中一个实施例中，所述预设参数包括第一上升延迟、第二上升延迟和第三值，所述预设写入数据还被配置为：若前一位数据为低电平时，后一位高电平数据的电压从低电平状态上升至比预设高电压低所述第三值所需的时间为所述第一上升延迟，从比预设高电压低所述第三值上升至比预设高电压低所述第一值所需的时间为所述第二上升延迟，其中所述第三值大于所述第一值。
[0016]在其中一个实施例中，所述预设参数还包括第一下降延迟、第二下降延迟和第四值，所述预设写入数据还被配置为：若前一位数据为高电平时，后一位低电平数据的电压从高电平状态下降至比预设低电压高所述第四值所需的时间为所述第一下降延迟，从比预设低电压高所述第四值下降至比预设低电压高所述第二值所需的时间为所述第二下降延迟，其中，所述第四值大于所述第二值。
[0017]在其中一个实施例中，所述根据所述预设写入数据生成测试结果包括：
[0018]所述测试平台接收所述预设写入数据，获取接收结果；
[0019]逐位比较所述预设写入数据和所述接收结果，若均相同，则测试结果为通过，否则，测试结果为不通过。
[0020]在其中一个实施例中，所述获取接收结果包括：响应数据选通时钟而接收所述预设写入数据，并与参考电压进行比较，获取接收结果。
[0021]在其中一个实施例中，所述将所述预设写入数据输入至所述测试平台并获取测试结果还包括：
[0022]扫描所述参考电压，获取各个参考电压；
[0023]扫描所述数据选通时钟对所述预设写入数据的采样点；
[0024]将所述预设写入数据输入至所述测试平台，并获取在各所述参考电压和各所述采样点下的测试结果。
[0025]在其中一个实施例中，所述利用所述眼图生成模块生成数据眼图包括：
[0026]以各个选通到数据时间为第一坐标值，以各个参考电压为第二坐标值，根据各个选通到数据时间和各个参考电压下的测试结果，生成显示所述测试结果的二维的数据眼图。
[0027]在其中一个实施例中，所述扫描所述数据选通时钟对所述预设写入数据的采样点，包括：
[0028]以第一步长扫描选通到数据时间范围，以获取各个选通到数据时间。
[0029]在其中一个实施例中，所述第一步长包括第一子步长和第二子步长；
[0030]所述以第一步长扫描所述选通到数据时间范围，以获取各个选通到数据时间，包
括：
[0031]确定所述选通到数据时间范围至少一侧的边缘选通到数据时间范围；
[0032]设置所述边缘选通到数据时间范围的所述第一子步长；
[0033]获取所述选通到数据时间范围中除所述边缘选通到数据时间范围之外的中间选通到数据时间范围；
[0034]获取所述中间选通到数据时间范围的所述第二子步长；
[0035]以所述第一子步长扫描所述边缘选通到数据时间范围，并以所述第二子步长扫描所述中间选通到数据时间范围，获取各个选通到数据时间；其中，所述第一子步长大于所述第二子步长。
[0036]在其中一个实施例中，所述扫描所述参考电压，获取各个参考电压，包括：
[0037]以第二步长扫描所述参考电压范围，获取各个参考电压。
[0038]在其中一个实施例中，所述第二步长包括第三子步长和第四子步长；
[0039]所述以第二步长扫描所述参考电压范围，获取各个参考电压，包括：
[0040]确定所述接收参接收考电压范围至少一侧的边缘参考电压范围；
[0041]获取所述边缘参考电压范围的所述第三子步长；
[0042]确定所述参考电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路仿真测试方法，其特征在于，包括：创建参数化数据模型，所述参数化数据模型用于根据预设参数，生成预设写入数据；创建测试平台，所述测试平台用于根据所述预设写入数据生成测试结果；创建眼图生成模块，所述眼图生成模块用于根据所述测试结果生成数据眼图；进行仿真测试，将所述预设写入数据输入至所述测试平台并获取测试结果，利用所述眼图生成模块生成数据眼图。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设写入数据为串行的多位数据串。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述预设参数包括第一值和第二值；所述预设写入数据被配置为：若前一位数据为低电平时，后一位高电平数据的电压比预设高电压低所述第一值；且若前一位数据为高电平时，后一位低电平数据的电压比预设低电压高所述第二值。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述预设写入数据还被配置为：若前一位数据为低电平时，后一位低电平数据的电压等于预设低电压；且若迁移位数据位为高电平时，后一位高电平数据的电压等于预设高电压。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述预设参数包括第一上升延迟、第二上升延迟和第三值，所述预设写入数据还被配置为：若前一位数据为低电平时，后一位高电平数据的电压从低电平状态上升至比预设高电压低所述第三值所需的时间为所述第一上升延迟，从比预设高电压低所述第三值上升至比预设高电压低所述第一值所需的时间为所述第二上升延迟，其中，所述第三值大于所述第一值。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述预设参数还包括第一下降延迟、第二下降延迟和第四值，所述预设写入数据还被配置为：若前一位数据为高电平时，后一位低电平数据的电压从高电平状态下降至比预设低电压高所述第四值所需的时间为所述第一下降延迟，从比预设低电压高所述第四值下降至比预设低电压高所述第二值所需的时间为所述第二下降延迟，其中，所述第四值大于所述第二值。7.根据权利要求2
‑
6任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述预设写入数据生成测试结果包括：所述测试平台接收所述预设写入数据，获取接收结果；逐位比较所述预设写入数据和所述接收结果，若均相同，则测试结果为通过，否则，测试结果为不通过。8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述获取接收结果包括：响应数据选通时钟而接收所述预设写入数据，并与参考电压进行比较，获取接收结果。9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述将所述预设写入数据输入至所述测试平台并获取测试结果还包括：扫描所述参考电压，获取各个参考电压；扫描所述数据选通时钟对所述预设写入数据的采样点；将所述预设写入数据输入至所述测试平台，并获取在各所述参考电压和各所述采样点下的测试结果。10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述利用所述眼图生成模块生成数据眼图包括：
以各个选通到数据时间为第一坐标值，以各个参考电压为第二坐标值，根据各个选通到数据时间和各个参考电压下的测试结果，生成显示所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：林峰，赵康，吴增泉，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：