一种可对不同多线束进行测试的低压测试台制造技术

本实用新型专利技术公开了一种可对不同多线束进行测试的低压测试台，包括柜体，所述柜体内开设有腔体一，所述柜体的前侧对称阵列贯穿开设有多个通槽一，所述柜体的前侧对称阵列固定设有多个壳体，所述通槽一均位于相邻的所述壳体之间，所述柜体的前侧对称阵列贯穿开设有多个与所述壳体相匹配的通槽二，所述腔体一内滑动设有固定板，所述固定板的前侧固定设有电路板，所述电路板的前侧对称阵列固定设有多个接口一和接口二，所述接口一与所述接口二阵列交错分布在所述电路板上，本实用新型专利技术可以有效的提高线束测试台的实用性和适用性，同时有效的避免接口处堆积大量的灰尘，进而可以有效的避免因接口处堆积杂物而造成测量数据不准确的现象发生。现象发生。现象发生。

【技术实现步骤摘要】
一种可对不同多线束进行测试的低压测试台


[0001]本技术涉及线束测试装置
，具体来说，涉及一种可对不同多线束进行测试的低压测试台。

技术介绍

[0002]线束为一定负载源组提供服务设备的总体，如中继线路、交换装置、控制系统等，话务理论的基本研究内容是研究话务量、呼损和线束容量三者之间的关系，因此线束是话务理论中一个重要的基本概念，负载源是线束的服务对象，通常是指用户设备；广义地说，上一级设备就是下一级设备的负载源，在电话通信中，负载源也称为话源，线束中所含服务设备数，称为线束容量。
[0003]线束在使用前，需要对其进行检测，从而保证线束处于合格的状态，而现有的线束测试台在对线束进行测试时，大多数线束接口均相同，从而使得测试台只能对一种线束进行检测，进而导致测试台的适用性和实用性均较低，且测试台在不使用时，由于接口处裸露在外，从而导致接口内容易堆积灰尘杂质，进而影响装置之后的测试使用。
[0004]针对相关技术中的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

技术实现思路

[0005]针对相关技术中的问题，本技术提出一种可对不同多线束进行测试的低压测试台，以克服现有相关技术所存在的上述技术问题。
[0006]为此，本技术采用的具体技术方案如下：
[0007]一种可对不同多线束进行测试的低压测试台，包括柜体，所述柜体内开设有腔体一，所述柜体的前侧对称阵列贯穿开设有多个通槽一，所述柜体的前侧对称阵列固定设有多个壳体，所述通槽一均位于相邻的所述壳体之间，所述柜体的前侧对称阵列贯穿开设有多个与所述壳体相匹配的通槽二，所述腔体一内滑动设有固定板，所述固定板的前侧固定设有电路板，所述电路板的前侧对称阵列固定设有多个接口一和接口二，所述接口一与所述接口二阵列交错分布在所述电路板上，所述通槽一与所述通槽二的规格相同，所述接口一、接口二的尺寸均小于所述通槽一的尺寸。
[0008]作为优选，所述腔体一的顶端内壁和底端内壁上均开设有滑槽一，所述滑槽一的后侧内壁上均固定设有电机一，所述电机一的输出端均固定连接有螺杆一，所述螺杆一上均螺纹套设有滑块一，所述滑块一均与所述固定板相邻的一侧固定连接。
[0009]作为优选，所述滑块一均与所述滑槽一滑动连接，所述滑块一上均贯穿固定嵌设有与所述螺杆一相匹配的螺纹座。
[0010]作为优选，所述柜体的一侧开设有腔体二，所述柜体靠近所述腔体二的一侧铰接有与所述腔体二相匹配的门体，所述腔体二内滑动插设有多个与所述通槽一相匹配的堵头。
[0011]作为优选，所述固定板靠近所述电路板的一侧开设有滑槽二，所述滑槽二的底端
内壁上固定设有电机二，所述电机二的输出端固定连接有螺杆二，所述螺杆二上螺纹套设有滑块二，所述滑块二的前侧与所述电路板的后侧固定连接，所述滑块二上贯穿固定嵌设有与所述螺杆二相匹配的螺纹座。
[0012]作为优选，所述柜体的顶端对称阵列固定设有多个螺柱，所述螺柱的上部均螺纹套设有螺纹套，所述螺纹套的顶端连接有控制器，所述螺纹套的顶端均与所述控制器的底端转动连接。
[0013]作为优选，所述电机一与所述控制器的输出端电性连接，所述电路板的输出端与所述控制器的输入端电性连接。
[0014]本技术的有益效果为：通过电机一带动螺杆一进行转动，从而使得螺杆一带动滑块一在滑槽一内向后移动，从而使得滑块一带动固定板向后移动，从而使得接口一和接口二均移动至腔体一内，然后通过电机二带动螺杆二进行转动，从而使得螺杆二带动滑块二在滑槽二内进行滑动，从而通过滑块二可以带动电路板进行上下移动，然后电机一反向转动，从而使得对应的接口一或接口二通过通槽一移动至柜体外，从而可以方便根据线束的规格选择合适的接口进行使用，通过设置腔体二，从而便于储放堵头，通过堵头可以将通槽一堵塞，从而避免灰尘进入腔体一内，通过设置螺柱和螺纹套，将螺纹套旋松后，此时可以方便将控制器取下，进而便于对控制器进行维修，本技术可以有效的提高线束测试台的实用性和适用性，同时可以有效的避免接口处堆积大量的灰尘，进而可以有效的避免因接口处堆积杂物而造成测量数据不准确的现象发生。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0016]图1是根据本技术实施例的一种可对不同多线束进行测试的低压测试台的主视图；
[0017]图2是根据本技术实施例的一种可对不同多线束进行测试的低压测试台的左视图；
[0018]图3是根据本技术实施例的一种可对不同多线束进行测试的低压测试台的右视图；
[0019]图4是根据本技术实施例的一种可对不同多线束进行测试的低压测试台的图2中A处的放大图。
[0020]图中：
[0021]1、柜体；2、腔体一；3、通槽一；4、壳体；5、通槽二；6、固定板；7、电路板；8、接口一；9、接口二；10、滑槽一；11、电机一；12、螺杆一；13、滑块一；14、腔体二；15、门体；16、堵头；17、滑槽二；18、电机二；19、螺杆二；20、滑块二；21、螺柱；22、螺纹套；23、控制器。
具体实施方式
[0022]为进一步说明各实施例，本技术提供有附图，这些附图为本技术揭露内
容的一部分，其主要用以说明实施例，并可配合说明书的相关描述来解释实施例的运作原理，配合参考这些内容，本领域普通技术人员应能理解其他可能的实施方式以及本技术的优点，图中的组件并未按比例绘制，而类似的组件符号通常用来表示类似的组件。
[0023]根据本技术的实施例，提供了一种可对不同多线束进行测试的低压测试台。
[0024]实施例一
[0025]如图1
‑
4所示，根据本技术实施例的一种可对不同多线束进行测试的低压测试台，包括柜体1，所述柜体1内开设有腔体一2，所述柜体1的前侧对称阵列贯穿开设有多个通槽一3，所述柜体1的前侧对称阵列固定设有多个壳体4，所述通槽一3均位于相邻的所述壳体4之间，所述柜体1的前侧对称阵列贯穿开设有多个与所述壳体4相匹配的通槽二5，所述腔体一2内滑动设有固定板6，所述固定板6的前侧固定设有电路板7，所述电路板7的前侧对称阵列固定设有多个接口一8和接口二9，所述接口一8与所述接口二9阵列交错分布在所述电路板7上，所述通槽一3与所述通槽二5的规格相同，所述接口一8、接口二9的尺寸均小于所述通槽一3的尺寸，所述腔体一2的顶端内壁和底端内壁上均开设有滑槽一10，所述滑槽一10的后侧内壁上均固定设有电机一11，所述电机一11的输出端均固定连接有螺杆一12，所述螺杆一12上均螺纹套设有滑块一13，所述滑块一13均与所述固定板6相邻的一侧固定连接，所述滑块一13均与所述滑槽一10滑动连接，所述滑本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可对不同多线束进行测试的低压测试台，其特征在于，包括柜体(1)，所述柜体(1)内开设有腔体一(2)，所述柜体(1)的前侧对称阵列贯穿开设有多个通槽一(3)，所述柜体(1)的前侧对称阵列固定设有多个壳体(4)，所述通槽一(3)均位于相邻的所述壳体(4)之间，所述柜体(1)的前侧对称阵列贯穿开设有多个与所述壳体(4)相匹配的通槽二(5)，所述腔体一(2)内滑动设有固定板(6)，所述固定板(6)的前侧固定设有电路板(7)，所述电路板(7)的前侧对称阵列固定设有多个接口一(8)和接口二(9)，所述接口一(8)与所述接口二(9)阵列交错分布在所述电路板(7)上，所述通槽一(3)与所述通槽二(5)的规格相同，所述接口一(8)、接口二(9)的尺寸均小于所述通槽一(3)的尺寸。2.根据权利要求1所述的一种可对不同多线束进行测试的低压测试台，其特征在于，所述腔体一(2)的顶端内壁和底端内壁上均开设有滑槽一(10)，所述滑槽一(10)的后侧内壁上均固定设有电机一(11)，所述电机一(11)的输出端均固定连接有螺杆一(12)，所述螺杆一(12)上均螺纹套设有滑块一(13)，所述滑块一(13)均与所述固定板(6)相邻的一侧固定连接。3.根据权利要求2所述的一种可对不同多线束进行测试的低压测试台，其特征在于，所述滑块一(13)均与所述滑槽一(10)滑动连接，所述滑块一(13)上均贯穿固定嵌设有与所述螺杆一(12)...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄杰，潘俊秀，黄漂，黄哲，王世涛，
申请(专利权)人：武汉鼎烽达机械设备有限公司，
类型：新型
国别省市：