老化测试设备、电气设备及老化测试方法技术

技术编号:36377259 阅读:59 留言:0更新日期:2023-01-18 09:37
本发明专利技术实施例公开了老化测试设备、电气设备及老化测试方法。老化测试设备包括主控制器和测温单元;所述主控制器的第一端连接所述测温单元,所述主控制器的第二端用于连接玻片处理设备,所述主控制器的第三端用于连接测试终端,所述测温单元用于连接所述玻片处理设备;所述主控制器用于发送老化测试指令至所述玻片处理设备,控制所述玻片处理设备进行老化测试;所述测温单元用于获取所述老化测试过程中所述玻片处理设备的温度数据;所述主控制器还用于获取包括所述温度数据的老化测试数据,并将所述老化测试数据传输至所述测试终端。通过老化测试设备进行老化测试,提高了玻片处理设备的老化检测效率。备的老化检测效率。备的老化检测效率。

【技术实现步骤摘要】
老化测试设备、电气设备及老化测试方法


[0001]本专利技术涉及测试领域,尤其涉及一种老化测试设备、电气设备及老化测试方法。

技术介绍

[0002]玻片处理设备是对细胞学样本、组织学样本及血液样本等病理分析前的进行样本处理的仪器。通常样本处理过程包括:脱蜡、煮片及消化等预处理过程,杂交过程,清洗过程等,通过玻片处理设备进行样本处理实现制片流程的自动化。
[0003]为了保证玻片处理设备能够稳定可靠的运行,玻片处理设备投入使用之前需要进行功能检测和24小时老化检测。玻片处理设备进行老化检测过程中,需要检测人员人工操作玻片处理设备,执行24小时老化检测流程,需要耗费庞大的人力物力,导致玻片处理设备的老化检测效率低下。同时,玻片处理设备的老化检测不添加样本数据,而是进行循环跑水测试,并检测玻片处理设备的进液量和出液量。需要检测人员人工对比进液量和出液量,然而,检测人员人工难以准确对比进液量和出液量之间的差距,导致单次老化测试的可靠性差。需重复进行多次老化测试,进一步导致玻片处理设备的老化检测效率低下。

技术实现思路

[0004]有鉴于此,本专利技术的目的是为了解决上述问题中的至少一种,提供一种老化测试设备、电气设备及老化测试方法,以解决玻片处理设备的老化检测效率低下的问题。
[0005]第一方面,本申请提供一种老化测试设备,包括主控制器和测温单元;
[0006]所述主控制器的第一端连接所述测温单元,所述主控制器的第二端用于连接玻片处理设备,所述主控制器的第三端用于连接测试终端,所述测温单元用于连接所述玻片处理设备;
[0007]所述主控制器用于发送老化测试指令至所述玻片处理设备,控制所述玻片处理设备进行老化测试;
[0008]所述测温单元用于获取所述老化测试过程中所述玻片处理设备的温度数据;
[0009]所述主控制器还用于获取包括所述温度数据的老化测试数据,并将所述老化测试数据传输至所述测试终端。
[0010]结合第一方面,在第一种可能的实现方式中,还包括存储器;
[0011]所述存储器连接所述主控制器的第四端;
[0012]所述存储器用于存储所述主控制器获取到的所述老化测试数据。
[0013]结合第一方面,在第二种可能的实现方式中,还包括电源;
[0014]所述电源连接所述主控制器的第五端;
[0015]所述电源用于对所述主控制器进行供电。
[0016]结合第一方面,在第三种可能的实现方式中,还包括第一转换器和第二转换器;
[0017]所述第一转换器的一端连接所述主控制器的第二端,所述第一转换器的另一端连接所述玻片处理设备;
[0018]所述第二转换器的一端连接所述主控制器的第三端,所述第二转换器的另一端连接所述测试终端。
[0019]结合第一方面,在第四种可能的实现方式中,所述主控制器还用于若所述老化测试数据存在异常,发送警告信息至所述测试终端。
[0020]结合第一方面,在第五种可能的实现方式中,所述控制所述玻片处理设备进行老化测试包括:控制所述玻片处理设备依次进行脱蜡测试、第一洗涤测试、通透测试、第二洗涤测试、缓冲液处理测试、第三洗涤测试、杂交测试、第四洗涤测试及第五洗涤测试。
[0021]结合第一方面,在第六种可能的实现方式中,所述老化测试数据包括:所述玻片处理设备的温度数据、温度维持时间数据、电流数据、进液量数据、出液量数据及脉冲信号数据。
[0022]第二方面,本申请提供一种电气设备,包括玻片处理设备和如第一方面所述的老化测试设备,所述玻片处理设备连接所述老化测试设备。
[0023]第三方面,本申请提供一种老化测试方法,应用于如第一方面所述的老化测试设备,所述老化测试设备连接玻片处理设备,所述方法包括:
[0024]发送老化测试指令至所述玻片处理设备,控制所述玻片处理设备进行老化测试;
[0025]获取所述玻片处理设备的老化测试数据,并将所述老化测试数据发送至测试终端;
[0026]基于所述老化测试数据,生成所述玻片处理设备的老化状态信息。
[0027]结合第一方面,在第一种可能的实现方式中,所述发送老化测试指令至所述玻片处理设备,控制所述玻片处理设备进行老化测试,包括:
[0028]发送老化测试指令至所述玻片处理设备,控制目标液体进入所述玻片处理设备;
[0029]将所述目标液体的温度调节至目标温度,并控制所述玻片处理设备进行目标时长的测试;
[0030]控制所述玻片处理设备排出所述目标液体。
[0031]本申请提供一种老化测试设备,包括主控制器和测温单元;所述主控制器的第一端连接所述测温单元,所述主控制器的第二端用于连接玻片处理设备,所述主控制器的第三端用于连接测试终端,所述测温单元用于连接所述玻片处理设备。通过老化测试设备控制玻片处理设备进行老化测试,并根据得到的老化测试数据,确定玻片处理设备是否稳定可靠。不需要检测人员人工进行老化检测操作,且得到的测试数据可靠性高,提高了玻片处理设备的老化检测效率。
附图说明
[0032]为了更清楚地说明本专利技术的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例,因此不应被看作是对本专利技术保护范围的限定。在各个附图中,类似的构成部分采用类似的编号。
[0033]图1示出了本申请实施例提供的老化测试设备的第一种结构示意图;
[0034]图2示出了本申请实施例提供的老化测试设备的第二种结构示意图;
[0035]图3示出了本专利技术实施例提供的老化测试方法的流程图;
[0036]图4示出了本申请实施例提供的玻片处理设备的处理液路的结构示意图。
Unit,微控制单元),在此不做限定。为便于理解,本申请的实施例汇总,主控制器110为MCU控制器。玻片处理设备200响应接收到的老化测试指令,进行老化测试,并反馈老化测试数据至主控制器110,其中,老化测试数据包括温度数据、电流数据等于玻片处理设备200老化相关的数据,在此不做限定。
[0051]获取到老化测试数据之后,主控制器110将老化测试数据传输至测试终端300,其中,测试终端300是根据实际需求选择的,可以是计算机设备等上位机设备,在此不做限定。检测人员可远程监控或调度测试终端300中存储的老化测试数据,并进行绘图、统计数据等操作。通过老化测试设备100控制玻片处理设备200进行老化测试,并根据得到的老化测试数据,确定玻片处理设备200是否稳定可靠。不需要检测人员人工进行老化检测操作,且得到的测试数据可靠性高,提高了玻片处理设备200的老化检测效率。
[0052]需要理解的是,测温单元120是根据实际需求选择的,在此不做限定。为便于理解,本申请的实施例中可粘结的温度传感器。将测温单元120粘结在玻片处理设备200的半导体制冷片非工作端,提供了可供参考的温度数据。由于老化测试过程中,将控制不同的液体分次进入玻片处理设本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种老化测试设备,其特征在于,包括主控制器和测温单元;所述主控制器的第一端连接所述测温单元,所述主控制器的第二端用于连接玻片处理设备,所述主控制器的第三端用于连接测试终端,所述测温单元用于连接所述玻片处理设备;所述主控制器用于发送老化测试指令至所述玻片处理设备,控制所述玻片处理设备进行老化测试;所述测温单元用于获取所述老化测试过程中所述玻片处理设备的温度数据;所述主控制器还用于获取包括所述温度数据的老化测试数据,并将所述老化测试数据传输至所述测试终端。2.根据权利要求1所述的老化测试设备,其特征在于,还包括存储器;所述存储器连接所述主控制器的第四端;所述存储器用于存储所述主控制器获取到的所述老化测试数据。3.根据权利要求1所述的老化测试设备,其特征在于,还包括电源;所述电源连接所述主控制器的第五端;所述电源用于对所述主控制器进行供电。4.根据权利要求1所述的老化测试设备,其特征在于,还包括第一转换器和第二转换器;所述第一转换器的一端连接所述主控制器的第二端,所述第一转换器的另一端连接所述玻片处理设备;所述第二转换器的一端连接所述主控制器的第三端,所述第二转换器的另一端连接所述测试终端。5.根据权利要求1所述的老化测试设备,其特征在于,所述主控制器还用于若所述老化测试数据存在异常,发送警告信息至所述测试终端。6.根据权利要求1所述的老化测试设备,其...

【专利技术属性】
技术研发人员:肖永军周世红张忠雄戢汇亮魏亮张宇
申请(专利权)人:武汉友芝友医疗科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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