一种MOSFET驱动芯片故障检测系统技术方案

本实用新型专利技术MOSFET驱动芯片检测技术，公开了一种MOSFET驱动芯片故障检测系统，用于多组MOSFET驱动芯片故障检测，其包括与门单元和DSP处理单元；对于每组MOSFET驱动芯片的同一种故障检测信号通过同一个与门单元连接至DSP处理单元的GPIO接口，DSP处理单元对接收的信号进行故障的检测；本实用新型专利技术设计的MOSFET驱动芯片故障检测系统其能够对多路RDY故障和FLT故障进行检测，其检测成本低，占用的GPIO端口少，从而有效地节约了DSP的接口资源。从而有效地节约了DSP的接口资源。从而有效地节约了DSP的接口资源。

【技术实现步骤摘要】
一种MOSFET驱动芯片故障检测系统


[0001]本技术涉MOSFET驱动芯片检测技术，尤其涉及了一种MOSFET驱动芯片故障检测系统。

技术介绍

[0002]MOSFET的门极驱动芯片一般会有两个故障信号，一个是RDY故障即驱动端电压欠压故障，另一个是FLT故障，FLT故障是桥臂直通或者过流情况下芯片检测到Desat引脚电压超过设定阈值而产生的保护，这两个故障都是非常严重的故障，如果不及时进行识别和处理将会使MOSFET损坏。
[0003]一般目前逆变器由6个MOSFET组成，需要6个驱动芯片，每个芯片都有RDY和FLT故障，所以一共有12路故障信号，该信号在正常工作时都是处于高电平状态(芯片内部一般默认上拉)，故障时拉低。逆变器系统中需要采集信号众多比如接触器触点信号、外部控制信号、采样信号等，DSP的引脚资源有限，如果12路故障信号都进行采集的话将会占用12个GPIO口，这样DSP可能就没有多余的GPIO口采集其他信号。
[0004]现有技术中CN202010210689.6，其对于故障检测需要用多个DSP中的GPIO；其成本高；如现有技术中CN202110345130.9；其对于故障检测，需要连接有FPGA芯片，这样对于故障分析其成本高。

技术实现思路

[0005]本技术针对现有技术一般通多个接口得DSP或加FPGA芯片进行信号采集与故障检测，其成本高问题，提供了一种MOSFET驱动芯片故障检测系统。
[0006]为了解决上述技术问题，本技术通过下述技术方案得以解决：<br/>[0007]一种MOSFET驱动芯片故障检测系统，用于多组MOSFET驱动芯片故障检测，其包括与门单元和DSP处理单元；对于每组MOSFET驱动芯片的同一种故障检测信号通过同一个与门单元连接至DSP处理单元的GPIO接口，DSP处理单元对接收的信号进行故障的检测。
[0008]作为优选，还包括多组故障显示单元；故障显示单元与MOSFET驱动芯片一一对应。
[0009]作为优选，故障检测信号包括RDY信号或FLT信号。
[0010]作为优选，故障显示单元包括LED；通过LED显示检测信号的状态；当检测信号正常LED灭；否则LED亮。
[0011]作为优选，故障显示单元还包括转换单元和限流单元；转换单元用于对输入的检测信号进行高低电平的转换，限流单元用户保护故障显示单元。
[0012]本技术由于采用了以上技术方案，具有显著的技术效果：
[0013]本技术设计的MOSFET驱动芯片故障检测系统其能够对多路RDY故障和FLT故障进行检测，其检测成本低，占用的GPIO端口少，从而有效地节约了DSP的接口资源。
附图说明
[0014]图1是本技术电路图。
[0015]图2是本技术的IC1的电路图。
[0016]图3是本技术实施例2流程图。
具体实施方式
[0017]下面结合附图与实施例对本技术作进一步详细描述。
[0018]实施例1
[0019]一种MOSFET驱动芯片故障检测系统，用于多组MOSFET驱动芯片故障检测，其包括与门单元和DSP处理单元；对于每组MOSFET驱动芯片的同一种故障检测信号通过同一个与门单元连接至DSP处理单元的GPIO接口，DSP处理单元对接收的信号进行故障的检测。
[0020]还包括多组故障显示单元；故障显示单元与MOSFET驱动芯片一一对应。
[0021]故障检测信号包括RDY信号或FLT信号。
[0022]故障显示单元包括LED；通过LED显示检测信号的状态；当检测信号正常LED灭；否则LED亮。
[0023]故障显示单元还包括转换单元和限流单元；转换单元用于对输入的检测信号进行高低电平的转换，限流单元用户保护故障显示单元。
[0024]实施例2
[0025]在实施例1基础上，对于故障检测的判断方法为DSP检测到故障，从而对于RDY故障还是FLT故障进行判断；通过LED显示确定具体的哪一颗MOSFET驱动芯片发生故障。
[0026]实施例3
[0027]在上述实施例基础上，本实施例设有6颗MOSFET驱动芯片分别为IC1～IC6；其RDY和FLT与驱动芯片一一对应；IC1对应的输出RDY1和FLT1；其他依次类推；对于故障显示单元其与IC也一一对应，此处，IC1中RDY1对应的故障显示为D1；D1一端连接有限流单元R1；另一端连接有转换单元U1A；对于转换单元U1A为逻辑转换单元；IC1中FLT1对应的故障显示为D2；D1一端连接有限流单元R2；另一端连接有转换单元U1B；对于转换单元U1B为逻辑转换单元。
[0028]对于其他的IC依据附图可知，其具体的连接；将IC1、IC2、IC3、IC4、IC5、IC6的RDY信号通过与门然后输入到DSP只占据DSP一个GPIO口，正常状态下RDY信号都是高电平，经过与门后也是高电平输入到DSP，当其中任意一路出现故障被拉低，都会让与门输出变为低电平，从而DSP能够识别出RDY故障，但是DSP不能识别具体是哪一颗IC出现了RDY故障，因此需要观察LED灯亮的情况来判断是哪一路出现了故障。
[0029]FLT信号正常状态下RDY信号是高电平，经过与门后也是高电平输入到DSP，当其中任意一路出现故障被拉低，都会让与门输出变为低电平，从而DSP能够识别出FLT故障，但是DSP不能识别具体是哪一颗IC出现了FLT故障，因此需要观察LED灯亮的情况来判断是哪一路出现了故障。当检测到出现故障的MOSFET驱动芯片则该MOSFET驱动芯片对应的显示单元故障灯显示。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种MOSFET驱动芯片故障检测系统，用于多组MOSFET驱动芯片故障检测，其特征在于，包括与门单元和DSP处理单元；对于每组MOSFET驱动芯片的同一种故障检测信号通过同一个与门单元连接至DSP处理单元的GPIO接口，DSP处理单元对接收的信号进行故障的检测。2.根据权利要求1所述的一种MOSFET驱动芯片故障检测系统，其特征在于，还包括多组故障显示单元；故障显示单元与MOSFET驱动芯片一一对应。3.根据权利要求1所述的一种MOSFE...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐洋，王华，汪剑华，雷洋，
申请(专利权)人：派恩杰半导体杭州有限公司，
类型：新型
国别省市：