一种半导体用带有限位结构的检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种半导体用带有限位结构的检测装置，包括机体、连接架和检测探头，机体顶部一侧开设有缓冲槽，缓冲槽内槽设有限位座，限位座顶部设有开槽，限位座开槽内壁开设有两个滑槽，另两个滑槽均滑动连接有限位板，本实用新型专利技术具有以下优点：通过夹持结构将半导体晶片就进行夹持，保证了检测过程的稳定性，提升检测的效率；通过在夹持结构的下方设置缓冲结构，保证在探针下压时，晶片能够得到缓冲，防止检测下压的力度过大对其造成损伤。防止检测下压的力度过大对其造成损伤。防止检测下压的力度过大对其造成损伤。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体用带有限位结构的检测装置


[0001]本技术涉及半导体检测
，具体涉及一种半导体用带有限位结构的检测装置。

技术介绍

[0002]半导体主要是用于集成电力路领域的一种用具类型，用于集成电路的内部元器件制造使用；
[0003]半导体生产时需要对其进行电路通路的通电检测，现在的检测装置一般都是将半导体平放在设备的检测探头下方；
[0004]缺少对半导体的限位结构，存在半导体检测时不稳定的情况存在，容易产生检测稳定性较差；
[0005]所以这里设计生产了一种半导体用带有限位结构的检测装置，以便于解决上述问题。

技术实现思路

[0006]本技术提供一种半导体用带有限位结构的检测装置，用于解决上述
技术介绍
中所提出的问题。
[0007]为了解决上述技术问题，本技术提供了如下的技术方案：一种半导体用带有限位结构的检测装置，包括机体、连接架和检测探头，所述机体顶部一侧开设有缓冲槽，所述缓冲槽内槽设有限位座，所述限位座顶部设有开槽，所述限位座开槽内壁开设有两个滑槽，另两个所述滑槽均滑动连接有限位板。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体用带有限位结构的检测装置，包括机体(1)、连接架(2)和检测探头(3)，其特征在于：所述机体(1)顶部一侧开设有缓冲槽(4)，所述缓冲槽(4)内槽设有限位座(5)，所述限位座(5)顶部设有开槽，所述限位座(5)开槽内壁开设有两个滑槽(6)，另两个所述滑槽(6)均滑动连接有限位板(7)。2.如权利要求1所述的一种半导体用带有限位结构的检测装置，其特征在于，所述连接架(2)螺栓连接于机体(1)顶部缓冲槽(4)的一侧，所述连接架(2)相对限位座(5)的一侧滑动设有检测探头(3)。3.如权利要求1所述的一种半导体用带有限位结构的检测装置，其特征在于，所述滑槽(6)内槽焊接连接有滑杆(8)，所述滑杆(8)与限位板(7)贯穿且滑动连...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈富伦，
申请(专利权)人：连云港太平洋润辉光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：