下载一种半导体用带有限位结构的检测装置的技术资料

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本实用新型公开了一种半导体用带有限位结构的检测装置,包括机体、连接架和检测探头,机体顶部一侧开设有缓冲槽,缓冲槽内槽设有限位座,限位座顶部设有开槽,限位座开槽内壁开设有两个滑槽,另两个滑槽均滑动连接有限位板,本实用新型具有以下优点:通过夹持...
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