本申请公开了一种改善OTP烧录一致性的装置，属于摄像头模组工装治具的领域范围，其包括底板、测试盒、转接板、光源板和半封闭盒；所述测试盒固定于底板上，所述转接板安装于所述测试盒远离所述底板的一面，待测模组放置于所述转接板上，所述转接板电连接于所述测试盒，所述半封闭盒位于转接板远离所述测试盒的一侧且滑移于底板，所述光源板位于所述半封闭盒朝向所述测试盒的一面，所述底板上设置有凸块，所述测试盒抵接于所述凸块，转接板用于传输模组影像至电脑进行测试。本申请中，通过底板上凸块、凸棱和限位凸棱实现对测试盒和半封闭盒的位置限定，且半封闭盒与测试盒构成的密闭空间降低了外界杂光的影响，从而使得OTP烧录一致性得到极大提高，最大化提高影像质量，同时标准化了OTP烧录工序，提高生产效率。提高生产效率。提高生产效率。
【技术实现步骤摘要】
一种改善OTP烧录一致性的装置
[0001]本申请涉及摄像头模组工装治具领域，具体为一种改善OTP烧录一致性的装置。
技术介绍
[0002]模组具备完整独立的扫描功能，可以嵌入到手机、电脑等各类设备中，随着物联网的兴起，模组逐渐在各行各业当中得到广泛应用。
[0003]模组通常都会具有相同的制程或逻辑，更改其组成组件可调适其功能或用途，例如摄像头模组在更改制程时进行OTP烧录即可。
[0004]而现有的OTP烧录方法，是由人工将待测模组置于光源前，待测模组在光源前的绝对位置和角度不能做到精确，同时会有外界杂光进入待测模组从而影响OTP烧录的一致性。针对上述中的相关技术，专利技术人认为存在待测模组在光源前的绝对位置和角度不能做到精确，同时会有外界杂光进入待测模组从而影响OTP烧录的一致性的缺陷。
技术实现思路
[0005]为了改善现有技术中待测模组在光源前的绝对位置和角度不能做到精确，同时会有外界杂光进入待测模组从而影响OTP烧录的一致性的问题，本申请提供一种改善OTP烧录一致性的装置。
[0006]本申请提供的一种改善OTP烧录一致性的装置，采用如下的技术方案：
[0007]一种改善OTP烧录一致性的装置，包括底板、测试盒、转接板、光源板和半封闭盒；所述测试盒固定于底板上，所述转接板安装于所述测试盒远离所述底板的一面，待测模组放置于所述转接板上，所述转接板电连接于所述测试盒，所述半封闭盒位于转接板远离所述测试盒的一侧且滑移于底板，所述光源板位于所述半封闭盒朝向所述测试盒的一面，所述底板上设置有凸块，所述测试盒抵接于所述凸块，转接板用于传输模组影像至电脑进行测试。
[0008]通过采用上述技术方案，相比于直接在底板上进行测试盒以及转接板与光源板的安装调试，当模组在光源前的绝对位置和角度不能做到精确的同时会有外界杂光进入模组影响OTP烧录；底板上的凸块能够在测试盒抵接于测试盒时达到对测试盒进行限位的作用，即需要的测试盒安置位置可由凸块的设置位置确定，从而将电连接且固定连接于测试盒的转接板的位置进行限定，实现对待测模组的放置位置的限定；此时再通过滑移半封闭盒将光源板调节至合适角度即可完成OTP烧录。
[0009]优选的，还包括滑移组件，所述滑移组件包括滑移支架和滑移底座，所述滑移底座上开设有滑移槽，所述滑移支架滑移于所述滑移底座的所述滑移槽，所述半封闭盒固定连接于所述滑移支架，所述半封闭盒通过所述滑移组件滑移于所述底板，所述半封闭盒可抵接于所述测试盒构成密闭空间。
[0010]通过采用上述技术方案，半封闭盒通过滑移组件滑移于底板，当安装测试盒时能够滑移至远离测试盒一侧留出足够空间供测试盒进行安装，当测试盒安装完毕进行测试
时，半封闭盒朝向测试盒进行滑移，直到半封闭盒朝向测试盒的一侧抵接于所述测试盒远离半封闭盒一侧，此时半封闭盒与测试盒间构成不透光的密闭空间，从而降低在对模组进行烧录时外接杂光进入影响OTP烧录的可能性。
[0011]优选的，所述滑移支架上开设有固定孔，螺钉穿过所述固定孔可抵接于滑移底座的滑移槽处以使滑移支架固定。
[0012]通过采用上述技术方案，当半封闭盒需要滑移时，将穿过固定孔的螺钉拧松即可；当半封闭盒滑移至与测试盒抵接构成密闭空间时，能够将穿过固定孔的螺钉拧紧以使螺钉抵接于滑移槽，从而对半封闭盒的当前位置进行固定，防止在确定位置后半封闭盒能够继续移动影响密闭空间的不透光性从而影响OTP烧录。
[0013]优选的，所述底板上设有凸棱，所述半封闭盒远离所述测试盒一侧可抵接于所述凸棱。
[0014]通过采用上述技术方案，半封闭盒在滑移过程中能够在滑移槽范围内进行滑动，当底板范围小于滑移槽时存在半封闭盒滑移出底板范围的可能性，而在底板上增设凸棱，在半封闭盒远离测试盒方向进行滑移时可抵接于凸棱，使得凸棱能够阻挡半封闭盒继续朝远离测试盒方向进行滑移，从而防止半封闭盒滑移出底板范围，维持本装置使用时的稳定性。
[0015]优选的，所述底板上还单独设有限位凸棱，所述半封闭盒内壁以及光源板所在平面始终抵接于所述限位凸棱。
[0016]通过采用上述技术方案，半封闭盒在滑移过程中内壁始终能够抵接于限位凸棱，使得限位凸棱能够限制半封闭盒只能沿朝向或远离测试盒的轴线方向进行滑移，无法进行垂直于轴线的滑移操作，进一步确定了半封闭盒与测试盒间的位置，从而再次降低密闭空间进入外接杂光的可能性，同时半封闭盒在滑移过程中光源板所在平面始终抵接于限位凸棱，使得半封闭盒在滑移过程中不会因为自身形成悬臂重心偏移而不稳，提高了OTP烧录的一致性和稳定性。
[0017]优选的，所述光源板固定于所述半封闭盒顶部内侧，所述半封闭盒朝向所述测试盒的一端抵接于所述测试盒远离所述半封闭盒一侧时所述光源板正对于转接板。
[0018]通过采用上述技术方案，光源板固定于半封闭盒顶部能够随半封闭盒一起滑移，从而使得光源板无需额外的结构进行固定安装，且在滑移过程中能够进行一定范围的调节，使得放置于转接板上的模组对应光源板的绝对位置和角度能够更加精确，且在简化操作的同时标准化了OTP的烧录工序，从而在提高模组影像质量的同时进一步提高了OTP烧录的一致性和烧录效率。
[0019]优选的，所述凸块上连接有限位螺钉，所述限位螺钉的螺帽抵紧于所述测试盒。
[0020]通过采用上述技术方案，在凸块抵接于测试盒时限位螺钉的螺帽能够抵紧测试盒远离底板的一侧，从而限制了测试盒朝向或远离底板方向的滑移，降低了测试盒被外力带出的可能性。
[0021]优选的，所述凸块上开有腰型孔，通过螺钉穿过所述腰型孔连接于所述底板，所述凸块可通过腰型槽滑移于所述底板。
[0022]通过采用上述技术方案，凸块上设置有腰型孔，相比于圆形孔，腰型孔多了部分空间，能够在限位螺钉安装于腰型孔后，令凸块进行小幅度的角度调整，从而更加便于凸块移
动并安装到所需位置，提高了对不同规格测试盒的适用范围，达到最佳限位效果。
[0023]优选的，所述底板上根据所述测试盒的规格周向设有所述凸块。
[0024]通过采用上述技术方案，测试盒能够周向抵接于凸块从而限制测试盒的水平移动，达到最佳的限位效果，相比于直接设置限位槽，凸块所占用的空间更少，且也使得抵接于凸块间的测试盒能够从同一侧的凸块间空隙进行拆卸，使得测试盒的更换能够更加便捷。
[0025]综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：
[0026]1.通过底板上的凸棱以及限位凸棱限制了半封闭盒的滑移方向，周向设置的凸块能够精确定位测试盒的安装位置，实现两者的精确定位后能够提高对模组的测试和烧录效果；
[0027]2. 半封闭盒滑移于底板的同时可抵接于测试盒，构成不透光的密闭空间，从而降低外界杂光对烧录的影响；
[0028]3. 半封闭盒能够通过滑移组件滑移于底板并即时固定，从而使得位于半封闭盒顶部内侧的光源板能够移动至最佳位置；
[0029]4. 凸块上设置有腰型孔本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种改善OTP烧录一致性的装置，其特征在于：包括底板(1)、测试盒(2)、转接板(3)、光源板(4)和半封闭盒(5)；所述测试盒(2)固定于底板(1)上，所述转接板(3)安装于所述测试盒(2)远离所述底板(1)的一面，待测模组放置于所述转接板(3)上，所述转接板(3)电连接于所述测试盒(2)，所述半封闭盒(5)位于转接板(3)远离所述测试盒(2)的一侧且滑移于底板(1)，所述光源板(4)位于所述半封闭盒(5)朝向所述测试盒(2)的一面，所述底板(1)上设置有凸块(11)，所述测试盒(2)抵接于所述凸块(11)，转接板(3)用于传输模组影像至电脑进行测试。2.根据权利要求1所述的一种改善OTP烧录一致性的装置，其特征在于：还包括滑移组件(6)，所述滑移组件(6)包括滑移支架(61)和滑移底座(62)，所述滑移底座(62)上开设有滑移槽(621)；所述滑移支架(61)滑移于所述滑移槽(621)，所述半封闭盒(5)固定连接于所述滑移支架(61)，所述半封闭盒(5)通过所述滑移组件(6)滑移于所述底板(1)，所述半封闭盒(5)可抵接于所述测试盒(2)构成密闭空间。3.根据权利要求2所述的一种改善OTP烧录一致性的装置，其特征在于：所述滑移支架(61)上开设有固定孔(611)，螺钉可穿过所述固定孔(611)抵接于所述滑移底座(62)的滑移槽(621...
【专利技术属性】
技术研发人员：付金姣，
申请(专利权)人：江西新四季科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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