一种适用于BGA封装微波组件电老练试验工装制造技术

本实用新型专利技术属于电老练技术领域，公开了一种适用于BGA封装微波组件电老练试验工装，包括老化座；老化座包括底座，底座上转动安装有上盖，上盖上安装有压块，上盖的侧面安装有卡扣，底座上设有与卡扣配合的卡槽，底座内设有限位框，限位框的内底部贯穿设有PCR板，底座底部设有PCB板，PCR板与PCB板电性接触。本实用新型专利技术所提供的一种适用于BGA封装微波组件电老练试验工装，采用良好的机械结构设计，以及应用PCR进行导通，成本可控，在BGA封装微波组件大批量生产时，可有效解决电老练试验工装的成本问题。问题。问题。

【技术实现步骤摘要】
一种适用于BGA封装微波组件电老练试验工装


[0001]本技术属于电老练
，具体涉及一种适用于BGA封装微波组件电老练试验工装。

技术介绍

[0002]现有BGA封装微波组件电老练试验工装大多采用金属弹簧探针或金属簧片同BGA封装微波组件底部的锡球引脚相连的方式，这两种方式实现简单、成本较低，但在信号传输及微波组件工作的过程中，金属弹簧探针或金属簧片射频特性较差。

技术实现思路

[0003]本技术旨在至少在一定程度上解决上述技术问题。为此，本技术目的在于提供一种适用于BGA封装微波组件电老练试验工装。
[0004]本技术所采用的技术方案为：
[0005]一种适用于BGA封装微波组件电老练试验工装，包括老化座；老化座包括底座，底座上转动安装有上盖，上盖上安装有压块，上盖的侧面安装有卡扣，底座上设有与卡扣配合的卡槽，底座内设有限位框，限位框的内底部贯穿设有PCR板，底座底部设有PCB板，PCR板与PCB板电性接触。
[0006]优选地，所述压块滑动安装在上盖的一侧，上盖的另一侧上转动设有旋盖，上盖内螺纹转动设有螺柱，螺柱的一端上设有限位柱，旋盖上设有限位孔，限位柱活动安装在限位孔内，螺柱的另一端与压块抵接。
[0007]优选地，所述限位柱圆周分布于螺柱上。
[0008]优选地，所述旋盖的一侧外壁上凹设有避让槽。
[0009]优选地，所述卡扣的中部与上盖转动连接，卡扣的下部与卡槽配合，卡扣的上部和底座之间设有弹簧。
[0010]优选地，还包括金属座，老化座设有多个，多个老化座呈行列排布于金属座上。
[0011]优选地，所述PCR板包括边框，边框内填充有绝缘胶层，绝缘胶层上贯穿设有导电颗粒。
[0012]优选地，所述导电颗粒呈行列排布于绝缘胶层上。
[0013]本技术的有益效果为：
[0014]本技术所提供的一种适用于BGA封装微波组件电老练试验工装，采用良好的机械结构设计，以及应用PCR进行导通，成本可控，在BGA封装微波组件大批量生产时，可有效解决电老练试验工装的成本问题。
附图说明
[0015]图1是本技术适用于BGA封装微波组件电老练试验工装的示意图。
[0016]图2是本技术适用于BGA封装微波组件电老练试验工装的俯视图。
[0017]图3是本技术老化座的示意图。
[0018]图4是本技术老化座的透视图。
[0019]图5是本技术PCR板的示意图。
[0020]图中：100
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老化座；101
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底座；102
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上盖；103
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压块；104
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卡扣；105
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卡槽；106
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限位框；107
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PCR板；108
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PCB板；109
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旋盖；110
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弹簧；111
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避让槽；112
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边框；113
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绝缘胶层；114
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导电颗粒；115
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螺柱；116
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限位柱；200
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金属座。
具体实施方式
[0021]下面详细描述本技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。通常在此处附图中描述和示出的本技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
[0022]在本技术实施例的描述中，需要说明的是，指示方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，或者是本领域技术人员惯常理解的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0023]在本技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。
[0024]下面结合附图和具体实施例对本技术进行进一步的说明。
[0025]如图1至图5所示，本实施例的一种适用于BGA封装微波组件电老练试验工装，包括金属座200和老化座100，多个老化座100呈行列排布于金属座200上，金属座200对外接口采用50pin连接器作为电源及信号的输入及输出接口。
[0026]老化座100包括中空的底座101，底座101上转动安装有上盖102，上盖102上安装有压块103，上盖102的侧面转动安装有卡扣104，底座101上凹设有与卡扣104配合的卡槽105，底座101内设有中空的限位框106，限位框106的内底部贯穿设有一块PCR板107，底座101底部设有一块PCB板108，PCR板107与PCB板108电性接触。
[0027]压块103滑动安装在上盖102的一侧，上盖102的另一侧上转动设有旋盖109，上盖102内螺纹转动设有螺柱115，螺柱115的一端上设有限位柱116，多个限位柱116圆周分布于螺柱115上。旋盖109上设有限位孔，限位孔的直径稍大于限位柱116的直径，限位柱116安装在限位孔内，螺柱115的另一端与压块103抵接。
[0028]微波组件放入限位框106后，微波组件底部放置在PCR板107上，通过卡扣104锁紧上盖102，转动旋盖109的同时，由于限位孔和限位柱116的限位，螺柱115随着转动，同时在螺柱115与上盖102螺纹配合的作用下，螺柱115向下运动，推动压块103抵住微波组件向微波组件施加一个垂直向下的压力，使微波组件通过PCR板107与底部的PCB板108进行良好接
触，然后PCB板108通过50pin连接器连通微波组件所需的电源及信号，使微波组件进行电老化试验。压块103向微波组件施加一个垂直向下的压力，避免了直接采用上盖翻转下压过程中，微波组件受到一个以旋转点为圆心逆时针方向的力，使底部的PCR板受力损坏的情况。
[0029]卡扣104的中部与上盖102转动连接，卡扣104的下部与卡槽105配合，卡扣104的上部和底座101之间设有弹簧110，旋盖109的一侧外壁上凹设有避让槽111。弹簧110为推力弹簧，在弹簧110的推力作用下，可以使得卡扣104的下部保持一个向卡槽105的方向运动的趋势，盖住上盖102后，卡扣104自锁。然后转动旋盖109并驱动压块本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种适用于BGA封装微波组件电老练试验工装，其特征在于：包括老化座(100)；老化座(100)包括底座(101)，底座(101)上转动安装有上盖(102)，上盖(102)上安装有压块(103)，上盖(102)的侧面安装有卡扣(104)，底座(101)上设有与卡扣(104)配合的卡槽(105)，底座(101)内设有限位框(106)，限位框(106)的内底部贯穿设有PCR板(107)，底座(101)底部设有PCB板(108)，PCR板(107)与PCB板(108)电性接触。2.根据权利要求1所述的适用于BGA封装微波组件电老练试验工装，其特征在于：所述压块(103)滑动安装在上盖(102)的一侧，上盖(102)的另一侧上转动设有旋盖(109)，上盖(102)内螺纹转动设有螺柱(115)，螺柱(115)的一端上设有限位柱(116)，旋盖(109)上设有限位孔，限位柱(116)活动安装在限位孔内，螺柱(115)的另一端与压块(103)抵接。3.根据权利要求2所述的适用于BGA封装微波组件电老练试验工装，其特征在于：所述限位...

【专利技术属性】
技术研发人员：苟于华，陈圳，邱永峰，
申请(专利权)人：成都宇熙电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：