相关二次采样电路和包含该电路的CMOS图象传感器制造技术

技术编号:3612213 阅读:174 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
公开了相关二次采样电路和包含该电路的CMOS图象传感器。相关二次采样电路减少由复位操作产生的基准电压一侧节点电位的偏移。复位信号RST转为“H”,然后转为“L”。于是光敏二极管开始基于光强的集成,之后将该被检测信号传送到CDS电路。CDS电路中的SW1和采样连接开关置为接通,以便依据集成时间将被检测信号在C1和C2上累积为电荷。确定的时间周期结束后,SW1和采样连接开关置为断开,以便保持采样的被检测信号。接着,RST再次转为“H”,SW1置为接通。然后,RST转为“L”,SW1置为断开。于是C1采样并保持复位噪声。从而只有信号分量被从被检测信号中提取出来。之后,输出连接开关SW3和读取连接开关置为接通,以便把依据包含在被检测信号中的信号分量的输出电压信号传送到输出总线。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
处理象素部件的输出信号的相关二次采样电路,在所述象素部件中固态图象传感器件以矩阵形式排列,所述相关二次采样电路包括: 第一电容器,用于采样并保持对应于复位象素部件所产生的噪声的复位电平信号; 第二电容器,用于采样并保持通过象素部件的光电转换获得的被检测信号; 控制预定电源和第二电容器之间的连接的采样连接开关,所述预定电源产生预定电位以便以该预定电位为基准对被检测信号进行采样;以及 读取连接开关,用于控制对输出信号的读取,所述输出信号基于从第二电容器和第一电容器中采样并保持的电荷获得的被检测信号和复位电平信号之间的差。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:国分政利
申请(专利权)人:富士通株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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