电芯对齐度检测方法、控制器、检测系统以及存储介质技术方案

本发明专利技术实施例提供了一种电芯对齐度检测方法、控制器、检测系统以及存储介质，其中电芯对齐度检测方法包括：获取第一电芯图像；将第一电芯图像输入至第一训练模型中进行检测处理得到感兴趣区域；根据感兴趣区域与第一电芯图像得到第二电芯图像和第二极片末端位置信息；将第二电芯图像输入至第二训练模型中进行分离处理得到第三电芯图像和第一极片末端位置信息；对第三电芯图像进行图像提取分析处理得到错位量；根据第二极片、第一极片末端位置信息以及错位量得到电芯对齐度。在本实施例的技术方案中，通过第一训练模型和第二训练模型对第一电芯图像进行处理，能够精确得到位置信息和错位量，能够有效提高电芯对齐度检测的准确性。确性。确性。

【技术实现步骤摘要】
电芯对齐度检测方法、控制器、检测系统以及存储介质


[0001]本专利技术涉及但不限于自动化领域，尤其涉及一种电芯对齐度检测方法、控制器、检测系统以及存储介质。

技术介绍

[0002]目前，在电芯生产线上，需要对电芯进行极片对齐度检测，现有技术一般采用x
‑
ray检测设备对电芯进行无损检测，其虽然能够实现非破坏性检测，但是，此检测方法无法精确定位正极片和负极片的位置，从而造成电芯的电芯对齐度检测不准确的问题。

技术实现思路

[0003]以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。
[0004]本专利技术实施例的主要目的在于提出一种电芯对齐度检测方法、控制器、检测系统以及存储介质，能够有效提高电芯对齐度检测的准确性。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供了一种电芯对齐度检测方法，包括：
[0006]获取第一电芯图像，所述第一电芯图像为第一极片和第二极片交替层叠设置的电芯图像；
[0007]将所述第一电芯图像输入至第一训练模型中进行检测处理，得到感兴趣区域，所述感兴趣区域为所述第一极片相对于所述第二极片的差异部分所组成的区域；
[0008]根据所述感兴趣区域与所述第一电芯图像得到第二电芯图像和第二极片末端位置信息；
[0009]将所述第二电芯图像输入至第二训练模型中进行分离处理，得到第三电芯图像，并根据所述第三电芯图像与所述第一电芯图像得到第一极片末端位置信息；
[0010]对所述第三电芯图像进行图像提取分析处理，得到所述第一极片和相邻的所述第二极片之间的错位量；
[0011]根据所述第二极片末端位置信息、所述第一极片末端位置信息以及所述错位量得到电芯对齐度。
[0012]在一实施例中，所述对所述第三电芯图像进行图像提取分析处理，得到所述第一极片和相邻的所述第二极片之间的错位量，包括：
[0013]对所述第三电芯图像进行图像提取处理，得到所述第三电芯图像中每个第一极片的外接矩形；
[0014]根据所述外接矩形得到所述第一极片和相邻的所述第二极片之间的错位量。
[0015]在一实施例中，所述对所述第三电芯图像进行图像提取处理得到所述第三电芯图像中每个所述第一极片的外接矩形，包括：
[0016]对所述第三电芯图像进行图像轮廓提取处理，得到第三电芯图像中每个所述第一极片的轮廓；
[0017]根据所述第一极片的轮廓生成所述第一极片的轮廓对应的外接矩形。
[0018]在一实施例中，所述根据所述外接矩形得到所述第一极片和相邻的所述第二极片之间的错位量，包括：
[0019]根据所述外接矩形确定目标点位；
[0020]根据所述目标点位对应的位置信息计算得到所述外接矩形对应的所述第一极片和相邻的所述第二极片之间的错位量。
[0021]在一实施例中，所述根据所述外接矩形确定目标点位，包括：
[0022]根据所述外接矩形确定所述外接矩形的顶点位置信息；
[0023]根据所述顶点位置信息确定所述外接矩形的两条目标边的中点位置信息，所述目标边的方向、与所述第一极片和所述第二极片的层叠方向相同；
[0024]将所述中点位置信息确定为目标点位。
[0025]在一实施例中，在所述对所述第三电芯图像进行图像轮廓提取处理，得到第三电芯图像中每个所述第一极片的轮廓之后，所述方法还包括：
[0026]对每个所述第一极片的轮廓进行标号处理，得到所述第一极片的数量；
[0027]根据所述第一极片的数量得到所述第二极片的数量；
[0028]根据第一极片的数量和所述第二极片的数量得到所述第一电芯图像中的电芯的极片总数量。
[0029]在一实施例中，所述根据所述感兴趣区域与所述第一电芯图像得到第二电芯图像，包括：
[0030]将所述感兴趣区域进行滤波处理，得到滤波后的所述感兴趣区域；
[0031]获取滤波后的所述感兴趣区域的最大轮廓，并对所述感兴趣区域进行图像取反处理，得到图像取反后的所述感兴趣区域；
[0032]将图像取反后的所述感兴趣区域与所述第一电芯图像进行按位或运算，得到第二电芯图像。
[0033]在一实施例中，在获取第一电芯图像之前，所述方法包括：
[0034]获取目标检测图像；
[0035]根据目标检测图像进行截取处理，得到检测处理区域；
[0036]对所述检测处理区域进行旋转处理，得到第一电芯图像。
[0037]在一实施例中，在所述获取目标检测图像之前，所述方法包括：
[0038]获取通过图像获取模块向电芯拍摄得到的初始图像集；
[0039]对所述初始图像集的初始图像进行平均灰度判断处理，得到目标检测图像。
[0040]第二方面，本专利技术实施例提供了一种控制器，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面所述的电芯对齐度检测方法。
[0041]第三方面，本专利技术实施例提供了一种检测系统，所述氦检系统包括第二方面所述的控制器。
[0042]第四方面，一种计算机可读存储介质，存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于执行第一方面所述的电芯对齐度检测方法。
[0043]本专利技术有益效果包括：获取第一电芯图像，第一电芯图像为第一极片和第二极片
交替层叠设置的电芯图像；将第一电芯图像输入至第一训练模型中进行检测处理，得到感兴趣区域，感兴趣区域为第一极片相对于第二极片的差异部分所组成的区域；根据感兴趣区域与第一电芯图像得到第二电芯图像和第二极片末端位置信息；将第二电芯图像输入至第二训练模型中进行分离处理，得到第三电芯图像，并根据第三电芯图像与第一电芯图像得到第一极片末端位置信息；对第三电芯图像进行图像提取分析处理，得到第一极片和相邻的第二极片之间的错位量；根据第二极片末端位置信息、第一极片末端位置信息以及错位量得到电芯对齐度。在本实施例的技术方案中，通过第一训练模型和第二训练模型对第一电芯图像进行处理，能够精确定位正极片和负极片的位置，即能够从第一电芯图像中获取到准确的第二极片末端位置信息、第一极片末端位置信息、以及第一极片和第二极片两者的错位量，从而能够有效提高电芯对齐度检测的准确性。
[0044]本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
[0045]图1是本专利技术一个实施例提供的用于执行电芯对齐度检测方法的系统架构平台；
[0046]图2是本专利技术一个实施例提供的电芯对齐度检测方法的流程图；
[0047]图3是本专利技术另一个实施例提供的电芯对齐度检测方法的流程图；
[0048]图4是本专利技术另一个实施例提供的电芯对齐度检测方法的流程图；
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电芯对齐度检测方法，其特征在于，包括：获取第一电芯图像，所述第一电芯图像为第一极片和第二极片交替层叠设置的电芯图像；将所述第一电芯图像输入至第一训练模型中进行检测处理，得到感兴趣区域，所述感兴趣区域为所述第一极片相对于所述第二极片的差异部分所组成的区域；根据所述感兴趣区域与所述第一电芯图像得到第二电芯图像和第二极片末端位置信息；将所述第二电芯图像输入至第二训练模型中进行分离处理，得到第三电芯图像，并根据所述第三电芯图像与所述第一电芯图像得到第一极片末端位置信息；对所述第三电芯图像进行图像提取分析处理，得到所述第一极片和相邻的所述第二极片之间的错位量；根据所述第二极片末端位置信息、所述第一极片末端位置信息以及所述错位量得到电芯对齐度。2.根据权利要求1所述的电芯对齐度检测方法，其特征在于，所述对所述第三电芯图像进行图像提取分析处理，得到所述第一极片和相邻的所述第二极片之间的错位量，包括：对所述第三电芯图像进行图像提取处理，得到所述第三电芯图像中每个第一极片的外接矩形；根据所述外接矩形得到所述第一极片和相邻的所述第二极片之间的错位量。3.根据权利要求2所述的电芯对齐度检测方法，其特征在于，所述对所述第三电芯图像进行图像提取处理得到所述第三电芯图像中每个所述第一极片的外接矩形，包括：对所述第三电芯图像进行图像轮廓提取处理，得到第三电芯图像中每个所述第一极片的轮廓；根据所述第一极片的轮廓生成所述第一极片的轮廓对应的外接矩形。4.根据权利要求3所述的电芯对齐度检测方法，其特征在于，所述根据所述外接矩形得到所述第一极片和相邻的所述第二极片之间的错位量，包括：根据所述外接矩形确定目标点位；根据所述目标点位对应的位置信息计算得到所述外接矩形对应的所述第一极片和相邻的所述第二极片之间的错位量。5.根据权利要求4所述的电芯对齐度检测方法，其特征在于，所述根据所述外接矩形确定目标点位，包括：根据所述外接矩形确定所述外接矩形的顶点位置信息；根据所述顶点位置信...

【专利技术属性】
技术研发人员：ꢀ七四专利代理机构，
申请(专利权)人：广东利元亨智能装备股份有限公司，
类型：发明
国别省市：