本发明专利技术是一种用于光学系统的像质检测装置、方法、设备以及介质。本发明专利技术涉及红外跟踪和信标光指向调节技术领域，本发明专利技术通过导轨移动两个转台相对位置，到达指定信标光测试间距要求后，对目标进行指向，发现目标后两个转台红外探测器分别对其跟踪，跟踪稳定后对目标发射检测信标光。信标发射组件光束通过四块库德镜穿过转台射出，光纤不随转台运动，可以有效解决光纤线随转台长时间转动对光纤带来的损坏以及多光轴准度的技术问题。两个跟踪转台间距可连续移动，可增加检测指标的同时，降低成本。降低成本。降低成本。
【技术实现步骤摘要】
一种用于光学系统的像质检测装置、方法、设备以及介质
[0001]本专利技术涉及红外跟踪和信标光指向调节
，是一种用于光学系统的像质检测装置、方法、设备以及介质。
技术介绍
[0002]两台可连续移动红外跟踪和信标光指向功能装置为主机提供具有最远间距2米和平行度优于0.3
°
的信标光，装置主要完成机载条件下对目标的捕获和稳定跟瞄，对目标成功跟踪后，发射主动指向的信标光。
[0003]方案需满足全天候条件下的跟踪，装置需具有红外跟踪功能，现有技术方案红外跟踪和信标光的发射分开放置，多信标光发射时无法规避红外跟踪与信标光发射之间的标定误差较大，且各个信标光发射单元距离固定不能连续调整间距，检测指标受限。
技术实现思路
[0004]针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本专利技术为了解决现有技术方案无法提高红外跟踪和信标光发射之间装调误差和多信标光发射间距无法调整导致检测指标受限的问题，通过导轨移动两个转台相对位置，到达指定信标光测试间距要求后，对目标进行指向，发现目标后两个转台红外探测器分别对其跟踪，跟踪稳定后对目标发射检测信标光。
[0005]需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
[0006]本专利技术提供了一种用于光学系统的像质检测装置、方法、设备以及介质，本专利技术提供了以下技术方案：
[0007]一种用于光学系统的像质检测装置，所述装置包括：第一跟踪转台、第二跟踪转台、安装框架、减振器和导轨；
[0008]所述第一跟踪转台和第二跟踪转台安装在导轨上，沿着导轨进行直线运动，安装框架下端与导轨相连接，减振器下端与安装框架的上端相连，减振器上端与飞机连接；第一和第二跟踪转台单元中的红外探测组件发现目标后，分别对目标进行跟踪。
[0009]优选地，第一跟踪转台包括：红外探测器组件、四块库德镜、和球形转台；
[0010]红外探测器组件对目标设备进行判读，随后将判读信息发送给球形转台，球形转台带动红外探测器组件姿态变化完成对目标的实时跟踪；光束经过球形转台孔位进入，经四块库德镜的反射。
[0011]优选地，第一跟踪转台还包括信标光发射单元，信标光发射单元包括：光纤和光学准直组件，光纤发射光，经过准直镜组件形成具有一定束散角的信标光，通过转台轴孔进入
转台内部，经过四块库德镜的反射，信标光从转台中射出，通过红外探测器组件跟踪反馈调整球形转台改变光线出射的方向。
[0012]优选地，四块库德镜的入射光均成45
°
，在三维空间呈正交关系，信标发射组件发光，光线通过四块库德镜穿过球形转台并随着转台方位轴和俯仰轴的旋转完成信标光发射。
[0013]优选地，第一跟踪转台与第二跟踪转台结构相同。
[0014]优选地，第一跟踪转台与第二跟踪转台的距离大于2m。
[0015]一种用于光学系统的像质检测方法，包括以下步骤：
[0016]步骤1：根据红外探测器组件对目标设备进行判读，随后将信息发送给球形转台，球形转台带动红外探测器组件姿态变化完成对目标的实时跟踪；
[0017]步骤2：光束经过球形转台孔位进入，经四块库德镜的反射，信标光穿过球形转台完成信标光发射；
[0018]步骤3：光束经过球形转台孔位进入，通过转台轴孔进入转台内部，经过四块库德镜的反射，信标光从转台中射出，通过红外探测器组件跟踪反馈调整球形转台改变光线出射的方向。
[0019]优选地，当跟踪转台发现主机后，对目标进行跟踪并对目标发射信标光，通过导轨移动转台相对位置，到达指定信标光测试间距要求后，对目标进行指向。
[0020]一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行，以用于实现一种用于光学系统的像质检测方法。
[0021]一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现一种用于光学系统的像质检测方法。
[0022]本专利技术具有以下有益效果：
[0023]本专利技术采用具有红外探测功能的跟踪转台实现跟踪，两个跟踪转台可以在导轨上任意移动，通过准直镜组件发射出具有一定束散角的信标光通过转台轴孔进入到转台内部，经过四块库德镜的反射，从转台中射出，解决了多信标光发射时红外跟踪与信标光发射之间的标定误差较大，且各个信标光发射组件距离固定不能连续调整间距，致使检测指标受限。
[0024]信标发射组件光束通过四块库德镜穿过转台射出，光纤不随转台运动，可以有效解决光纤线随转台长时间转动对光纤带来的损坏以及多光轴准度的技术问题。两个跟踪转台间距可连续移动，可增加检测指标的同时，降低成本。
附图说明
[0025]为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0026]图1为本专利技术装置示意图。
[0027]图2为本专利技术跟踪转台组成示意图。
[0028]图3为本专利技术信标发射单元组成示意图。
具体实施方式
[0029]下面将结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0030]在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0031]在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0032]此外，下面所描述的本专利技术不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。
...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于光学系统的像质检测装置，其特征是：所述装置包括：第一跟踪转台、第二跟踪转台、安装框架、减振器和导轨；所述第一跟踪转台和第二跟踪转台安装在导轨上，沿着导轨进行直线运动，安装框架下端与导轨相连接，减振器下端与安装框架的上端相连，减振器上端与飞机连接；第一和第二跟踪转台单元中的红外探测组件发现目标后，分别对目标进行跟踪。2.根据权利要求1所述的一种用于光学系统的像质检测装置，其特征是：第一跟踪转台包括：红外探测器组件、四块库德镜、和球形转台；红外探测器组件对目标设备进行判读，随后将判读信息发送给球形转台，球形转台带动红外探测器组件姿态变化完成对目标的实时跟踪；光束经过球形转台孔位进入，经四块库德镜的反射。3.根据权利要求2所述的一种用于光学系统的像质检测装置，其特征是：第一跟踪转台还包括信标光发射单元，信标光发射单元包括：光纤和光学准直组件，光纤发射光，经过准直镜组件形成具有一定束散角的信标光，通过转台轴孔进入转台内部，经过四块库德镜的反射，信标光从转台中射出，通过红外探测器组件跟踪反馈调整球形转台改变光线出射的方向。4.根据权利要求3所述的一种用于光学系统的像质检测装置，其特征是：四块库德镜的入射光均成45
°
，在三维空间呈正交关系，信标发射组件发光，光线通过四块库德镜穿过球形转台并随着转台方位轴和俯仰轴的旋转完成信标光发射。5.根据权利要求4所述的一种用于光学...
【专利技术属性】
技术研发人员：董科研，张家齐，宋延嵩，高亮，薛佳音，张轶群，
申请(专利权)人：长春理工大学，
类型：发明
国别省市：
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