集成电路验证装置、集成电路验证方法及非临时计算机可读介质制造方法及图纸

本申请涉及一种集成电路验证装置、集成电路验证方法及非临时计算机可读介质。实施方式的集成电路验证装置具备：条件属性信息产生部，根据设计数据文件的代码列表的条件语句，产生具有限制电路动作或输入信号的信息的多个条件属性；排除代码产生部，根据代码列表，产生经证明为未静态覆盖的排除代码、及应用了多个条件属性的第1排除代码列表；以及排除代码比较部，根据排除代码与第1排除代码的差量，产生第2排除代码列表。生第2排除代码列表。生第2排除代码列表。

【技术实现步骤摘要】
集成电路验证装置、集成电路验证方法及非临时计算机可读介质
[0001][相关申请的交叉参考][0002]本申请基于2021年6月22日提出申请的在先日本专利申请第2021
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102948号的优先权而主张优先权利益，通过引用将其全部内容并入本文中。


[0003]本专利技术的实施方式涉及一种集成电路验证装置、集成电路验证方法及非临时计算机可读介质。

技术介绍

[0004]目前，作为逻辑电路的测试涵盖性、即验证准确度的代表性指标，广泛使用代码覆盖率(Code Coverage)。另外，工程师有时会从模拟中收集覆盖率数据库，产生覆盖率报告以分析所检测项目的设计。

技术实现思路

[0005]一实施方式提供一种能够有效率地排除因相同的根本原因导致的未经验证的代码的集成电路验证装置、集成电路验证方法及非临时计算机可读介质。
[0006]实施方式的集成电路验证装置具备：条件属性信息产生部，根据设计数据文件的代码列表的条件语句，产生具有限制电路动作或输入信号的信息的多个条件属性；排除代码产生部，根据代码列表，产生本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路验证装置，具备：条件属性信息产生部，根据设计数据文件的代码列表的条件语句，产生具有限制电路动作或输入信号的信息的多个条件属性；排除代码产生部，根据所述代码列表，产生经证明为未静态覆盖的排除代码、及应用了所述多个条件属性的第1排除代码列表；以及排除代码比较部，根据所述排除代码与所述第1排除代码列表的差量而产生第2排除代码列表；所述排除代码比较部，判断所述第2排除代码列表的未覆盖代码的至少一部分相同的所述多个条件属性中是否存在第1条件属性及第2条件属性，当存在所述第1条件属性及所述第2条件属性时，提取所述第1条件属性及所述第2条件属性中包含最接近输入的信号的条件属性。2.根据权利要求1所述的集成电路验证装置，其中所述排除代码是通过对所述代码列表进行形式验证而产生，所述第1排除代码列表是通过对所述代码列表进行应用了所述多个条件属性的形式验证而产生。3.根据权利要求1所述的集成电路验证装置，其具备未覆盖代码信息提取部，该未覆盖代码信息提取部从包含所述设计数据文件的覆盖率数据库中提取所述设计数据文件的所述代码列表，作为未覆盖代码。4.根据权利要求3所述的集成电路验证装置，其中所述条件属性信息产生部，基于所述未覆盖代码信息提取部所提取的各未覆盖代码的原因的条件，产生所述多个条件属性。5.根据权利要求1所述的集成电路验证装置，其中所述排除代码比较部，将经提取的条件属性以外的所述多个条件属性及所述排除代码删除。6.根据权利要求1所述的集成电路验证装置，其中所述排除代码比较部，列出所述多个条件属性及所述排除代码。7.根据权利要求1所述的集成电路验证装置，其中所述设计数据文件是寄存器传输级的源代码。8.根据权利要求1所述的集成电路验证装置，其中所述寄存器传输级的源代码的电路描述是以逻辑锥为单位来描述的。9.根据权利要求8所述的集成电路验证装置，其中所述排除代码比较部，在所述第1条件属性及所述第2条件属性中包含最接近输入的信号的条件属性的情况下，在所述电路描述中，选择所述逻辑锥的输入侧的电路。10.一种集成电路验证方法，其是
根据设计数据文件的代码列表的条件语句，产生具有限制电路动作或输入信号的信息的多个条件属性，根据所述代码列表，产生经证明为未静态覆盖的排除代码、及应用了所述多个条件属性的第1排除代码列表，根据所述排除代码与所述第1排除代码列表的差量，产生第2排除代码列表，判断是否存在所述第2排除代码列表的未覆盖代码的至少一部分相同的所述多个条件属性，判断所述多个条件属性之中是否存在第1条件属性及第2条件属性，当存在第1条件属性及第2...

【专利技术属性】
技术研发人员：小岛洋平，
申请(专利权)人：铠侠股份有限公司，
类型：发明
国别省市：