一种芯片测试分选设备制造技术

本实用新型专利技术实施例公开了一种芯片测试分选设备，包括：测试单元，包括用于对产品进行外观缺陷检测的外观检测组件以及用于对产品进行按压测试的按压测试组件；上料单元，包括弹匣输送组件和取料组件，所述弹匣输送组件用于输送承载有待测产品的弹匣，所述取料组件被配置为将弹匣中的待测产品取出并搬运至测试单元的外观检测组件下方，以进行外观缺陷检测；下料单元，用于将检测完的产品放入空弹匣内并整合下料；以及标记组件，设置于所述测试单元与下料单元之间，用于对检测后的产品进行打标处理。本芯片测试分选设备，集成性强，自动化程度高，能够提高工作效率以及测试精度，且能够适应不同尺寸产品的测试。适应不同尺寸产品的测试。适应不同尺寸产品的测试。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试分选设备


[0001]本技术涉及指纹芯片测试
更具体地，涉及一种芯片测试分选设备。

技术介绍

[0002]指纹识别技术已在智能手机、考勤机、安全门禁以及口岸通关等领域得到了广泛应用；人指按压指纹芯片的指纹识别区域会产生电信号，电信号传递到控制器才能进行程序识别；指纹芯片性能的可靠性对保证指纹识别装置的性能稳定性十分重要，在使用前需要对指纹芯片的按压力与输出的电流电压信号进行性能测试分选；传统的指纹芯片的性能测试多是依靠人工进行手动检测，存在测试效率和测试精度较低的不足；因此，设计一种测试效率和测试精度较高的指纹芯片测试设备，成为亟待解决的问题。

技术实现思路

[0003]鉴于上述问题，本技术的目的在于提供一种测试效率和测试精度较高的指纹芯片测试分选设备。
[0004]为达到上述目的，本技术采用以下技术方案：
[0005]一种芯片测试分选设备，包括：
[0006]测试单元，包括用于对产品进行外观缺陷检测的外观检测组件以及用于对产品进行按压测试的按压测试组件；
[0007]上料单元，包括弹匣输送组件和取料组件，所述弹匣输送组件用于输送承载有待测产品的弹匣，所述取料组件被配置为将弹匣中的待测产品取出并搬运至测试单元的外观检测组件下方，以进行外观缺陷检测；
[0008]下料单元，用于将检测完的产品放入空弹匣内并整合下料；以及
[0009]标记组件，设置于所述测试单元与下料单元之间，用于对检测后的产品进行打标处理。
[0010]此外，优选地方案是，所述弹匣输送组件上依次设置有缓冲工位、上料工位以及空弹匣挡停工位；
[0011]所述缓冲工位用于上装有待测产品的弹匣；
[0012]所述上料工位用于接取由缓冲工位流转而来的装有待测产品的弹匣并输送至取料组件的取料位置；
[0013]所述空弹匣挡停位用于接取由上料工位流转而来的上料完成后的空弹匣。
[0014]此外，优选地方案是，所述取料组件包括夹取机构和移载机构；
[0015]所述夹取机构与弹匣输送组件对应设置，能够运动至弹匣输送组件处自弹匣内抓取待测产品并放置于移载机构；
[0016]所述移载机构用于承载待测产品，将产品输送至测试单元的外观检测组件下方进行外观缺陷检测。
[0017]此外，优选地方案是，所述按压测试组件包括测试压头、模拟手指以及通过测试驱
动件设置于所述测试压头和模拟手指之间的测试载板；
[0018]所述测试载板包括有接料工位和测试工位，所述测试驱动件能够驱动所述测试载板由接料工位移动至测试工位。
[0019]此外，优选地方案是，所述测试压头和模拟手指分别位于所述测试工位的两侧；
[0020]所述测试压头和模拟手指均能够向靠近彼此的方向运动，以对位于测试工位处测试载板上的待测产品进行测试。
[0021]此外，优选地方案是，所述芯片测试分选设备还包括位于所述取料组件和测试单元之间的移料机构和位于所述移料机构下方的视觉光源组件；
[0022]所述视觉光源组件包括定位补偿相机以及位于所述定位补偿相机和移料机构之间的环形光源，所述视觉光源组件被配置为对移料机构抓取的产品进行位置补偿调整。
[0023]此外，优选地方案是，所述下料单元包括下料输送组件和下料组件；
[0024]所述下料输送组件用于接取测试单元检测完成的产品并将其输送至下料单元进行整合下料；
[0025]所述下料组件用于接取所述下料输送组件传递的已检测产品，并将已检测产品放入弹匣内整合下料。
[0026]此外，优选地方案是，所述标记组件位于下料输送组件的上方，所述标记组件包括依次设置的移料机械手、打标机以及打标相机；
[0027]所述移料机械手用于将测试单元检测完成的产品搬运至下料输送组件；
[0028]所述打标机用于对下料输送组件上测试结果为不良品的产品标记打码；
[0029]所述打标相机用于对打标后的产品拍照。
[0030]此外，优选地方案是，所述下料组件包括空弹匣上料结构、满弹匣下料结构以及位于空弹匣上料结构和满弹匣下料结构之间的下料载板，所述空弹匣上料结构和满弹匣下料结构为平行错层设置；
[0031]所述空弹匣上料结构用于将空弹匣输送至下料载板；
[0032]所述下料载板用于接取由下料输送组件输送的已检测产品于弹匣内；
[0033]所述满弹匣下料结构用于接取下料载板处装有已检测产品的弹匣并进行下料。
[0034]此外，优选地方案是，所述芯片测试分选设备还包括箱体，所述箱体包括上型材框架和下钢框架；
[0035]所述测试单元、上料单元、测试单元以及标记组件位于所述箱体内。
[0036]本技术的有益效果如下：
[0037]针对现有技术中存在的技术问题，本申请实施例提供一种芯片测试分选设备，通过将上料单元、测试单元、下料单元以及标记组件进行合理布局，实现设备的自动上料、自动检测以及自动下料，创造性地设计载板组合件和测试组合件，使得测试压头和模拟手指能够同步对产品进行测试，测试载板设置于测试压头和模拟手指之间，测试压头下压能够接触产品的电性能接触面，同时模拟手指上升，接触产品的模拟手指测试面，能够同时测试产品的电性能以及指纹识别性能。此外，通过弹匣输送组件和取料组件的配合，将产品从弹匣内取出进行自动上料，以及利用下料输送组件和错层设计的下料组件配合将已检测的产品放入弹匣内进行整体下料，提高了芯片测试分选设备的自动化程度，减少了人力占用，提高了工作效率。本芯片测试分选设备集成封装检测、电性能测试、指纹识别测试以及不良品
标记打码等功能，集成性强，自动化程度高，能够有效节省人力，提高工作效率以及测试精度，且能够适应不同尺寸产品的测试。
附图说明
[0038]下面结合附图对本技术的具体实施方式作进一步详细的说明。
[0039]图1示出本技术实施例所提供的芯片测试分选设备的外部结构示意图。
[0040]图2示出本技术实施例所提供的芯片测试分选设备的内部结构示意图。
[0041]图3示出本技术实施例所提供的上料单元的结构示意图。
[0042]图4示出本技术实施例所提供的弹匣输送组件的结构示意图。
[0043]图5示出本技术实施例所提供的取料组件的结构示意图。
[0044]图6示出本技术实施例所提供的外观检测组件的结构示意图。
[0045]图7示出本技术实施例所提供的按压测试组件的机构示意图。
[0046]图8示出本技术实施例所提供的载板组合件的结构示意图。
[0047]图9示出本技术实施例所提供的测试组合件的结构示意图。
[0048]图10示出本技术实施例所提供的移料机构和视觉光源组件的位置关系示意图。
[0049]图11示出本技术实施例所提供的标记组件和下料输送组件本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试分选设备，其特征在于，包括：测试单元，包括用于对产品进行外观缺陷检测的外观检测组件以及用于对产品进行按压测试的按压测试组件；上料单元，包括弹匣输送组件和取料组件，所述弹匣输送组件用于输送承载有待测产品的弹匣，所述取料组件被配置为将弹匣中的待测产品取出并搬运至测试单元的外观检测组件下方，以进行外观缺陷检测；下料单元，用于将检测完的产品放入空弹匣内并整合下料；以及标记组件，设置于所述测试单元与下料单元之间，用于对检测后的产品进行打标处理。2.根据权利要求1所述的芯片测试分选设备，其特征在于，所述弹匣输送组件上依次设置有缓冲工位、上料工位以及空弹匣挡停工位；所述缓冲工位用于上装有待测产品的弹匣；所述上料工位用于接取由缓冲工位流转而来的装有待测产品的弹匣并输送至取料组件的取料位置；所述空弹匣挡停位用于接取由上料工位流转而来的上料完成后的空弹匣。3.根据权利要求1所述的芯片测试分选设备，其特征在于，所述取料组件包括夹取机构和移载机构；所述夹取机构与弹匣输送组件对应设置，能够运动至弹匣输送组件处自弹匣内抓取待测产品并放置于移载机构；所述移载机构用于承载待测产品，将产品输送至测试单元的外观检测组件下方进行外观缺陷检测。4.根据权利要求1所述的芯片测试分选设备，其特征在于，所述按压测试组件包括测试压头、模拟手指以及通过测试驱动件设置于所述测试压头和模拟手指之间的测试载板；所述测试载板包括有接料工位和测试工位，所述测试驱动件能够驱动所述测试载板由接料工位移动至测试工位。5.根据权利要求4所述的芯片测试分选设备，其特征在于，所述测试压头和模拟手指分别位于所述测试工位的两侧；所述测试压头和模拟手指均能够向靠近彼此的方向运动，以对位于测试工位处测试载板上的待...

【专利技术属性】
技术研发人员：邹家宽，薛锋伟，史赛，
申请(专利权)人：苏州华兴源创科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：