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本实用新型实施例公开了一种芯片测试分选设备，包括：测试单元，包括用于对产品进行外观缺陷检测的外观检测组件以及用于对产品进行按压测试的按压测试组件；上料单元，包括弹匣输送组件和取料组件，所述弹匣输送组件用于输送承载有待测产品的弹匣，所述取料组...
该专利属于苏州华兴源创科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州华兴源创科技股份有限公司授权不得商用。

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