瑕疵检测方法、电子设备及存储介质技术

本申请提供一种瑕疵检测方法、电子设备及存储介质，所述方法包括：获取目标图像，并设定所述目标图像的感兴趣区域；确定所述感兴趣区域中的第一目标物件的第一轮廓；基于所述第一轮廓校正所述目标图像；根据相对位置坐标差在所述校正后的目标图像上查找多个第二目标物件对应的第二轮廓；截取所述第一轮廓对应的图像区域以及所述第二轮廓的图像区域，得到待检测图像区域；输入所述待检测图像区域至训练好的自编码器，输出所述目标图像是否为瑕疵图像的判断结果。通过本申请可以快速地得到瑕疵检测结果。测结果。测结果。

【技术实现步骤摘要】
瑕疵检测方法、电子设备及存储介质


[0001]本申请涉及图像检测
，尤其涉及一种瑕疵检测方法、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在精密工件和产品的生产和检验中，对产品表面的瑕疵检测直接关系到精密工件和产品最终质量是否合格。由于该项检测往往涉及的工件品种多，数量大，因此检测过程的自动化已成为相关企业发展的一个迫切需求。目前国内相关大部分企业一般采用切割式方法将所述待测图像切割为多个大小均等的图像块，再将所述图像块输入至瑕疵检测模型中进行瑕疵检测。利用该方法进行瑕疵检测存在瑕疵检测用时长，且准确率不高的问题。

技术实现思路

[0003]鉴于以上内容，有必要提供一种瑕疵检测方法、电子设备及存储介质，能提高图像的瑕疵检测效率。
[0004]本申请提供一种瑕疵检测方法，所述方法包括：获取目标图像，并设定所述目标图像的感兴趣区域；确定所述感兴趣区域中的第一目标物件的第一轮廓；基于所述第一轮廓校正所述目标图像；获取所述第一轮廓与所述感兴趣区域中的多个第二目标物件的相对位置坐标差；根据所述相对位置坐标差在所述校正后的目标本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种瑕疵检测方法，其特征在于，所述瑕疵检测方法包括：获取目标图像，并设定所述目标图像的感兴趣区域；确定所述感兴趣区域中的第一目标物件的第一轮廓；基于所述第一轮廓校正所述目标图像；获取所述第一轮廓与所述感兴趣区域中的多个第二目标物件的相对位置坐标差；根据所述相对位置坐标差在校正后的所述目标图像上查找所述多个第二目标物件对应的多个第二轮廓；截取所述第一轮廓对应的图像区域以及所述第二轮廓对应的图像区域，得到待检测图像区域；输入所述待检测图像区域至训练好的自编码器，并输出所述目标图像是否为瑕疵图像的判断结果。2.根据权利要求1所述的瑕疵检测方法，其特征在于，所述基于所述第一轮廓校正所述目标图像包括：以所述目标图像正向放置时的左下角为圆心O，横向为X轴，纵向为Y轴，建立坐标系XOY；确定所述第一轮廓在所述坐标系XOY上的四个顶点坐标，其中，所述四个顶点坐标包括A1(x1,y1)，A2(x2,y2)，A3(x3,y3)和A4(x4,y4)，其中顶点A1为距离所述X轴最近的顶点，并且顶点A1、顶点A2、顶点A3和顶点A4按照逆时针顺序分布；根据所述四个顶点坐标得到所述第一轮廓的中心坐标；计算所述第一轮廓与所述X轴之间的角度α；以所述中心坐标为旋转中心，以所述角度为旋转角度校正所述目标图像。3.根据权利要求2所述的瑕疵检测方法，其特征在于，所述第一轮廓的中心坐标为4.根据权利要求2所述的瑕疵检测方法，其特征在于，通过以下公式计算所述第一轮廓与所述X轴之间的角度α：5.根据权利要求1所述的瑕疵检测方法，其特征在于，所述输入所述待检测图像区域至训练好的自编码器，输出所述目标图像是否为瑕疵图像的判断结果包括：输入所述待检测图像区...

【专利技术属性】
技术研发人员：卢志德，林子甄，郭锦斌，
申请(专利权)人：鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：