X射线检查装置和辐射探测器制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种具有传感器元件（２１）的阵列（２）的Ｘ射线探测器（１），其中传感器元件的每行（ｉ）通过寻址线被连接至寻址单元（５），以及其中传感器元件的每列（ｊ）通过读出线被连接至读出单元（３）。在读出单元（３）中，对传感器信号进行预处理，例如通过放大器（３１）进行放大。该探测器还包括控制单元（６），该控制单元适于单独地设置用于每列（ｊ）和每行（ｉ）的所述放大器（３）的增益。所述增益的值尤其可以从先验知识、从对象的前一图像、或者从已经读出的行的图像信号中导出。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】
一种辐射探测器（１），包括：－传感器元件（２１）的阵列（２）；－寻址单元（５），用于有选择地对传感器元件（２１）的子组进行寻址；－读出装置（３），用于预处理和读出已经由寻址单元（５）寻址的传感器元件的信号；－ 控制单元（６），其被连接至所述寻址单元（５）和读出装置（３），所述控制单元（６）适于每当由寻址单元（５）对子组进行寻址时，对子组的所有传感器元件（２１）的信号单独地设置预处理参数，其中预处理参数的确定基于不取决于所述信号的信息。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：D沙弗，G罗塞，J韦格特，M奥弗迪克，W卢坦，
申请(专利权)人：皇家飞利浦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]