一种降压电源芯片测试治具、系统、方法、终端及介质技术方案

本发明专利技术涉及一种降压电源芯片测试治具、系统、方法、终端及介质，属于芯片测试技术领域，包括底座、若干个信号测量脚和若干个用于与待测试降压电源芯片上的测试点接触的探针，探针通过底座内的布线连接到对应的信号测量脚的一端，信号测量脚的另一端接触连接到外部的测试终端。本发明专利技术通过探针接触连接到待测试降压电源芯片上的测试点，并通过信号测量脚接触连接到外部的测量终端，避免了在外部的测试终端和待测试降压电源芯片之间焊接测试线，且能够随时将待测试降压电源芯片放置在降压电源芯片承载区进行测试，无需重复焊接测试线，节约测试时间。测试时间。测试时间。

【技术实现步骤摘要】
一种降压电源芯片测试治具、系统、方法、终端及介质


[0001]本专利技术属于芯片测试
，具体涉及一种降压电源芯片测试治具、系统、方法、终端及介质。

技术介绍

[0002]伴随云计算应用的发展，信息化逐渐覆盖到社会的各个领域。人们的日常工作生活越来越多的通过网络来进行交流，网络数据量也在不断增加。对于传统的数据中心机房，为了避免重新建设数据中心的巨大投入，又为了满足不断增加的信息服务的需求，因此，对服务器的需求也越来越大，且服务器的稳定性也越发重要。为了增加服务器的稳定性通常需要搭配相当严谨的测试及测试条件，要使服务器顺利运作需要许多芯片互相的配合，然而供给这些芯片运作的电源方案的稳定性就显得尤为重要，而这些电源方案的主要架构就是降压控制器的降压电源芯片，其目的是将电源供应器输出的12V转换成低电压给各个芯片使用，然而为了使供应链有良好的弹性，许多电源方案的厂商皆有兼容性的产品，即将电源方案使用的降压电源芯片设置为Pin to Pin的方式，而通常一个服务器内会有十几组的降压控制器给不同的芯片使用，且不同厂商虽然能提供相同封装的产品，但也必本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种降压电源芯片测试治具，其特征在于，包括底座、若干个信号测量脚和若干个用于与待测试降压电源芯片上的测试点接触的探针，所述底座上设置有降压电源芯片承载区，所述降压电源芯片承载区用于承载待测试降压电源芯片，探针布设在底座上，探针的一端延伸至降压电源芯片承载区内，探针的另一端通过底座内的布线连接到对应的信号测量脚的一端，信号测量脚的另一端接触连接到外部的测试终端，所述信号测量脚设置在底座外周围的其中一侧。2.根据权利要求1所述的一种降压电源芯片测试治具，其特征在于，还包括设置在降压电源芯片承载区中心位置的吸附机构。3.根据权利要求2所述的一种降压电源芯片测试治具，其特征在于，所述吸附机构包括通孔和安装在底座背离降压电源芯片承载区的抽气泵，所述通孔设置在降压电源芯片承载区中心位置且贯穿底座，抽气泵的抽气嘴安装通孔处。4.根据权利要求3所述的一种降压电源芯片测试治具，其特征在于，还包括用于获取待测试降压电源芯片温度信息的温度传感器，所述温度传感器设置在通孔的两侧。5.根据权利要求1所述的一种降压电源芯片测试治具，其特征在于，还包括用于对待测试降压电源芯片进行散热的散热器，所述散热器设置在与底座垂直连接的倒L型竖板上。6.一种降压电源芯片测试系统，用于对待测试降压电源芯片进行测试，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈律言，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：