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本发明涉及一种降压电源芯片测试治具、系统、方法、终端及介质，属于芯片测试技术领域，包括底座、若干个信号测量脚和若干个用于与待测试降压电源芯片上的测试点接触的探针，探针通过底座内的布线连接到对应的信号测量脚的一端，信号测量脚的另一端接触连接到...
该专利属于苏州浪潮智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州浪潮智能科技有限公司授权不得商用。

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