本发明专利技术涉及一种测试机、测试控制装置及方法。装置包括平行控制单元和多个工位控制单元，一个工位控制单元对应至少一个被测器件；平行控制单元分别连接多个工位控制单元并连接主机，接收主机发送的测试项，并将测试项中的各个测试序列发送给测试序列对应的被测器件对应的工位控制单元；每个工位控制单元分别连接多个测试板卡，各个测试板卡实现的业务功能不同；每个工位控制单元，根据接收到的测试序列需要实现的业务功能，将测试序列发送给对应的测试板卡，以对测试序列对应的被测器件进行测试；当目标被测器件测试失败时，控制多个测试板卡停止对目标被测器件进行测试，目标被测器件为工位控制单元对应的被测器件。本发明专利技术能够停止某个器件测试。能够停止某个器件测试。能够停止某个器件测试。
【技术实现步骤摘要】
测试机、测试控制装置及方法
[0001]本专利技术涉及测试
，特别是涉及一种测试机、测试控制装置及方法。
技术介绍
[0002]自动测试设备(Automatic Test Equipment，简称ATE)是半导体产业中检测集成电路(Integrated Circuit，简称IC)功能完整性的设备，应用于集成电路生产制造的最后流程，以确保集成电路生产制造的品质。
[0003]ATE包括主机(Host)、测试机(Tester)和被测器件(Device Under Test，简称DUT)。主机将测试序列(test sequence)发送给测试机。测试机根据测试序列生成激励信号，并发送给被测器件。被测器件根据激励信号反馈响应信号给测试机。测试机根据响应信号得到测试数据，并发送给主机。主机对测试数据进行处理，得到测试结果，以指示机械手(Handler)对被测器件进行分类。
[0004]然而，随着被测器件的数量增加，单个被测器件出现测试失败时，却无法及时停止测试。
技术实现思路
[0005]基于此，有必要提供一种能够单独停止对某个被测器件继续测试的测试机、测试控制装置及方法。
[0006]第一方面，本申请提供了一种测试控制装置。所述装置包括平行控制单元和多个工位控制单元，一个所述工位控制单元用于对应至少一个被测器件；
[0007]所述平行控制单元，分别连接所述多个工位控制单元并用于连接主机，接收所述主机发送的测试项，并将所述测试项中的各个测试序列发送给所述测试序列对应的被测器件对应的工位控制单元；
[0008]每个所述工位控制单元，用于分别连接多个测试板卡，各个所述测试板卡实现的业务功能不同；每个所述工位控制单元用于，根据接收到的测试序列需要实现的业务功能，将所述测试序列发送给对应的测试板卡，以对所述测试序列对应的被测器件进行测试；当目标被测器件测试失败时，控制所述多个测试板卡停止对所述目标被测器件进行测试，所述目标被测器件为所述工位控制单元对应的被测器件。
[0009]在其中一个实施例中，所述工位控制单元用于，
[0010]接收所述目标被测器件的测试失败信息；
[0011]根据所述测试失败信息确定目标标号，所述目标标号为所述目标被测器件与各个所述测试板卡之间的通道的标号；
[0012]向至少一个所述测试板卡发送携带所述目标标号的关断指令，以控制各个所述测试板卡断开所述目标标号对应的通道。
[0013]在其中一个实施例中，所述测试失败信息为所述测试板卡对所述目标被测器件进行测试得到的测试数据，或协处理模块对所述测试数据处理得到的测试结果。
[0014]在其中一个实施例中，所述工位控制单元用于，分别向各个所述测试板卡发送所述关断指令，或向目标测试板卡发送所述关断指令，以使所述目标测试板卡向其它测试板卡转发所述关断指令，所述目标测试板卡为所述多个测试板卡中的任意一个测试板卡。
[0015]在其中一个实施例中，所述工位控制单元还用于，在所述测试项对应的测试完成后，向各个所述测试板卡发送开启指令，以控制各个所述测试板卡恢复所述目标标号对应的通道。
[0016]在其中一个实施例中，所述平行控制单元用于，接收所述主机发送的测试配置，所述测试配置包括各个所述测试序列对应的通道标号，所述通道标号所属的通道位于所述测试板卡和所述被测器件之间；将所述测试项中的各个测试序列和所述测试配置中与所述测试序列对应的通道标号分发给所述通道标号对应的工位控制单元；
[0017]每个所述工位控制单元用于，将接收到的各个测试序列和所述测试序列对应的通道标号发送给所述通道标号对应的测试板卡。
[0018]在其中一个实施例中，所述装置还包括：
[0019]打包单元，串联在所述工位控制单元和所述测试板卡之间，用于将至少两个所述工位控制单元发送给同一个所述测试板卡的测试序列和所述测试序列对应的通道标号打包发送给所述测试板卡。
[0020]在其中一个实施例中，所述装置还包括：
[0021]同步单元，分别连接所述打包单元、所述平行控制单元和所述多个工位控制单元，用于从所述平行控制单元获取同步信号，并发送给所述多个工位控制单元和所述打包单元。
[0022]在其中一个实施例中，所述工位控制单元还用于，当目标被测器件测试失败时，停止向所述多个测试板卡发送所述目标被测器件的测试序列。
[0023]第二方面，本申请提供了一种测试机。所述测试机包括如第一方面提供的测试个控制装置和多个测试板卡。
[0024]在其中一个实施例中，所述测试板卡包括控制器和功能电路；
[0025]所述控制器，用于接收携带目标标号的关断指令，所述目标标号为所述目标被测器件与所述测试板卡之间的通道的标号；控制所述功能电路停止向所述目标标号对应的通道发送激励信号。
[0026]第三方面，本申请提供了一种测试控制方法，应用于第一方面提供的测试控制装置。所述方法包括：
[0027]所述平行控制单元接收所述主机发送的测试项，并将所述测试项中的各个测试序列发送给所述测试序列对应的被测器件对应的工位控制单元；
[0028]每个所述工位控制单元根据接收到的测试序列需要实现的业务功能，将所述测试序列发送给对应的测试板卡，以对所述测试序列对应的被测器件进行测试；
[0029]当目标被测器件测试失败时，所述工位控制单元控制所述多个测试板卡停止对所述目标被测器件进行测试，所述目标被测器件为所述工位控制单元对应的被测器件。
[0030]上述测试机、测试控制装置及方法，测试控制装置包括平行控制单元和多个工位控制单元，一个工位控制单元对应至少一个被测器件。平行控制单元分别连接主机和多个工位控制单元，接收主机发送的测试项，并将测试项中的各个测试序列发送给测试序列对
应的被测器件对应的工位控制单元。每个工位控制单元分别连接多个测试板卡，根据接收到的测试序列需要实现的业务功能，将测试序列发送给对应的测试板卡，各个测试板卡实现的业务功能不同，以对测试序列对应的被测器件进行测试。当工位控制单元对应的被测器件测试失败时，控制多个测试板卡停止对工位控制单元对应的被测器件进行测试。通过专门设置与被测器件对应的工位控制单元，可以独立控制对应被测器件的测试。这样当某个被测器件测试失败时，这个被测器件对应的工位控制单元可以控制测试板卡停止对这个被测器件的测试，避免测试资源的浪费。另外，测试机包括测试控制装置，测试控制方法应用于测试控制装置，因此测试机和测试控制方法也可以单独停止某个被测器件继续测试，避免测试资源的浪费。
附图说明
[0031]为了更清楚地说明本申请实施例或传统技术中的技术方案，下面将对实施例或传统技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0032]图1为一个实施例中测试控制装本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测试控制装置，其特征在于，所述装置包括平行控制单元和多个工位控制单元，一个所述工位控制单元用于对应至少一个被测器件；所述平行控制单元，分别连接所述多个工位控制单元并用于连接主机，接收所述主机发送的测试项，并将所述测试项中的各个测试序列发送给所述测试序列对应的被测器件对应的工位控制单元；每个所述工位控制单元，用于分别连接多个测试板卡，各个所述测试板卡实现的业务功能不同；每个所述工位控制单元用于，根据接收到的测试序列需要实现的业务功能，将所述测试序列发送给对应的测试板卡，以对所述测试序列对应的被测器件进行测试；当目标被测器件测试失败时，控制所述多个测试板卡停止对所述目标被测器件进行测试，所述目标被测器件为所述工位控制单元对应的被测器件。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述工位控制单元用于，接收所述目标被测器件的测试失败信息；根据所述测试失败信息确定目标标号，所述目标标号为所述目标被测器件与各个所述测试板卡之间的通道的标号；向至少一个所述测试板卡发送携带所述目标标号的关断指令，以控制各个所述测试板卡断开所述目标标号对应的通道。3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述测试失败信息为所述测试板卡对所述目标被测器件进行测试得到的测试数据，或协处理模块对所述测试数据处理得到的测试结果。4.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述工位控制单元用于，分别向各个所述测试板卡发送所述关断指令，或向目标测试板卡发送所述关断指令，以使所述目标测试板卡向其它测试板卡转发所述关断指令，所述目标测试板卡为所述多个测试板卡中的任意一个测试板卡。5.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述工位控制单元还用于，在所述测试项对应的测试完成后，向各个所述测试板卡发送开启指令，以控制各个所述测试板卡恢复所述目标标号对应的通道。6.根据权利要求1
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5任一项所述的装置，其特征在于，所述平行控制单元用于，接收所述主机发送的测试配置，所述测试配置包括各个所述测试序列对应的通道标号，所述通道标号所属的通道位于所述测试板卡和所述被测器件之间；...
【专利技术属性】
技术研发人员：居宁，张晓彤，
申请(专利权)人：北京华峰测控技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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