芯片测试方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本公开提供一种芯片测试方法、装置、设备及存储介质，涉及芯片测试技术领域。该方法包括：分别按照多个测试模式中的各个测试模式对多个芯片进行测试，获得各个测试模式对应的测试参数，测试参数包括测试时间信息和失效芯片信息，测试时间信息包括测试时长，失效芯片信息包括测试得到的失效芯片的数量；对于各个测试模式，根据测试得到的失效芯片的数量和测试时长获得该测试模式的敏感度指标；基于各个测试模式的敏感度指标从多个测试模式中确定目标测试模式；对目标测试模式进行测试时长减少操作，获得更新的目标测试模式，以按照多个测试模式对多个芯片进行测试。该方法实现了在不影响测试效果的前提下缩短芯片系统级测试的时间。时间。时间。

【技术实现步骤摘要】
芯片测试方法、装置、设备及存储介质


[0001]本公开涉及芯片测试
，具体而言，涉及一种芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质。

技术介绍

[0002]在芯片制造完成后，测试是用于检测存储器故障的重要环节。系统级测试(System Level Test,SLT)是在系统环境中测试片上系统(System On Chip，SOC)的测试，可在最终产品组装之前发现一些设计问题。整个SLT测试阶段可以包括多个测试项目(test pattern，也称为测试模式)，每个测试模式可能会由于诸如主板插双列直插内存模块(Dual In
‑
line Memory Module，DIMM)的数量、是否测试得到失效芯片等因素的影响，导致不同测试模式的测试时长不同。SLT测试阶段中一些测试模式的测试时间较长，导致SLT测试的总时间较长，而在不影响测试效果的前提下，缩短SLT测试时间不仅可以减少测试成本，还有助于提高产能。
[0003]如上所述，如何在不影响测试效果的前提下缩短SLT测试时间成为亟待解决的问题。
[0004]在所述
技术介绍
部分公开的上述信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此它可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

技术实现思路

[0005]本公开的目的在于提供一种芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质，可在不影响测试效果的前提下缩短芯片系统级测试的时间。
[0006]本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本公开的实践而习得。
[0007]根据本公开的一方面，提供一种芯片测试方法，包括：分别按照多个测试模式中的各个测试模式对多个芯片进行测试，获得各个测试模式对应的测试参数，所述测试参数包括测试时间信息和失效芯片信息，所述测试时间信息包括测试时长，所述失效芯片信息包括测试得到的失效芯片的数量；对于各个测试模式，根据测试得到的失效芯片的数量和测试时长获得该测试模式的敏感度指标；基于各个测试模式的敏感度指标从所述多个测试模式中确定目标测试模式；对所述目标测试模式进行测试时长减少操作，获得更新的目标测试模式，以按照多个测试模式对所述多个芯片进行测试。
[0008]根据本公开的一实施例，对于各个测试模式，根据测试得到的失效芯片的数量和测试时长获得该测试模式的敏感度指标，包括：对于各个测试模式，将测试得到的失效芯片的数量除以测试时长，获得该测试模式的敏感度指标；基于各个测试模式的敏感度指标从所述多个测试模式中确定目标测试模式，包括：获得所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式，作为所述目标测试模式。
[0009]根据本公开的一实施例，基于各个测试模式的敏感度指标所述多个测试模式中确
定目标测试模式，还包括：将各个测试模式按照敏感度从高到低的顺序排序，获得测试模式序列；获得所述测试模式序列中除排在首位之外的各个测试模式的特有失效芯片的数量，其中，各个测试模式的特有失效芯片为该测试模式测试得到而在所述测试模式序列中排在该测试模式前的测试模式没有测试得到的失效芯片；获得所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式，作为所述目标测试模式，包括：若所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式的特有失效芯片的数量符合第一预设条件，则将所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式作为所述目标测试模式。
[0010]根据本公开的一实施例，若所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式的特有失效芯片的数量符合第一预设条件，则将所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式作为所述目标测试模式，包括：若所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式的特有失效芯片的数量符合第一预设条件，并且所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式的测试时长与特有失效芯片的数量的比值符合第二预设条件，则将所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式作为所述目标测试模式。
[0011]根据本公开的一实施例，基于各个测试模式的敏感度指标所述多个测试模式中确定目标测试模式，还包括：将各个测试模式的测试时长相加，获得多个测试模式的总测试时长；根据所述各个测试模式的测试时长、所述多个测试模式的总测试时长、以及各个测试模式的特有失效芯片的数量获得各个测试模式的模式时间减少增益指标；若所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式的特有失效芯片的数量符合第一预设条件，则将所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式作为所述目标测试模式，包括：若所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式的特有失效芯片的数量符合第一预设条件，并且所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式的模式时间减少增益指标符合第三预设条件，则将所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式作为所述目标测试模式。
[0012]根据本公开的一实施例，所述方法还包括：获得所述多个芯片的总芯片数量；基于各个测试模式的敏感度指标所述多个测试模式中确定目标测试模式，包括：将各个测试模式按照敏感度从高到低的顺序排序，获得测试模式序列；根据所述测试模式序列中除排在首位之外的各个测试模式的特有失效芯片的数量和所述总芯片数量获得所述测试模式序列中除排在首位之外的各个测试模式的模式时间减少风险指标；若所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式的模式时间减少风险指标符合第四预设条件，则将所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式作为所述目标测试模式。
[0013]根据本公开的一实施例，若所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式的模式时间减少风险指标符合第四预设条件，则将所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式作为所述目标测试模式，包括：若所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式的模式时间减少风险指标符合第四预设条件，并且所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式的测试时长与特有失效芯片的数量的比值符合第二预设条件，则将所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式作为所述目标测试模式。
[0014]根据本公开的一实施例，基于各个测试模式的敏感度指标所述多个测试模式中确定目标测试模式，还包括：将各个测试模式的测试时长相加，获得多个测试模式的总测试时长；根据所述各个测试模式的测试时长、所述多个测试模式的总测试时长、以及各个测试模式的特有失效芯片的数量获得各个测试模式的模式时间减少增益指标；若所述多个测试模
式中敏感度指标最低的测试模式的模式时间减少风险指标符合第四预设条件，则将所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式作为所述目标测试模式，包括：若所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式的模式时间减少风险指标符合第四预设条件，并且所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式的模式时间减少增益指标符合第三预设条件，则将所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式作为所述目标测试模式。
[0015]根据本公开的一实施例，对于各个测试模式，根据测试得到的失效芯片的数量和测试时长获得该测试模式的敏感度指标，包括：对于各个测试模式，将测试得到的失效芯片的数量除以测试时长，获得该测试模式的敏感度指标；将各个测试模式按照敏本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：分别按照多个测试模式中的各个测试模式对多个芯片进行测试，获得各个测试模式对应的测试参数，所述测试参数包括测试时间信息和失效芯片信息，所述测试时间信息包括测试时长，所述失效芯片信息包括测试得到的失效芯片的数量；对于各个测试模式，根据测试得到的失效芯片的数量和测试时长获得该测试模式的敏感度指标；基于各个测试模式的敏感度指标从所述多个测试模式中确定目标测试模式；对所述目标测试模式进行测试时长减少操作，获得更新的目标测试模式，以按照多个测试模式对所述多个芯片进行测试。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对于各个测试模式，根据测试得到的失效芯片的数量和测试时长获得该测试模式的敏感度指标，包括：对于各个测试模式，将测试得到的失效芯片的数量除以测试时长，获得该测试模式的敏感度指标；基于各个测试模式的敏感度指标从所述多个测试模式中确定目标测试模式，包括：获得所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式，作为所述目标测试模式。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，基于各个测试模式的敏感度指标所述多个测试模式中确定目标测试模式，还包括：将各个测试模式按照敏感度从高到低的顺序排序，获得测试模式序列；获得所述测试模式序列中除排在首位之外的各个测试模式的特有失效芯片的数量，其中，各个测试模式的特有失效芯片为该测试模式测试得到而在所述测试模式序列中排在该测试模式前的测试模式没有测试得到的失效芯片；获得所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式，作为所述目标测试模式，包括：若所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式的特有失效芯片的数量符合第一预设条件，则将所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式作为所述目标测试模式。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，若所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式的特有失效芯片的数量符合第一预设条件，则将所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式作为所述目标测试模式，包括：若所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式的特有失效芯片的数量符合第一预设条件，并且所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式的测试时长与特有失效芯片的数量的比值符合第二预设条件，则将所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式作为所述目标测试模式。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，基于各个测试模式的敏感度指标所述多个测试模式中确定目标测试模式，还包括：将各个测试模式的测试时长相加，获得多个测试模式的总测试时长；根据所述各个测试模式的测试时长、所述多个测试模式的总测试时长、以及各个测试模式的特有失效芯片的数量获得各个测试模式的模式时间减少增益指标；若所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式的特有失效芯片的数量符合第一预设条件，则将所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式作为所述目标测试模式，包括：
若所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式的特有失效芯片的数量符合第一预设条件，并且所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式的模式时间减少增益指标符合第三预设条件，则将所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式作为所述目标测试模式。6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：获得所述多个芯片的总芯片数量；基于各个测试模式的敏感度指标所述多个测试模式中确定目标测试模式，包括：将各个测试模式按照敏感度从高到低的顺序排序，获得测试模式序列；根据所述测试模式序列中除排在首位之外的各个测试模式的特有失效芯片的数量和所述总芯片数量获得所述测试模式序列中除排在首位之外的各个测试模式的模式时间减少风险指标；若所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式的模式时间减少风险指标符合第四预设条件，则将所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式作为所述目标测试模式。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，若所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式的模式时间减少风险指标符合第四预设条件，则将所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式作为所述目标测试模式，包括：若所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式的模式时间减少风险指标符合第四预设条件，并且所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式的测试时长与特有失效芯片的数量的比值符合第二预设条件，则将所述多个测试模式中敏感度指标最低的测试模式作为所述目标测试模式。8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，基于各个测试模式的敏感度指标所述多个测试模式中确定目标测试模式，还包括：将各个测试模式的测试时长相加，获得多个测试模式的总测试时长...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁赛赛，仰蕾，熊世英，封芳，许崇，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：