本申请适用于芯片测试技术领域，提供了一种芯片测试结果的处理方法，方法包括：获取多个测试结果文件，一个测试结果文件包括一颗芯片的测试结果，每个测试结果文件包括多项测试数据；在多个测试结果文件中，确定第一测试结果文件，第一测试结果文件对应第一标准，第一标准对应多项测试数据中的第一测试数据；将第一测试结果文件存储到第一文件夹中，第一文件夹对应第一标准；在第一测试结果文件中，确定第二测试结果文件，第二测试结果文件对应第二标准，第二标准对应多项测试数据中的第二测试数据；将第二测试结果文件存储到第一文件夹中的第二文件夹中，第二文件夹对应第二标准。本申请实施例能够提高对芯片测试结果的处理效果。果。果。
【技术实现步骤摘要】
芯片测试结果的处理方法和装置
[0001]本申请属于芯片测试
，尤其涉及芯片测试结果的处理方法和装置。
技术介绍
[0002]在集成电路(integrated circuit，IC)测试中，芯片测试是重要的环节，高效地完成芯片测试和对测试结果的数据分析，是提升芯片产能的重要手段。目前，提供芯片测试设备的公司可提供和测试设备配套的数据分析软件，这些数据分析软件的数据交换文件一般为STDF文件，测试结果在STDF文件中通过二进制数据存储，STDF文件所记录的数据不能供测试人员在操作系统上直接打开阅读。而且，同一批次测试的芯片的测试数据一般都存成保存在一个STDF文件中，导致存储同一批次芯片的测试结果的STDF文件较大，测试结果文件的大小甚至达到GB级别，导致测试结果的传输极为不便。
技术实现思路
[0003]本申请实施例提供了芯片测试结果的处理方法，可以解决对测试结果文件进行读取和数据分析不便的问题。
[0004]第一方面，本申请实施例提供了一种芯片测试结果的处理方法，方法包括：获取多个测试结果文件，一个测试结果文件包括一颗芯片的测试结果，每个测试结果文件包括多项测试数据；在多个测试结果文件中，确定第一测试结果文件，第一测试结果文件对应第一标准，第一标准对应多项测试数据中的第一测试数据；将第一测试结果文件存储到第一文件夹中，第一文件夹对应第一标准。
[0005]本申请实施例对多个测试结果文件进行分类，然后将分类得到的不同类别的结果文件存储到相应的文件夹中，文件夹和分类标准对应，使得测试人员能够在操作系统上直接对测试结果文件进行读取和数据分析，并便于对测试结果文件进行定位和导出，提高了芯片测试结果的处理效率。
[0006]在第一方面的另一种可能的实现方式中，方法还包括：在第一测试结果文件中，确定第二测试结果文件，第二测试结果文件对应第二标准，第二标准对应多项测试数据中的第二测试数据；将第二测试结果文件存储到第一文件夹中的第二文件夹中，第二文件夹对应第二标准。在该实现方式中，进一步提高了对测试结果文件的分类和处理的精细度。
[0007]在第一方面的另一种可能的实现方式中，多项测试数据包括批次号、高温测试数据、中温测试数据、低温测试数据、测试编号、测试管脚、测试通过情况、测试参数上限值、测试参数下限值、失效类型、失效管脚和芯片编号中的一个或多个。在该实现方式中，便于对芯片的多项测试数据进行处理。
[0008]在第一方面的另一种可能的实现方式中，第一文件夹的名称对应第一标准。在该实现方式中，便于对第一文件夹的名称和第一标准结合，对芯片的测试结果进行分析。
[0009]在第一方面的另一种可能的实现方式中，方法还包括：读取第一文件夹的名称和第一测试结果文件中的测试数据；根据第一文件夹的名称和第一测试结果文件中的测试数
据，确定第一统计结果。在该实现方式中，便于对芯片的测试结果进行统计处理。
[0010]在第一方面的另一种可能的实现方式中，方法还包括：在多个测试数据中，确定目标测试数据；根据目标测试数据在多个测试结果文件中确定目标测试结果文件；获取目标测试结果文件。在该实现方式中，便于获取测试结果文件，提高了对测试结果文件进行传输的便捷性。
[0011]在第一方面的另一种可能的实现方式中，测试结果文件的格式为txt、csv、json、log和xml中的一个或多个。在该实现方式中，便于在操作系统上打开和阅读芯片的测试结果。
[0012]第二方面，本申请实施例提供了一种装置，包括用于执行如第一方面中任一项的方法的单元。
[0013]第三方面，本申请实施例提供了一种装置，包括存储器、处理器以及存储在存储器中并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现如第一方面中任一项的方法。
[0014]第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如第一方面中任一项的方法。
[0015]第五方面，本申请实施例提供了一种计算机程序产品，当计算机程序产品在电子设备上运行时，使得电子设备执行上述第一方面中任一项所述的方法。
[0016]可以理解的是，上述第二方面至第五方面的有益效果可以参见上述第一方面中的相关描述，在此不再赘述。
[0017]本申请实施例与现有技术相比存在的有益效果是：
[0018]本申请实施例用于对多个测试结果文件处理，每个测试结果文件包括一颗芯片的测试结果，每个测试结果文件包括多项测试数据，对多个测试结果文件可以根据预设的分类标准进行分类，将分类得到的不同类别的结果文件存储到相应的文件夹中，文件夹和分类标准对应，使得测试人员能够在操作系统上直接对测试结果文件进行读取和数据分析，并便于对测试结果文件进行定位和导出，提高了芯片测试结果的处理效率。同时，无需购买专门的数据分析软件，降低了生产成本。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0020]图1是本申请实施例中的一例芯片测试结果的处理方法的流程示意图；
[0021]图2是本申请实施例中提供的进一步对测试结果文件分类存储的流程示意图；
[0022]图3是本申请实施例中的一例第一文件夹和第二文件夹的示意图；
[0023]图4是本申请实施例中的一例对测试结果进行统计的流程示意图；
[0024]图5是一例对符合标准的测试结果文件导出的流程示意图；
[0025]图6是本申请实施例中提供的一种装置的示意图。
具体实施方式
[0026]以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本申请实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本申请。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本申请的描述。
[0027]应当理解，当在本申请说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
[0028]还应当理解，在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
[0029]如在本申请说明书和所附权利要求书中所使用的那样，术语“如果”可以依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地，短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述条件本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种芯片测试结果的处理方法，其特征在于，所述方法包括：获取多个测试结果文件，一个测试结果文件包括一颗芯片的测试结果，每个测试结果文件包括多项测试数据；在所述多个测试结果文件中，确定第一测试结果文件，所述第一测试结果文件对应第一标准，所述第一标准对应所述多项测试数据中的第一测试数据；将所述第一测试结果文件存储到第一文件夹中，所述第一文件夹对应所述第一标准。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：在所述第一测试结果文件中，确定第二测试结果文件，所述第二测试结果文件对应第二标准，所述第二标准对应所述多项测试数据中的第二测试数据；将所述第二测试结果文件存储到所述第一文件夹中的第二文件夹中，所述第二文件夹对应所述第二标准。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述多项测试数据包括批次号、高温测试数据、中温测试数据、低温测试数据、测试编号、测试管脚、测试通过情况、测试参数上限值、测试参数下限值、失效类型、失效管脚和芯片编号中的一个或多个。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一文件夹的名称对应所...
【专利技术属性】
技术研发人员：舒柏钦，宦承永，孙文锦，郭家宏，陈广世，
申请(专利权)人：深圳市国微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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