温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请适用于芯片测试技术领域，提供了一种芯片测试结果的处理方法，方法包括：获取多个测试结果文件，一个测试结果文件包括一颗芯片的测试结果，每个测试结果文件包括多项测试数据；在多个测试结果文件中，确定第一测试结果文件，第一测试结果文件对应第一标...
该专利属于深圳市国微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市国微电子有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。