一种非接触式电磁炉测温装置制造方法及图纸

技术编号:35813672 阅读:53 留言:0更新日期:2022-12-03 13:36
本实用新型专利技术公开了一种非接触式电磁炉测温装置,包括电磁炉主体以及控制器;所述电磁炉主体包含下基壳、安装在下基壳上的上基壳,设置在上基壳上用于撑托锅具的微晶板、以及安装在下基壳内部的线圈盘,该线圈盘的盘体中部开设有测温通孔,测温通孔的正下方设有传感器组件,所述传感器组件用于垂直测量锅具的温度;本实用新型专利技术具有结构稳定可靠,测温数据准确的特点,能够直接在电磁炉的线圈盘底安装两组以上不受电磁干扰各自独立稳定运行的测温传感器,采用非接触式测量来自锅具底部的辐射并补偿来自微晶板的辐射,以获取更加精准的温度数据,实现非接触精准测量锅具底部温度的目的。的。的。

【技术实现步骤摘要】
一种非接触式电磁炉测温装置


[0001]本技术涉及电磁炉测温
,尤其涉及一种非接触垂直测量电磁炉上锅具温度的测温装置,具体为一种非接触式电磁炉测温装置。

技术介绍

[0002]电磁炉传统测量锅具底部温度的方案是接触式测温,技术专利CN209512114U公开的“一种结构简单的电磁炉测温装置”以及CN206831592U公开的“电磁炉测温装置”中,所提及的测温装置,是直接在微晶板底面顶装一个NTC温度传感器,直接将NTC温度传感器安装在微晶板上方的一凹槽当中,温度传感器尝尝贴靠在电磁炉的热敏电阻上,此时NTC温度传感器通过测量微晶板的温度值来作为锅具底部的温度,温度传感器的感应探头直接与微晶板相接触,这样接触式测温方式的测温时间过长,温度传感器往往易受到热敏电阻的接触式高温侵害,且温度传感器整体安装时稳定性差易出现歪斜晃动的问题,同时温度传感器、线圈盘与微晶板之间也容易受到电磁场干扰,以致于让测得的温度数据不够准确,不利于实现锅具底部温度的精确测量。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种非接触式电磁炉测温装置,以解本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种非接触式电磁炉测温装置,包括电磁炉主体以及控制器;其特征在于:所述电磁炉主体包含下基壳、安装在下基壳上的上基壳,设置在上基壳上用于撑托锅具的微晶板、以及安装在下基壳顶端的线圈盘,该线圈盘位于微晶板的正下方,且线圈盘的盘体中部开设有测温通孔,测温通孔的孔中心与微晶板的板体中心处于同一垂直线上,测温通孔的正下方设有传感器组件,其传感器组件安装在下基壳顶端中部;所述传感器组件用于垂直测量锅具的温度,该传感器组件包含上下两端为开口式结构的支筒、以及通过紧压件安装在支筒内部的至少两组测温传感器,每组测温传感器皆通过控制总线与控制器连接在一起。2.根据权利要求1所述的一种非接触式电磁炉测温装置,其特征在于:所述测温传感器顶面的感应端未伸入于测温通孔的孔腔内,该测温传感器为MLX90614型或MLX90617型红外测温传感器。3.根据权利要求1所述的一种非接触式电磁炉...

【专利技术属性】
技术研发人员:林文煌李刚唐熙辉
申请(专利权)人:深圳市迪米科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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