一种三态电平状态检测电路制造技术

技术编号:35733687 阅读:20 留言:0更新日期:2022-11-26 18:35
本实用新型专利技术提供了一种三态电平状态检测电路,用于检测外部的电平信号输入端的电平状态。包括微控制器以及信号处理模组,信号处理模组包括一端连接A/D口的第一信号处理单元以及一端连接另一A/D口的第二信号处理单元,第一信号处理单元与第二信号处理单元的另一端均与电平信号输入端相连,第一信号处理单元与第二信号处理单元分别接入内部电源。当电平信号输入端分别输入高电平、低电平及悬空输入时,连接第一信号处理单元与第二信号处理单元的两个A/D口之间的采样值大小以及与内部电源值之间的大小不同。本实施例占用微控制器的2个A/D口,就实现了外部输入高、低及悬空三种状态的有效检测,大大节省了系统资源。大大节省了系统资源。大大节省了系统资源。

【技术实现步骤摘要】
一种三态电平状态检测电路


[0001]本技术涉及检测电路
,特别涉及一种三态电平状态检测电路。

技术介绍

[0002]在电子信息或自动化控制
通常会存在一种外部电平状态检测的应用,如车辆电平状态检测等。通常外部电平输入一般可归结为三种状态:高电平、低电平及悬空状态。传统外部电平输入检测电路一般只检测一种状态,即只能检测高电平输入有效或只能检测低电平输入有效,无法检测悬空状态输入。
[0003]有鉴于此,就很有必要设计一种能够检测三态电平状态的电路。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是提供一种三态电平状态检测电路。
[0005]本技术要解决的是现有外部电平输入检测电路只能检测一种状态的问题。
[0006]为了解决上述问题,本技术通过以下技术方案实现:
[0007]一种三态电平状态检测电路,用于检测外部的电平信号输入端的电平状态。包括具有至少两个A/D口的微控制器以及信号处理模组,信号处理模组包括一端连接A/D口的第一信号处理单元以及一端连接另一A/D口的第二信号处理单元,第一信号处理单元与第二信号处理单元的另一端均与电平信号输入端相连,第一信号处理单元与第二信号处理单元分别接入内部电源。电平信号输入端输入的高电平电压大于电源电压;当电平信号输入端分别输入高电平、低电平及悬空输入时,连接第一信号处理单元与第二信号处理单元的两个A/D口之间的采样值大小以及与内部电源值之间的大小不同。
[0008]进一步地,电平信号输入端输入高电平时,两个A/D口的采样值相等且等于内部电源;当电平信号输入端输入低电平时,两个A/D口的采样值小于内部电源的二分之一且两个A/D口的采样值相等;当电平信号输入端悬空输入时,其一A/D口采样值小于内部电源值且大于另一A/D口采样值。
[0009]进一步地,第一信号处理单元包括与电平信号输入端相连的第一开关器、与第一开关器相连的第二开关器、连接于第二开关器与A/D口之间的第一电阻以及连接于第一开关器与第二开关器的公共端的第二电阻。第一电阻的另一端接内部电源,第二电阻的另一端接地;第一电阻的阻值大于第二电阻的阻值,以使得第一开关器关闭、第二开关器打开时,第二电阻及第二开关器分压值小于第一电阻的分压值。
[0010]进一步地,第二信号处理单元包括与电平信号输入端相连的第三开关器、连接在第三开关器与A/D口之间的第四电阻以及连接在A/D口的第三电阻。第三电阻的另一端接内部电源;第三电阻的阻值大于第四电阻的阻值,以使得在第三开关器低电平导通时,第四电阻及第三开关器分压值小于第三电阻的分压值。
[0011]进一步地,第一电阻的阻值与第三电阻的阻值相等,第二电阻的阻值与第四电阻的阻值相等。
[0012]进一步地,第一开关器为阳极与电平信号输入端相连的二极管,第二开关器为阳极与A/D口相连的二极管。
[0013]进一步地,第一信号处理单元还包括连接于A/D口的第一滤波电容及第一瞬态二极管,第一滤波电容的另一端接地,第一瞬态二极管的阳极接地。
[0014]进一步地,第三开关器为阴极与电平信号输入端相连的二极管。
[0015]进一步地,第二信号处理单元还包括连接于A/D口的第二滤波电容及第二瞬态二极管,第二滤波电容的另一端接地,第二瞬态二极管的阳极接地。
[0016]与现有技术相比,本技术技术方案及其有益效果如下:
[0017](1)本技术的三状态检测电路,当电平信号输入端分别输入高电平、低电平及悬空输入三种状态时,通过2个A/D口的采样值的大小以及与内部电源VDD的大小关系,能够快速判断出电平信号输入端的电平状态。本实施例占用微控制器的2个A/D口,就实现了外部输入高、低及悬空三种状态的有效检测,大大节省了系统资源。
[0018](2)本技术通过A/D口1采集的数值、A/D口2采集的数值以及内部电源VDD三者之间的固定大小关系,即可快速判断外部输入的电平状态。
[0019](3)本技术的三状态检测电路采用通用型普通元器件就可以实现高、低电平及悬空三种状态有效检测,大大节省了系统资源,且电路简单使得制作成本降低,大大弥补了现有技术的不足。
附图说明
[0020]图1是本技术实施例提供的一种三态电平状态检测电路的框图;
[0021]图2是本技术实施例提供的一种三态电平状态检测电路的原理图;
[0022]图3是本技术实施例提供的一种三态电平状态检测电路的又一原理图。
[0023]图示说明:
[0024]电平信号输入端

100;信号处理模组

200;微控制器

300。
具体实施方式
[0025]为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本技术,并不用于限定本技术。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。
[0026]参阅图1,一种三态电平状态检测电路,用于检测外部的电平信号输入端 100的电平状态,包括微控制器300及信号处理模组200。微控制器300具有至少两个A/D口,A/D口1及A/D口2。信号处理模组200包括第一信号处理单元及第二信号处理单元,第一信号处理单元连接在电平信号输入端100与A/D 口1之间,第二信号处理单元连接在电平信号输入端100与A/D口2之间。第一信号处理单元及第二信号处理单元均连接有内部电源VDD,电平信号输入端输100入的高电平VCC大于内部电源VDD。
[0027]当电平信号输入端100分别输入高电平、低电平及悬空输入三种状态时,通过A/D
口1采集的数值、A/D口2采集的数值及内部电源VDD的大小关系,能够快速判断出电平信号输入端100的电平状态。本实施例占用微控制器的2 个A/D口,就实现了外部输入高、低及悬空三种状态的有效检测,大大节省了系统资源。
[0028]更为具体的,电平信号输入端100输入高电平VCC时,A/D口1与A/D口 2的采样值相等且等于内部电源VDD,可以理解的是,这里的相等表示区别十分微小,在误差允许范围之内。电平信号输入端100接地时,A/D口1与A/D 口2的采样值相等,且小于内部电源VDD/2。当电平信号输入端悬空输入时, A/D口2采样值小于内部电源值且大于A/D口1的采样值。通过A/D口1采集的数值、A/D口2采集的数值以及内部电源VDD三者之间的固定大小关系,即可快速判断外部输入的电平状态。
[0029]参阅图2,第一信号处理单元包括与电平信号输入端100相连的第一开关器 D1、与第一开关器D1相连的第二开关器D2、连接于第二本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种三态电平状态检测电路,用于检测外部的电平信号输入端的电平状态,其特征在于,包括:微控制器,所述微控制器具有至少两个A/D口;信号处理模组,所述信号处理模组包括一端连接所述A/D口的第一信号处理单元以及一端连接另一所述A/D口的第二信号处理单元,所述第一信号处理单元与所述第二信号处理单元的另一端均与所述电平信号输入端相连,所述第一信号处理单元与所述第二信号处理单元分别接入内部电源;其中,所述电平信号输入端输入的高电平电压大于所述电源电压;当所述电平信号输入端分别输入高电平、低电平及悬空输入时,连接第一信号处理单元与所述第二信号处理单元的两个A/D口之间的采样值大小以及与所述内部电源之间的大小不同。2.根据权利要求1所述的一种三态电平状态检测电路,其特征在于,所述电平信号输入端输入高电平时,两个A/D口的采样值相等且等于内部电源;当所述电平信号输入端输入低电平时,两个A/D口的采样值小于内部电源的二分之一且两个A/D口的采样值相等;当所述电平信号输入端悬空输入时,其一A/D口采样值小于内部电源值且大于另一A/D口采样值。3.根据权利要求2所述的一种三态电平状态检测电路,其特征在于,所述第一信号处理单元包括与所述电平信号输入端相连的第一开关器、与所述第一开关器相连的第二开关器、连接于第二开关器与所述A/D口之间的第一电阻以及连接于所述第一开关器与所述第二开关器的公共端的第二电阻;其中,所述第一电阻的另一端接所述内部电源,所述第二电阻的另一端接地;所述第一电阻的阻值大于所述第二电阻的阻值,以使得所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:汪俊林陈志达汪大明陈凯君
申请(专利权)人:厦门健康工程与创新研究院
类型:新型
国别省市:

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