一种用于半导体检测的检测台制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于半导体检测的检测台，包括工作台，所述工作台的顶部固定安装有安装架，所述工作台顶部的中心处固定安装有传送装置，所述传送装置的表面套设有两个限位套，所述工作台顶部中心处的两侧均开设有第三滑槽，所述第三滑槽的内部滑动连接有第三滑块，所述安装架内腔顶部的中心处固定安装有安装块。本实用新型专利技术通过设置工作台对安装架进行安装，通过设置安装架对安装块进行安装，通过设置传送装置对半导体进行移动，通过设置第三滑槽对第三滑块进行限位，防止第三滑块在移动的过程中发生晃动，通过设置第一通槽对移动杆进行容纳，通过设置第一滑槽对第一滑块进行限位，防止第一滑块在移动的过程中发生晃动。防止第一滑块在移动的过程中发生晃动。防止第一滑块在移动的过程中发生晃动。

【技术实现步骤摘要】
一种用于半导体检测的检测台


[0001]本技术涉及半导体
，具体为一种用于半导体检测的检测台。

技术介绍

[0002]半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明和大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件，无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的，大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联，众所周知在半导体生产的过程中需要对其进行检测，而为了人们在检测过程中的舒适性，检测用工作台被广泛使用，而目前使用的检测台，不方便调节，固定效果差，从而降低了工作人员的检测速度。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种用于半导体检测的检测台，具备方便调节且定位效果好的优点，解决了目前使用的检测台，不方便调节，固定效果差，从而降低了工作人员检测速度的问题。
[0004]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种用于半导体检测的检测台，包括工作台，所述工作台的顶部固定安装有安装架，所述工作台顶部的中心处固定安装有传送装置，所述传送装置的表面套设有两个限位套，所述工作台顶部中心处的两侧均开设有第三滑槽，所述第三滑槽的内部滑动连接有第三滑块，所述安装架内腔顶部的中心处固定安装有安装块，所述安装块的内部开设有第一通槽，所述第一通槽的内部设置有移动杆，所述安装块的内部且位于第一通槽的两侧均开设有第一滑槽，所述移动杆的底部固定安装有安装座，所述安装座底部中心处的两侧均固定安装有检测触头，所述安装座的内部开设有两个第二通槽，所述安装座的内部且位于第二通槽的两侧均开设有第二滑槽，所述第二通槽的内部设置有定位杆，所述定位杆的底部固定安装有卡架。
[0005]优选的，所述第三滑块的内部通过螺纹转动连接有螺纹架，所述第三滑块的顶部与限位套的底部固定连接。
[0006]优选的，所述第一滑槽的内部滑动连接有第一滑块，所述第一滑块相对靠近的一侧与移动杆的两侧固定连接，所述第一滑槽的内部且位于第一滑块的底部固定安装有第一弹簧。
[0007]优选的，所述第二滑槽的内部滑动连接有第二滑块，所述第二滑块相对靠近的一侧与定位杆的两侧固定连接。
[0008]优选的，所述第二通槽的内腔固定安装有第二弹簧，所述第二弹簧的底部与定位杆的顶部固定连接。
[0009]与现有技术相比，本技术的有益效果如下：
[0010]1、本技术通过设置工作台对安装架进行安装，通过设置安装架对安装块进行
安装，通过设置传送装置对半导体进行移动，通过设置第三滑槽对第三滑块进行限位，防止第三滑块在移动的过程中发生晃动，通过设置第一通槽对移动杆进行容纳，通过设置第一滑槽对第一滑块进行限位，防止第一滑块在移动的过程中发生晃动，通过设置第二通槽对定位杆进行容纳，通过设置第二滑槽对第二滑块进行限位，防止第二滑块在移动的过程中发生晃动，通过设置卡架对半导体进行限位，同时解决了目前使用的检测台，不方便调节，固定效果差，从而降低了工作人员检测速度的问题。
[0011]2、本技术通过设置第三滑块对限位套进行限位，防止限位套在移动的过程中发生晃动，通过设置限位套对半导体的两侧进行限位，通过设置第一滑块对移动杆进行限位，防止移动杆在移动的过程中发生晃动，通过设置第二滑块对定位杆进行限位，防止定位杆在移动的过程中发生晃动，通过设置第二弹簧对定位杆进行缓冲。
附图说明
[0012]图1为本技术结构示意图；
[0013]图2为本技术截面结构示意图；
[0014]图3为本技术图2中A处的局部放大图。
[0015]图中：1、工作台；2、安装架；3、螺纹架；4、传送装置；5、限位套；6、安装块；7、移动杆；8、安装座；9、检测触头；10、卡架；11、定位杆；12、第一通槽；13、第一滑槽；14、第一滑块；15、第一弹簧；16、第二通槽；17、第二滑槽；18、第二滑块；19、第二弹簧；20、第三滑槽；21、第三滑块。
具体实施方式
[0016]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0017]请参阅图1
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3，一种用于半导体检测的检测台，包括工作台1，工作台1的顶部固定安装有安装架2，工作台1顶部的中心处固定安装有传送装置4，传送装置4的表面套设有两个限位套5，工作台1顶部中心处的两侧均开设有第三滑槽20，第三滑槽20的内部滑动连接有第三滑块21，安装架2内腔顶部的中心处固定安装有安装块6，安装块6的内部开设有第一通槽12，第一通槽12的内部设置有移动杆7，安装块6的内部且位于第一通槽12的两侧均开设有第一滑槽13，移动杆7的底部固定安装有安装座8，安装座8底部中心处的两侧均固定安装有检测触头9，安装座8的内部开设有两个第二通槽16，安装座8的内部且位于第二通槽16的两侧均开设有第二滑槽17，第二通槽16的内部设置有定位杆11，定位杆11的底部固定安装有卡架10，通过设置工作台1对安装架2进行安装，通过设置安装架2对安装块6进行安装，通过设置传送装置4对半导体进行移动，通过设置第三滑槽20对第三滑块21进行限位，防止第三滑块21在移动的过程中发生晃动，通过设置第一通槽12对移动杆7进行容纳，通过设置第一滑槽13对第一滑块14进行限位，防止第一滑块14在移动的过程中发生晃动，通过设置第二通槽16对定位杆11进行容纳，通过设置第二滑槽17对第二滑块18进行限位，防止第二滑块18在移动的过程中发生晃动，通过设置卡架10对半导体进行限位，第三滑块21的内部
通过螺纹转动连接有螺纹架3，第三滑块21的顶部与限位套5的底部固定连接，通过设置第三滑块21对限位套5进行限位，防止限位套5在移动的过程中发生晃动，通过设置限位套5对半导体的两侧进行限位，第一滑槽13的内部滑动连接有第一滑块14，第一滑块14相对靠近的一侧与移动杆7的两侧固定连接，第一滑槽13的内部且位于第一滑块14的底部固定安装有第一弹簧15，通过设置第一滑块14对移动杆7进行限位，防止移动杆7在移动的过程中发生晃动，第二滑槽17的内部滑动连接有第二滑块18，第二滑块18相对靠近的一侧与定位杆11的两侧固定连接，通过设置第二滑块18对定位杆11进行限位，防止定位杆11在移动的过程中发生晃动，第二通槽16的内腔固定安装有第二弹簧19，第二弹簧19的底部与定位杆11的顶部固定连接，通过设置第二弹簧19对定位杆11进行缓冲。
[0018]使用时，根据半导体的宽度对螺纹架3进行转动，通过螺纹架3带动第三滑块21移动，从而对限位套5进行移动，移动到指定地点后，将移动杆7向下移动，在卡架10的作用下对半导本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于半导体检测的检测台，包括工作台(1)，其特征在于：所述工作台(1)的顶部固定安装有安装架(2)，所述工作台(1)顶部的中心处固定安装有传送装置(4)，所述传送装置(4)的表面套设有两个限位套(5)，所述工作台(1)顶部中心处的两侧均开设有第三滑槽(20)，所述第三滑槽(20)的内部滑动连接有第三滑块(21)，所述安装架(2)内腔顶部的中心处固定安装有安装块(6)，所述安装块(6)的内部开设有第一通槽(12)，所述第一通槽(12)的内部设置有移动杆(7)，所述安装块(6)的内部且位于第一通槽(12)的两侧均开设有第一滑槽(13)，所述移动杆(7)的底部固定安装有安装座(8)，所述安装座(8)底部中心处的两侧均固定安装有检测触头(9)，所述安装座(8)的内部开设有两个第二通槽(16)，所述安装座(8)的内部且位于第二通槽(16)的两侧均开设有第二滑槽(17)，所述第二通槽(16)的内部设置有定位杆(11)，所述定位杆(11)...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨斌，黄峰荣，何秋生，
申请(专利权)人：佛山市合芯半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：