本发明专利技术涉及电容通电测试技术领域，具体涉及一种电容测试台及电容测试装置。电容测试台通过在第一镀金电极用于与电容相接的一面上设置有第一导电片，以及在第二镀金电极用于与电容相接的一面上设置有第二导电片，对电容进行通电测试时，电容的两端分别通过与第一导电片和第二导电片相接，从而间接与第一镀金电极和第二镀金电极电性连接，使第一镀金电极和第二镀金电极能对电容进行通电测试，具体地，利用第一导电片对第一镀金电极进行保护，利用第二导电片对第二镀金电极进行保护，这样第一镀金电极和第二镀金电极上的镀金层就不会那么容易被磨损，使电容测试台能更为经久耐用，有效地降低了电容测试台的使用成本，进而降低了电容的出厂成本。电容的出厂成本。电容的出厂成本。
【技术实现步骤摘要】
一种电容测试台及电容测试装置
[0001]本专利技术涉及电容通电测试领域，特别是一种电容测试台及电容测试装置。
技术介绍
[0002]电容出厂前需要对电容进行通电测试，现有技术通常是将电容搬运至电容测试台上，利用电容测试台上设有的两个镀金电极去接触电容的两端，从而对电容进行通电测试，但这个镀金层很脆弱，实际操作中测试一千到两千颗电容就会被磨完，而电极又是固定设置在电容测试台上的，无法更换，所以一旦镀金层损坏后就要对整个电容测试台进行更换，以至于电容测试台的使用成本极高。
技术实现思路
[0003]本专利技术实施例要解决的技术问题在于，提供一种电容测试台及电容测试装置，以解决现有技术中测试一千到两千颗电容就要更换电容测试台，以至于电容测试台的使用成本极高的问题。
[0004]第一方面，本专利技术实施例提供了一种电容测试台，用于对电容进行通电测试，电容测试台包括：支撑台，所述支撑台包括用于支撑所述电容的支撑面；电极组件，所述电极组件包括第一镀金电极、第二镀金电极、第一导电片和第二导电片；所述第一镀金电极与所述第二镀金电极均固设于所述支撑台，且所述第一镀金电极与所述第二镀金电极间隔开；所述第一导电片与所述第二导电片均装设于所述支撑台，且所述第一导电片与所述第二导电片间隔开；所述第一导电片的一面与所述第一镀金电极相接，所述第一导电片的另一面裸露于所述支撑面以用于抵接所述电容的其中一个电极，所述第二导电片的一面与所述第二镀金电极相接，所述第二导电片的另一面裸露于所述支撑面以用于抵接所述电容的其中另一个电极。
[0005]进一步地，所述电容测试台还包括导电片安装组件，所述第一导电片与所述第二导电片均通过所述导电片安装组件可拆卸式装设于支撑台。
[0006]进一步地，所述导电片安装组件包括第一插件，所述第一导电片设有第一安装孔，所述第一插件插设于所述第一安装孔，以将所述第一导电片限位安装于所述支撑台上。
[0007]进一步地，所述导电片安装组件还包括第二插件，所述第一导电片设有第二安装孔，所述第二插件插设于所述第二安装孔，以与所述第一插件共同配合将所述第一导电片限位安装于所述支撑台上；其中，所述第一插件为第一螺件，所述第二插件为第一限位柱；所述支撑面上设有与所述第一螺件和所述第一安装孔配合使用的螺纹孔，所述第一限位柱装设于所述支撑台上，且所述第一限位柱的一端凸出所述支撑面。
[0008]进一步地，所述第一导电片的中部设有第一通槽，所述第二导电片装设于所述第一通槽内；所述第一安装孔、所述第二安装孔、所述螺纹孔、所述第一螺件以及所述第一限位柱均设有两个，两个所述第一安装孔与两个所述第二安装孔均匀分布于以所述第一通槽的中心为圆心的圆上，且两个所述第一安装孔的连线与两个所述第二安装孔的连线交叉。
[0009]进一步地，所述导电片安装组件还包括压环，所述压环上设有四个第三安装孔；其中两个所述第三安装孔用于供所述第一限位柱插接，以限位安装所述压环；两个所述第一螺件分别依序插接于另外两个所述第三安装孔、两个所述第一安装孔和两个所述螺纹孔，使所述压环压接于所述第一导电片上；所述压环的中部开设有正对所述通槽的避空口，且所述避空口的轮廓大于所述通槽的轮廓。
[0010]进一步地，所述导电片安装组件还包括第三插件，所述第二导电片设有第四安装孔，所述第三插件插设于所述第四安装孔，以将所述第一导电片限位安装于所述支撑台上。
[0011]进一步地，所述安装孔开设于所述第二导电片的几何中心处。
[0012]进一步地，所述第二导电片为圆形导电片。
[0013]第二方面，本专利技术实施例还提供了一种电容测试装置，包括包括上料机构、搬运机构以及电容测试台；所述上料机构上设有上料工位，所述上料机构用于往上料工位处运输电容；所述搬运机构用于将上料工位处的电容搬运至电容测试台上进行测试；其中，所述电容测试台为上述第一方面所展示的电容测试台。
[0014]与现有技术相比，本专利技术实施例提供的电容测试台及电容测试装置的有益效果在于：本专利技术实施例提供的电容测试台通过在第一镀金电极用于与电容相接的一面上设置有第一导电片，以及在第二镀金电极用于与电容相接的一面上设置有第二导电片，对电容进行通电测试时，电容的两端分别通过与第一导电片和第二导电片相接，从而间接与第一镀金电极和第二镀金电极电性连接，使第一镀金电极和第二镀金电极能对电容进行通电测试，具体地，利用第一导电片对第一镀金电极进行保护，利用第二导电片对第二镀金电极进行保护，日常仅需对导电片进行维护或更换，这样第一镀金电极和第二镀金电极上的镀金层就不会那么容易被磨损，延长了电容测试台的使用寿命，使电容测试台能更为经久耐用，有效地降低了电容测试台的使用成本，进而降低了电容的出厂成本。
附图说明
[0015]下面将结合附图及实施例对本专利技术的具体实施方式作进一步详细的说明，附图中：
[0016]图1是本专利技术实施例提供的电容测试装置的立体结构示意图；
[0017]图2是本专利技术实施例提供的电极组件与导电片安装组件的立体结构示意图；
[0018]图3是图2所示电极组件与导电片安装组件的爆炸视图；
[0019]图4是本专利技术实施例提供的电容测试装置的部分结构示意图；
[0020]图5是本专利技术实施例提供的持料组件的立体结构示意图；
[0021]图6是本专利技术实施例提供的持料组件的部分结构的爆炸视图；
[0022]图7是本专利技术实施例提供的持料组件的部分结构的另一爆炸视图。
[0023]图中各附图标记为：
[0024]1000、电容测试装置；
[0025]100、电容测试台；110、支撑台；120、电极组件；121、第一导电片；1211、第一安装孔；1212、第二安装孔；1213、第一通槽；122、第二导电片；1221、第四安装孔；130、导电片安装组件；131、第一插件；1311、第一螺件；132、第二插件；1321、第一限位柱；133、压环；1331、第三安装孔；1332、避空口；1333、倒角；
[0026]200、上料机构；
[0027]300、搬运机构；310、移动组件；320、持料组件；321、吸嘴；3211、吸孔；322、滑竿；3221、通孔；323、滑座；3231、滑孔；324、弹簧；325、连接座；3251、盲孔；3252、气孔；326、压杆；327、压力传感器；
[0028]400、识别机构；410、摄像头；420、补光灯；
[0029]500、收纳机构；510、第一收纳杯；520、第二收纳杯；530、第三收纳杯。
具体实施方式
[0030]需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。现结合附图，对本专利技术的较佳实施例作详细说明。
[0031]本专利技术提实施例供了一种电容测试台100，如图1
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图2所示，电容测试台100包括支撑台110和电极组件120。支撑台110包括支撑面，支撑面用于本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电容测试台，用于对电容进行通电测试，其特征在于，包括：支撑台，所述支撑台包括用于支撑所述电容的支撑面；电极组件，所述电极组件包括第一镀金电极、第二镀金电极、第一导电片和第二导电片；所述第一镀金电极与所述第二镀金电极均固设于所述支撑台，且所述第一镀金电极与所述第二镀金电极间隔开；所述第一导电片与所述第二导电片均装设于所述支撑台，且所述第一导电片与所述第二导电片间隔开；所述第一导电片的一面与所述第一镀金电极相接，所述第一导电片的另一面裸露于所述支撑面以用于抵接所述电容的其中一个电极，所述第二导电片的一面与所述第二镀金电极相接，所述第二导电片的另一面裸露于所述支撑面以用于抵接所述电容的其中另一个电极。2.根据权利要求1所述的电容测试台，其特征在于，所述电容测试台还包括导电片安装组件，所述第一导电片与所述第二导电片均通过所述导电片安装组件可拆卸式装设于支撑台。3.根据权利要求2所述的电容测试台，其特征在于，所述导电片安装组件包括第一插件，所述第一导电片设有第一安装孔，所述第一插件插设于所述第一安装孔，以将所述第一导电片限位安装于所述支撑台上。4.根据权利要求3所述的电容测试台，其特征在于，所述导电片安装组件还包括第二插件，所述第一导电片设有第二安装孔，所述第二插件插设于所述第二安装孔，以与所述第一插件共同配合将所述第一导电片限位安装于所述支撑台上；其中，所述第一插件为第一螺件，所述第二插件为第一限位柱；所述支撑面上设有与所述第一螺件和所述第一安装孔配合使用的螺纹孔，所述第一限位柱装设于所述支撑台上，且所述第一限位柱的一端凸出所述支撑面。5.根据权利要求4所述的电容测试台，其特征在于，...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈松磨，梁树坚，吴浩，曾辉，罗永杰，王经纬，魏静，曹金南，向滔，梁嘉宝，刘锦洲，
申请(专利权)人：广州创天电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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