凹陷深度测量方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:35689405 阅读:12 留言:0更新日期:2022-11-23 14:36
本发明专利技术公开了一种凹陷深度测量方法、装置、设备及存储介质,属于车辆技术领域。本发明专利技术根据输入的部件参数得到待测部件的变形云图;基于所述变形云图选取所述待测部件对应的多个凹坑测量点;根据多个所述凹坑测量点确定多个基准面参考点;根据所述多个基准面参考点确定目标基准平面;根据多个所述凹坑测量点和所述目标基准平面确定所述待测部件的凹陷深度,结合变形后的模型,通过输入各凹陷位置关键节点坐标,实现凹陷深度尺寸的自动计算,提高了效率,同时也使得计算得到的凹坑深度更加贴近真实状态。真实状态。真实状态。

【技术实现步骤摘要】
凹陷深度测量方法、装置、设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及车辆
,尤其涉及一种凹陷深度测量方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]随着中国汽车行业的快速发展,人们对汽车的认识也在不断提升,同时对覆盖件外观质量的要求也越来越高。另外,中国汽车市场潜在客户巨大,各主机厂竞争日益激烈,缩短产品开发周期、提高开发效率成为主机厂追求的目标。各主机厂也越来越重视对覆盖件凹坑产生机理和预测方法的研究。
[0003]在现有技术中,很多主机厂没有对于机盖外板凹陷深度的正向分析方法,只是根据设计经验和基准车型的结构布置诸如补强贴片、胶点、缓冲块等影响要素位置。在实物试做阶段出现问题时,只能采取不断对策验证的方法,导致对策次数多,对策时间过长,出现大量的低效、重复性工作,严重影响车型开发成本、质量和效率。部分主机厂提出利用外板相对数据状态变形量和测量弦高的方式量化凹陷尺寸,但两种方法均无法准确反映凹陷实际深度。
[0004]上述内容仅用于辅助理解本专利技术的技术方案,并不代表承认上述内容是现有技术。

技术实现思路

[0005]本专利技术的主要目的在于提供一种凹陷深度测量方法、装置、设备及存储介质,旨在解决现有技术效率较低并且无法准确反映凹陷实际深度的技术问题。
[0006]为实现上述目的,本专利技术提供了一种凹陷深度测量方法,所述凹陷深度测量方法包括以下步骤:
[0007]根据输入的部件参数得到待测部件的变形云图;
[0008]基于所述变形云图选取所述待测部件对应的多个凹坑测量点;
[0009]根据多个所述凹坑测量点确定多个基准面参考点;
[0010]根据所述多个基准面参考点确定目标基准平面;
[0011]根据多个所述凹坑测量点和所述目标基准平面确定所述待测部件的凹陷深度。
[0012]可选地,所述多个凹坑测量点至少包括多个凹坑边缘最高点;
[0013]所述根据多个所述凹坑测量点确定多个基准面参考点,包括:
[0014]以任一凹坑边缘最高点为基准凹坑边缘最高点,并获取预设范围内所述基准凹坑边缘最高点对应的N个辅助参考点,其中,N≥1;
[0015]基于预设距离从所述N个辅助参考点中筛选出多个基准面参考点。
[0016]可选地,所述多个基准面参考点包括第一基准面参考点、第二基准面参考点以及第三基准面参考点;
[0017]所述基于预设距离从所述N个辅助参考点中筛选出多个基准面参考点,包括:
[0018]分别获取所述N个辅助参考点中各个辅助参考点与所述基准凹坑边缘最高点之间的距离,并将所述距离与第一预设距离之间距离差值最小的一个辅助参考点作为第一基准面参考点;
[0019]分别获取剩余的N

1个辅助参考点中各个辅助参考点与所述第一基准面参考点之间的距离,并将所述距离与第二预设距离之间距离差值最小的一个辅助参考点作为第二基准面参考点;
[0020]分别获取剩余的N

2个辅助参考点中各个辅助参考点与所述第二基准面参考点之间的距离,得到所述距离与第二预设距离之间距离差值最小的两个辅助参考点,并基于第三预设距离从所述两个辅助参考点中筛选出第三基准面参考点。
[0021]可选地,所述基于第三预设距离从所述两个辅助参考点中筛选出第三基准面参考点,包括:
[0022]分别获取各个辅助参考点与所述第一基准面参考点之间的距离,并将所述距离与第三预设距离之间距离差值最小的一个辅助参考点作为第三基准面参考点。
[0023]可选地,所述多个基准面参考点包括第一基准面参考点、第二基准面参考点以及第三基准面参考点;
[0024]所述基于预设距离从所述N个辅助参考点中筛选出多个基准面参考点,包括:
[0025]分别获取所述N个辅助参考点中各个辅助参考点与所述基准凹坑边缘最高点之间的距离,并将所述距离与第一预设距离之间距离差值最小的一个辅助参考点作为第一基准面参考点;
[0026]基于所述基准凹坑边缘最高点计算所述第一基准面参考点对应的第一对称参考点;
[0027]分别获取剩余的N

1个辅助参考点中各个辅助参考点与所述第一对称参考点之间的距离,并将所述距离最小的一个辅助参考点作为第二基准面参考点;
[0028]分别获取剩余的N

2个辅助参考点中各个辅助参考点与所述第二基准面参考点之间的距离,得到所述距离与第二预设距离之间距离差值最小的多个辅助参考点,并获取各个辅助参考点与所述基准凹坑边缘最高点或所述第一基准面参考点之间的距离,将所述距离与第二预设距离之间距离差值最小的一个辅助参考点作为第三基准面参考点。
[0029]可选地,所述多个凹坑测量点包括多个凹坑边缘最高点和凹陷最低点;
[0030]所述根据多个所述凹坑测量点和所述目标基准平面确定所述待测部件的凹陷深度,包括:
[0031]获取各个凹坑边缘最高点与所述目标基准平面之间的距离,以及所述凹陷最低点与所述目标基准平面之间的距离;
[0032]根据所述各个凹坑边缘最高点与所述目标基准平面之间的距离计算均值距离;
[0033]根据所述均值距离和所述凹陷最低点与所述目标基准平面之间的距离计算所述待测部件的凹陷深度。
[0034]可选地,所述根据多个所述凹坑测量点和所述目标基准平面确定所述待测部件的凹陷深度之后,还包括:
[0035]将所述待测部件的凹陷深度与预设凹陷深度阈值进行比较;
[0036]若所述待测部件的凹陷深度大于所述预设凹陷深度阈值,则判定所述待测部件存
在凹陷。
[0037]此外,为实现上述目的,本专利技术还提出一种凹陷深度测量装置,所述凹陷深度测量装置包括:
[0038]构建模块,用于根据输入的部件参数得到待测部件的变形云图;
[0039]筛选模块,用于基于所述变形云图选取所述待测部件对应的多个凹坑测量点;
[0040]所述筛选模块,还用于根据多个所述凹坑测量点确定多个基准面参考点;
[0041]计算模块,用于根据所述多个基准面参考点确定目标基准平面;
[0042]所述计算模块,还用于根据多个所述凹坑测量点和所述目标基准平面确定所述待测部件的凹陷深度。
[0043]此外,为实现上述目的,本专利技术还提出一种凹陷深度测量设备,所述凹陷深度测量设备包括:存储器、处理器及存储在所述存储器上并在所述处理器上运行的凹陷深度测量程序,所述凹陷深度测量程序配置为实现如上文所述的凹陷深度测量方法。
[0044]此外,为实现上述目的,本专利技术还提出一种存储介质,所述存储介质上存储有凹陷深度测量程序,所述凹陷深度测量程序被处理器执行时实现如上文所述的凹陷深度测量方法。
[0045]本专利技术根据输入的部件参数得到待测部件的变形云图;基于所述变形云图选取所述待测部件对应的多个凹坑测量点;根据多个所述凹坑测量点确定多个基准面参考点;根据所述多本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种凹陷深度测量方法,其特征在于,所述凹陷深度测量方法包括:根据输入的部件参数得到待测部件的变形云图;基于所述变形云图选取所述待测部件对应的多个凹坑测量点;根据多个所述凹坑测量点确定多个基准面参考点;根据所述多个基准面参考点确定目标基准平面;根据多个所述凹坑测量点和所述目标基准平面确定所述待测部件的凹陷深度。2.如权利要求1所述的凹陷深度测量方法,其特征在于,所述多个凹坑测量点至少包括多个凹坑边缘最高点;所述根据多个所述凹坑测量点确定多个基准面参考点,包括:以任一凹坑边缘最高点为基准凹坑边缘最高点,并获取预设范围内所述基准凹坑边缘最高点对应的N个辅助参考点,其中N≥1;基于预设距离从所述N个辅助参考点中筛选出多个基准面参考点。3.如权利要求2所述的凹陷深度测量方法,其特征在于,所述多个基准面参考点包括第一基准面参考点、第二基准面参考点以及第三基准面参考点;所述基于预设距离从所述N个辅助参考点中筛选出多个基准面参考点,包括:分别获取所述N个辅助参考点中各个辅助参考点与所述基准凹坑边缘最高点之间的距离,并将所述距离与第一预设距离之间距离差值最小的一个辅助参考点作为第一基准面参考点;分别获取剩余的N

1个辅助参考点中各个辅助参考点与所述第一基准面参考点之间的距离,并将所述距离与第二预设距离之间距离差值最小的一个辅助参考点作为第二基准面参考点;分别获取剩余的N

2个辅助参考点中各个辅助参考点与所述第二基准面参考点之间的距离,得到所述距离与第二预设距离之间距离差值最小的两个辅助参考点,并基于第三预设距离从所述两个辅助参考点中筛选出第三基准面参考点。4.如权利要求3所述的凹陷深度测量方法,其特征在于,所述基于第三预设距离从所述两个辅助参考点中筛选出第三基准面参考点,包括:分别获取各个辅助参考点与所述第一基准面参考点之间的距离,并将所述距离与第三预设距离之间距离差值最小的一个辅助参考点作为第三基准面参考点。5.如权利要求2所述的凹陷深度测量方法,其特征在于,所述多个基准面参考点包括第一基准面参考点、第二基准面参考点以及第三基准面参考点;所述基于预设距离从所述N个辅助参考点中筛选出多个基准面参考点,包括:分别获取所述N个辅助参考点中各个辅助参考点与所述基准凹坑边缘最高点之间的距离,并将所述距离与第一预设距离之间距离差值最小的一个辅助参考点作为第一基准面参考点;基于所述基准凹坑...

【专利技术属性】
技术研发人员:王宏伟罗运顾银雷艳冰
申请(专利权)人:东风汽车有限公司东风日产乘用车公司
类型:发明
国别省市:

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