检测方法及装置、检测设备和存储介质制造方法及图纸

本申请提供一种检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质。检测方法包括匹配待测图像和预设的模板图像，以获取第一图像区域；识别所述第一图像区域的连通域，以生成连通域图像；获取所述待测图像中与所述连通域图像对应的第二图像区域；比对所述第二图像区域和所述连通域图像，以检测所述待测图像的缺陷。检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质通过对待测图像整体匹配后、再对待测图像中的每个待测部分精准匹配，可提升待测图像和模板图像的匹配效果，然后对每个待测部分和对应的连通域图像进行比对，从而确定每个待测部分的缺陷，完成待测图像的缺陷检测，检测效果较好。检测效果较好。检测效果较好。

【技术实现步骤摘要】
检测方法及装置、检测设备和存储介质


[0001]本申请涉及检测
，特别涉及一种检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]在对工件进行检测，以确定工件的缺陷时，可采用模板匹配的方式，将工件的待测区域的图像和标准模板中对应的区域匹配，从而完成待测区域的整体匹配，但当待测区域内的存在发生偏移的部分时，匹配就不再准确，导致模板匹配的检测效果较差。

技术实现思路

[0003]本申请提供了一种检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质。
[0004]本申请实施方式的检测方法包括匹配待测图像和预设的模板图像，以获取第一图像区域；识别所述第一图像区域的连通域，以生成连通域图像；获取所述待测图像中与所述连通域图像对应的第二图像区域；比对所述第二图像区域和所述连通域图像，以检测所述待测图像的缺陷。
[0005]本申请实施方式的检测装置包括匹配模块、识别模块、获取模块和比对模块。匹配模块用于匹配待测图像和预设的模板图像，以获取第一图像区域；识别模块用于识别所述第一图像区域的连本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测方法，其特征在于，包括：匹配待测图像和预设的模板图像，以获取第一图像区域；识别所述第一图像区域的连通域，以生成连通域图像；获取所述待测图像中与所述连通域图像对应的第二图像区域；比对所述第二图像区域和所述连通域图像，以检测所述待测图像的缺陷。2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述模板图像包括第一模板和第二模板，所述第一模板为待测件的最小重复单元的图像，所述第二模板为所述最小重复单元的电路图像，所述匹配待测图像和预设的模板图像，以获取第一图像区域，包括：匹配所述待测图像和所述第一模板，以获取目标图像区域；基于所述第一模板和所述第二模板的映射关系，获取所述第二模板中与所述目标图像区域对应的图像区域，以作为所述第一图像区域。3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述第一模板包括呈2*2矩阵排列的4个所述最小重复单元的图像，所述第二模板包括呈2*2矩阵排列的4个所述电路图像。4.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，还包括：标注所述第一模板中的线路的轮廓，以生成所述第二模板；或获取预设的线路图，根据所述线路图生成所述第二模板。5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述识别所述第一图像区域的连通域，以生成连通域图像，包括：将所述第一图像区域中间距小于预定间距的一个或多个像素识别为同一所述连通域，以生成所述连通域图像。6.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述获取所述待测图像中与所述连通域图像对应的第二图像区域，包括：扩大所述连通域图像，以生成第三图像区域；将所述待测图像二值化，以生成二值化待测图像；获取所述二值化待测图像中与所述第三图像区域对应的第四图像区域；匹配所述连通域图像和所述第四图像区域，以获取所述第四图像区域中与所述连通域图像匹配的所述第二图像区域。7.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，所述匹配所述连通域图像和所...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈鲁，肖遥，佟异，张鹏斌，张嵩，
申请(专利权)人：深圳中科飞测科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：