分光测定装置制造方法及图纸

本发明专利技术的分光测定装置的一形态包括：框体(1)，构成外装；底座板(3)，在框体内且所述框体的底面板(1a)的上方具有规定间隔地相对于框体而固定；分光检测部(6)，包含衍射光栅、检测部及光学系统，且将它们相对于光学系统底座板(6a)而固定，所述衍射光栅对被测定光进行波长色散，所述检测部对利用衍射光栅进行了波长色散的光进行检测，所述光学系统将被测定光导入至衍射光栅和/或将由衍射光栅产生的波长色散光引导至检测部为止；多个振动吸收部(7)，具有振动吸收作用且将光学系统底座板相对于底座板而固定；以及电气电路部(5)，包含至少接收基于检测部的输出的电气电路，且配置在底面板与底座板之间的空间内。由此，能够提供耐振性、耐冲击性优异且为小形而富有省空间性的分光测定装置。定装置。定装置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】分光测定装置


[0001]本专利技术涉及一种分光测定装置。

技术介绍

[0002]作为分光测定装置之一，已知有非专利文献1等所公开的多通道分光器。一般的多通道分光器包括：分光部，对通过光纤等而输入的被测定光进行波长色散；以及线性传感器等的检测部，大致同时地检测遍布规定的波长范围的波长色散光(以下将分光部与检测部合起来称作“分光检测部”)。非专利文献1所公开的多通道分光器中，作为分光部，使用了利用衍射光栅的切尼
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特纳(Czerny
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Turner)型的分光器。此种多通道分光器主要被利用来大致实时地测定发光、吸收、反射等的光谱。
[0003]所述多通道分光器中，为了提高波长精度或波长分辨率等的性能，必须使用像素尺寸小的线性传感器来作为检测部，或者延长从衍射光栅直至线性传感器为止的波长色散光的光路长度。在采用了此种提高性能的结构时，因热膨胀或振动等引起的、光学元件的相对位置关系的微小变动或偏离成为精度下降的因素。
[0004]专利文献1所记载的装置中，为了防止配置在装置的框体内的电源变压器中产生的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种分光测定装置，包括：框体，构成外装；底座板，在所述框体内且所述框体的底面板的上方，与所述底面板具有规定间隔地相对于所述框体而固定；分光检测部，包含衍射光栅、检测部及光学系统，且将它们相对于光学系统底座板而固定，所述衍射光栅对被测定光进行波长色散，所述检测部对利用所述衍射光栅进行了波长色散的光进行检测，所述光学系统将被测定光导入至所述衍射光栅和/或将由所述衍射光栅产生的波长色散光引导至所述检测部为止；多个振动吸收部，具有振动吸收作用且将所述光学系统底座板相对于所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：平冈亮二，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：