分光测定装置制造方法及图纸

本发明专利技术的分光测定装置的一形态包括：框体(1)，构成外装；底座板(3)，在框体内且所述框体的底面板(1a)的上方具有规定间隔地相对于框体而固定；分光检测部(6)，包含衍射光栅、检测部及光学系统，且将它们相对于光学系统底座板(6a)而固定，所述衍射光栅对被测定光进行波长色散，所述检测部对利用衍射光栅进行了波长色散的光进行检测，所述光学系统将被测定光导入至衍射光栅和/或将由衍射光栅产生的波长色散光引导至检测部为止；多个振动吸收部(7)，具有振动吸收作用且将光学系统底座板相对于底座板而固定；以及电气电路部(5)，包含至少接收基于检测部的输出的电气电路，且配置在底面板与底座板之间的空间内。由此，能够提供耐振性、耐冲击性优异且为小形而富有省空间性的分光测定装置。定装置。定装置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】分光测定装置


[0001]本专利技术涉及一种分光测定装置。

技术介绍

[0002]作为分光测定装置之一，已知有非专利文献1等所公开的多通道分光器。一般的多通道分光器包括：分光部，对通过光纤等而输入的被测定光进行波长色散；以及线性传感器等的检测部，大致同时地检测遍布规定的波长范围的波长色散光(以下将分光部与检测部合起来称作“分光检测部”)。非专利文献1所公开的多通道分光器中，作为分光部，使用了利用衍射光栅的切尼
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特纳(Czerny
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Turner)型的分光器。此种多通道分光器主要被利用来大致实时地测定发光、吸收、反射等的光谱。
[0003]所述多通道分光器中，为了提高波长精度或波长分辨率等的性能，必须使用像素尺寸小的线性传感器来作为检测部，或者延长从衍射光栅直至线性传感器为止的波长色散光的光路长度。在采用了此种提高性能的结构时，因热膨胀或振动等引起的、光学元件的相对位置关系的微小变动或偏离成为精度下降的因素。
[0004]专利文献1所记载的装置中，为了防止配置在装置的框体内的电源变压器中产生的振动经由框体而传递至分光检测部，在作为框体的一部分的底面板、与设置于所述框体内的安装光学零件的光学系统底座之间，设有硅系聚合物等的防振材。通过所述防振材，防止振动从框体传递至光学系统底座。而且，所述装置中，对由检测部所检测出的信号进行处理的电气电路等的电气系统构件与光学系统底座在框体内沿水平方向隔开而设置，在所述两者之间竖立设置有分隔壁。通过所述分隔壁来防止电气系统构件所产生的热传递至光学系统底座。
[0005][现有技术文献][0006][专利文献][0007]专利文献1：日本专利特开平11
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264764号公报
[0008][非专利文献][0009]非专利文献1：“PMA
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12多通道分光器系列”，[在线]，[2020年2月3日检索]，浜松光学股份有限公司，国际互联网＜URL：https：//www.hamamatsu.com/resources/pdf/sys/SDSS0008J_PMA12.pdf＞

技术实现思路

[0010][专利技术所要解决的问题][0011]但是，专利文献1所记载的装置中，仅考虑了因电源变压器引起的振动等相对较小的振动。例如在装置的装配时或搬送时，有时可能对框体施加大的外力，但在所述装置中，未应对从外部施加至框体的大的振动或冲击等的外力，在分光检测部中，光学元件的位置关系有可能发生偏离，或者在最差的情况下，有可能造成破损。而且，一般而言，若欲应对此种大的外力，则还存在装置的尺寸变大而需要大的设置面积的问题。
[0012]本专利技术是为了解决此种课题而完成，其主要目的在于提供一种对于来自外部的振动或冲击具有高的耐受性，且小形而富有省空间性的分光测定装置。
[0013][解决问题的手段][0014]为了解决所述问题而完成的本专利技术的分光测定装置的一形态包括：
[0015]框体，构成外装；
[0016]底座板，在所述框体内且所述框体的底面板的上方，与所述底面板具有规定间隔地相对于所述框体而固定；
[0017]分光检测部，包含衍射光栅、检测部及光学系统，且将它们相对于光学系统底座板而固定，所述衍射光栅对被测定光进行波长色散，所述检测部对利用所述衍射光栅进行了波长色散的光进行检测，所述光学系统将被测定光导入至所述衍射光栅和/或将由所述衍射光栅产生的波长色散光引导至所述检测部为止；
[0018]多个振动吸收部，具有振动吸收作用且将所述光学系统底座板相对于所述底座板而固定；以及
[0019]电气电路部，包含接收基于所述检测部的输出的电气电路，且配置在所述底面板与所述底座板之间的空间内。
[0020]此处，振动吸收部例如可包含橡胶螺母(well nut)与螺栓。
[0021][专利技术的效果][0022]本专利技术的所述形态的分光测定装置中，例如当从外部对框体施加有冲击时，所述冲击经由框体与底座板的连接部而传递至所述底座板。并且，在力从底座板通过多个振动吸收部而传递至光学系统底座板的过程中，所述力被振动吸收部吸收。这样，在外力传播的路径中，底座板具有缓冲作用，因此与所述以往的装置相比，能够大幅抑制来自外部的力传递至分光检测部为止。
[0023]即，本专利技术的所述形态的分光测定装置中，分光检测部与框体外侧的环境被充分分离，分光检测部难以受到外部环境的影响。由此，根据本专利技术的所述形态的分光测定装置，例如在装置的装配时或搬送等时，即便有大的外力施加至框体的情况下，也能够防止分光检测部中的各光学元件的位置偏离等。而且，即便在分光测定的执行中有振动从外部施加至装置的情况下，也能够抑制所述测定结果的精度下降。再进而，即便在因外部环境的温度变化或配置在框体内部的构件的发热等导致框体产生了热应力的情况下，其影响也难以波及到分光检测部，从而能够抑制测定结果的精度下降。
[0024]而且，本专利技术的所述形态的分光测定装置中，作为振动吸收部，例如可使用橡胶螺母等廉价且适合于构件彼此的固定的构件，因此容易确保分光检测部的安装的机械强度。而且，本专利技术的所述形态的分光测定装置中，底座板作为加强框体的构件发挥功能，因此也能够提高框体自身的强度，从而能够提高相对于掉落等的冲击的耐受性。再进而，本专利技术的所述形态的分光测定装置中，采用了将电气电路部与分光检测部上下堆积的结构，因此能够减小装置的设置面积。再进而，本专利技术的所述形态的分光测定装置中，底座板防止电气电路部中产生的热传向光学系统底座板。由此，因光学系统底座板或光学元件自身的热膨胀造成的分析精度的下降也能够减轻。
附图说明
[0025]图1是作为本专利技术的一实施方式的多通道分光器的概略纵剖面图。
[0026]图2是以本实施方式的多通道分光器中的分光检测部为中心的光路结构图。
具体实施方式
[0027]以下，参照附图来说明作为本专利技术的分光测定装置的一实施方式的多通道分光器。
[0028]图1是本实施方式的多通道分光器的概略纵剖面图。
[0029]所述多通道分光器具有构成外装的大致长方体箱型状的框体1，在作为所述框体1的一部分的底面板1a的下表面安装有多个(例如六个)橡胶脚2。在框体1的内侧，通过螺丝(未图示)等，从底面板1a隔开规定距离而与所述底面板1a大致平行地安装有底座板3，框体1的内部空间通过所述底座板3而上下分隔。在底座板3之上，经由具有吸收振动的功能的多个防振固定部7而安装有分光检测部6。即，分光检测部6被设在框体1内的上部空间。另一方面，在底面板1a与底座板3之间的下部空间4内，配置有电气电路部5，所述电气电路部5包含搭载有各种电气电路零件的电气电路基板或电源变压器等。
[0030]本例中，防振固定部7分别包含橡胶螺母与螺栓。通过将橡胶螺母插入至设于底座板3的孔内，并将插通于设在分光检测部6的光学系统底座板6a上的孔的螺栓螺入至橡胶螺母的螺丝孔而紧固，从而光学系统底座板6a相对本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种分光测定装置，包括：框体，构成外装；底座板，在所述框体内且所述框体的底面板的上方，与所述底面板具有规定间隔地相对于所述框体而固定；分光检测部，包含衍射光栅、检测部及光学系统，且将它们相对于光学系统底座板而固定，所述衍射光栅对被测定光进行波长色散，所述检测部对利用所述衍射光栅进行了波长色散的光进行检测，所述光学系统将被测定光导入至所述衍射光栅和/或将由所述衍射光栅产生的波长色散光引导至所述检测部为止；多个振动吸收部，具有振动吸收作用且将所述光学系统底座板相对于所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：平冈亮二，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：