一种压接孔测试治具制造技术

技术编号:35543025 阅读:17 留言:0更新日期:2022-11-09 15:12
本实用新型专利技术公开了一种压接孔测试治具,包括底板、隔板、面板,还包括测针组件、定位销;所述隔板和所述面板上均设有孔组,所述测针组件与所述孔组对应,所述定位销竖向延伸于所述面板的上表面外侧并且其上端高于所述测针组件的上端。通过在面板上设置测针组件以及定位销,可以将压接孔测试治具准确对接至PCB并对PCB板上的所有压接孔进行一次通过测试,由于测针组件是活动插设于隔板组件和面板,如果PCB板件存在孔径偏小的异常压接孔,测试完成后,异常压接孔会使对应的测针脱出,从而可以快速确认异常压接孔,如果存在其他的异常孔导致测针出现弯针,也可以快速确认,提高了测试效率。效率。效率。

【技术实现步骤摘要】
一种压接孔测试治具


[0001]本技术涉及PCB测试
,特别涉及一种压接孔测试治具。

技术介绍

[0002]PCB作为仪器设备的一部分,必然要进行外部连接,如PCB之间、PCB与板外元器件、PCB与设备面板之间的电气连接,PCB会通过安装PCB连接器来进行信号传输。具体的,PCB上形成有压接孔,PCB连接器的压针插入压接孔进行信号连通,然而在使用过程中,常常会有连接器的压针发生跪针现象,因此PCB的钻孔检测成为保证产品质量的重要环节。
[0003]为了确保PCB连接器与PCB板准确互配,通常要对PCB板上的压接孔进行全部检测,目前多采用人工针规测试或用三次元设备测试,两种方法分别存在以下问题:
[0004]1、人工针规测试,因孔数多,只能抽测部分孔径,无法做到100%全测。如全测,效率低下,也会有漏测孔的风险现象存在。
[0005]2、三次元设备可以100%测试,但孔数多,测试时间也长,测试效率同样低下,不合格的孔无法及时确认,并且在电脑上找确认的位置也不方便,时间长,导致机器的利用率就会低下。

技术实现思路

[0006]本技术目的在于提供一种压接孔测试治具以解决现有技术中所存在的一个或多个技术问题,至少提供一种有益的选择或创造条件。
[0007]为解决上述技术问题所采用的技术方案:
[0008]本技术提供一种压接孔测试治具,包括由下至上依次层叠设置的底板、隔板、面板,还包括测针组件、定位销;所述测针组件包括多根的测针,所述隔板和所述面板上均设有孔组,所述孔组包括多个排布有序的通孔,所述测针组件与所述孔组对应,每根所述的测针均沿着竖直方向与所述隔板和所述面板活动插接,所述测针的底部与所述底板抵接,所述测针的顶部延伸于所述面板的上表面外侧,所述定位销竖直延伸于所述面板的上表面外侧并且其上端高于所述测针组件的上端。
[0009]本技术的有益效果是:通过在面板上设置测针组件以及定位销,可以将压接孔测试治具准确对接至PCB并对PCB板上的多个压接孔进行一次通过测试,由于测针组件是活动插设于隔板组件和面板,如果PCB板件存在孔径偏小的异常压接孔,测试完成后,异常压接孔会使对应的测针脱出,从而可以快速确认异常压接孔,如果存在其他的异常孔导致测针出现弯针,也可以快速确认,提高了测试效率。
[0010]作为上述技术方案的进一步改进,所述隔板上还固定有测针卡滞片,所述测针卡滞片覆盖在所述孔组上,所述测针卡滞片设置为对测针产生摩擦力。
[0011]通过增加测针卡滞片,利用测针卡滞片的摩擦力,使得测针不会轻易从治具上被整个带出影响测试效果。
[0012]作为上述技术方案的进一步改进,所述测针卡滞片采用柔性材料。所述测针卡滞
片采用柔性材料,设置为由测针扎破形成测针卡滞孔,这样形成的测针卡滞孔将紧紧的包围测针产生较大的摩擦力,因此不需要预先加工测针过孔,同时也使测针容易插入。
[0013]作为上述技术方案的进一步改进,所述测针卡滞片为海绵布。
[0014]作为上述技术方案的进一步改进,所述隔板有两片以上,还包括垫片,所述垫片设于隔板之间或位于隔板与底板之间。增加垫片,可以提高治具的整体厚度,使得测针更加稳定。
[0015]作为上述技术方案的进一步改进,所述测针卡滞片粘贴于隔板的下端面。测针在穿刺的过程中,先穿过隔板再通过测针卡滞片,从而使得测针更加牢靠。
[0016]作为上述技术方案的进一步改进,位于最下方的隔板为底部隔板,所述底部隔板的厚度大于其余的隔板的厚度。如此设置保证了测针被底板支撑的同时其针尾能够保持稳定不晃动。
[0017]作为上述技术方案的进一步改进,所述底板、所述隔板、所述面板由竖向贯穿设置的支柱紧固。
[0018]作为上述技术方案的进一步改进,所述定位销从上往下贯穿所述面板以及隔板。
[0019]作为上述技术方案的进一步改进,所述面板采用不锈钢材料。保证测针在重复使用过程中,不会使面板的孔径磨损而变大,从而保证测针的稳定性。
附图说明
[0020]下面结合附图和实施例对本技术做进一步的说明;
[0021]图1是本技术压接孔测试治具实施例的主视图;
[0022]图2是本技术压接孔测试治具实施例的立体结构示意图(部分测针未画出)。
具体实施方式
[0023]本部分将详细描述本技术的具体实施例,本技术之较佳实施例在附图中示出,附图的作用在于用图形补充说明书文字部分的描述,使人能够直观地、形象地理解本技术的每个技术特征和整体技术方案,但其不能理解为对本技术保护范围的限制。
[0024]在本技术的描述中,需要理解的是,涉及到方位描述,例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。
[0025]本技术的描述中,除非另有明确的限定,设置、安装、连接等词语应做广义理解,所属
技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本技术中的具体含义。
[0026]实施例一,参照图1~图2描述本技术实施例的压接孔测试治具,包括一块底板100、四块隔板200、一块面板300、四根的定位销500,还包括四根的支柱700、八块的垫片800以及两块的测针卡滞片600。
[0027]具体的,所述底板100为厚度3mm的硬质板材,所述的底板100 呈四方形,在该底板100的四个角位置钻有内径为2mm、外径为4mm 的沉头孔。所述底板100主要起到支撑整个治
具的作用,将支柱700 固定,以及顶住定位销500以及测针,为测针在测试过程中提供支撑力。
[0028]所述支柱700为铜制实心圆形柱状体,外径为3.2mm,所述支柱 700的上下两端加工有螺孔,通过沉头螺丝,将所述四根的支柱700 固定在所述底板100的四个角处。所述的支柱700既起到连接导向的作用,也起到固定隔板200以及面板300的作用。
[0029]四块所述的隔板200完全一样,所述的隔板200采用的是普通不易变形的板材(例如木板),厚度可以为1.5mm,所述的隔板200 同样为四方形,且所述隔板200的长度与宽度均与所述底板100相同。在所述隔板200的四角处均加工有安装孔,所述安装孔能供所述支柱 700穿过;而在隔板200的中央区域设有孔组,所述孔组由若干个细小的通孔组成。而在孔组的四周设有四个的定位孔,所述定位孔的孔径与所述定位销300匹配,参见图2,所述的孔组分为了A区域与B 区域,每个区域均设有若干个排布有序的通孔。所述孔组的排布以及通孔的孔径大小是根据要检测的PCB所决定的。例如,一般PCB的压接孔的孔径为0.27mm
±
0.04mm,本实施例的通孔的内径取压接孔的负公差,即通孔的孔径为0.2本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种压接孔测试治具,其特征在于:包括由下至上依次层叠设置的底板(100)、隔板(200)、面板(300),还包括测针组件(400)、定位销(500);所述测针组件(400)包括多根的测针,所述隔板(200)和所述面板(300)上均设有孔组,所述孔组包括多个排布有序的通孔,所述测针组件(400)与所述孔组对应,每根所述的测针均沿着竖直方向与所述隔板(200)和所述面板(300)活动插接,所述测针的底部与所述底板(100)抵接,所述测针的顶部延伸于所述面板(300)的上表面外侧,所述定位销(500)竖直延伸于所述面板(300)的上表面外侧并且其上端高于所述测针组件(400)的上端。2.根据权利要求1所述的压接孔测试治具,其特征在于:所述隔板(200)上还固定设有测针卡滞片(600),所述测针卡滞片(600)覆盖在所述孔组上,所述测针卡滞片(600)设置为对测针产生摩擦力。3.根据权利要求2所述的压接孔测试治具,其特征在于:所述测针卡滞片(600)采用柔性材料。4.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员:何常时彭志超陈年
申请(专利权)人:生益电子股份有限公司
类型:新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1