一种多光学元件的同轴调试装置及调试方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种多光学元件的同轴调试装置，包括光线发射器；折射元件，设于所述光线发射器的进光侧；以及多组反射组件，活动设于壳体上，且所述壳体位于所述折射元件的出光侧，其中，当转动所述反射元件时，多束反射光汇交于某一点。通过本发明专利技术公开的一种多光学元件的同轴调试装置及调试方法，能够有效提高光学元件的同轴调试效率。件的同轴调试效率。件的同轴调试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种多光学元件的同轴调试装置及调试方法


[0001]本专利技术涉及光学元件
，特别是涉及一种多光学元件的同轴调试装置及调试方法。

技术介绍

[0002]在光学元件调试中，由于光学元件较大，每种光学元件与经纬仪之间的距离调节不便，因此无法匹配不同光学元件观察调试的最佳焦距，现有的光学元件调试装置结构繁杂、调试方法复杂、调试效率低下。

技术实现思路

[0003]鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术的目的在于提供一种多光学元件的同轴调试装置及调试方法，本专利技术能够有效提高光学元件的同轴调试效率。
[0004]为实现上述目的及其他相关目的，本专利技术提供一种多光学元件的同轴调试装置，其包括：
[0005]光线发射器；
[0006]折射元件，设于所述光线发射器的进光侧；以及
[0007]多组反射组件，活动设于壳体上，且所述壳体位于所述折射元件的出光侧；
[0008]其中，当转动所述反射组件时，多束反射光汇交于某一点。
[0009]在本专利技术一实施例中，所述光线发射器为经纬仪，且所述经纬仪可拆卸设于伸缩支架上。
[0010]在本专利技术一实施例中，还包括：
[0011]调试基板，可拆卸设于所述壳体上；以及
[0012]光线校准元件，设于所述光线发射器的一侧。
[0013]在本专利技术一实施例中，所述调试基板为长方体形状，所述调试基板上设有多个定位孔，其中，中间的两个定位孔确定的直线方向为模拟光路方向。
[0014]在本专利技术一实施例中，所述壳体为整体或拼接结构，所述壳体固定设于升降台上，且所述壳体上开设有与所述反射组件的数量相对应的通孔。
[0015]在本专利技术一实施例中，所述反射组件包括：
[0016]底座，设于所述壳体的一侧；
[0017]晶体固定板，设于所述底座的一侧；
[0018]反射晶体，设于所述晶体固定板上；以及
[0019]挡板，可拆卸设于所述晶体固定板的一侧；
[0020]在本专利技术一实施例中，所述底座包括：
[0021]至少一组弹簧组件；
[0022]至少一个压电促动器，穿过所述底座，并与所述晶体固定板连接；以及
[0023]多个限位开关，设于所述压电促动器的一侧，且所述限位开关的数量为所述压电
促动器的数量的两倍。
[0024]在本专利技术一实施例中，所述弹簧组件包括：
[0025]恒力轴，固定设于底座上；
[0026]钢丝绳，固定设于所述晶体固定板上；
[0027]恒力弹簧，一端连接在所述恒力轴上，另一端连接在所述钢丝绳上。
[0028]本专利技术还提供一种多光学元件的同轴调试方法，应用在调试装置中，所述调试方法包括步骤：
[0029]获取出射光，所述出射光为平行光；
[0030]对所述出射光进行折射处理，获取多束折射光；
[0031]通过多个所述反射晶体对多束折射光进行反射处理，获取多束反射光；
[0032]对所述反射光进行偏摆处理，使多束所述反射光聚焦于某一点。
[0033]在本专利技术一实施例中，获取所述出射光时，所述出射光的照射方向与模拟光路的方向相同，多个所述反射光相交的点为所有的所述反射晶体的中心法线的交点。
[0034]如上所述，本专利技术提供一种多光学元件的同轴调试装置及调试方法，能够简化光学元件的同轴调试装置的结构，且通过简单的同轴调试方法提高光学元件的调试效率。
附图说明
[0035]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0036]图1显示为本专利技术的一种多光学元件的同轴调试装置的整体示意图。
[0037]图2显示为本专利技术的一种多光学元件的同轴调试装置的工作状态的示意图。
[0038]图3显示为本专利技术的一种多光学元件的同轴调试装置的局部结构示意图。
[0039]图4显示为本专利技术的一种多光学元件的同轴调试装置的调试基板的结构示意图。
[0040]图5显示为图3的A部分的结构示意图。
[0041]图6显示为图3的A部分的局部结构示意图。
[0042]图7显示为图3的A部分的侧视图。
[0043]图8显示为本专利技术的一种多光学元件的同轴调试方法的流程图。
[0044]元件标号说明：
[0045]10、光线发射器；20、折射元件；30、光线校准元件；40、升降台；41、壳体；42、调试基板；421、定位孔；43、反射组件；431、底座；432、晶体固定板；4321、压紧块；4322、弹片；4323、卡勾；433、反射晶体；434、挡板；435、弹簧组件；4351、恒力轴；4352、钢丝绳；4353、恒力弹簧；436、压电促动器；437、限位开关。
具体实施方式
[0046]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它
实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0047]请参阅图1所示，本专利技术提供了一种多光学元件的同轴调试装置，在光学元件调试中，由于光学元件较大，每种光学元件与经纬仪之间的距离调节不便，因此无法匹配不同光学元件观察调试的最佳焦距，导致现有的光学元件调试装置结构繁杂，调试效率低下，因此简单有效的调试装置能够提高调试效率。具体的，调试装置可以包括光线发射器10、折射元件20、光线校准元件30、升降台40、壳体41、调试基板42以及反射组件43。光线发射器10可拆卸设于伸缩支架上，光线发射器10可以为经纬仪，也可以为其他光源，只要满足发射的光为平行光即可。折射元件20安装在光线发射器10的进光侧，折射元件20可以为凸透镜，也可以为其他透镜，只要满足能够将平行光折射后汇交于某一点即可。光线校准元件30设于光线发射器10的一侧，且光线校准元件30可以为水准仪，也可以为其他的高度校准元件。
[0048]请参阅图3所示，在本专利技术的一个实施例中，升降台40固定设于远离折射元件20的一侧，且升降台40包括升降机构以及旋转机构，用于对壳体41进行高度及旋转角度调节。壳体41固定连接在升降台40上，壳体41可以为整体结构，然不限于此，壳体41也可以为拼接结构，只要满足能够使反射组件43呈一定的倾斜角度即可。壳体41上开设有多个大小相同的通孔，例如，壳体41上可以开设有25个大小相同的通孔，然不限于此，壳体41上也可以开设30个大小相同的通孔等。调试基板42可拆卸设于壳体41上，调试基板42为长方体形状，然不限于此，也可以为正方体形状或者其他形状。调试基板42上开设有多个定位孔421，其中，中间的两个定位孔4本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多光学元件的同轴调试装置，其特征在于，包括：光线发射器；折射元件，设于所述光线发射器的进光侧；以及多组反射组件，活动设于壳体上，且所述壳体位于所述折射元件的出光侧；其中，当转动所述反射组件时，多束反射光汇交于某一点。2.根据权利要求1所述的多光学元件的同轴调试装置，其特征在于，所述光线发射器为经纬仪，且所述经纬仪可拆卸设于伸缩支架上。3.根据权利要求1所述的多光学元件的同轴调试装置，其特征在于，还包括：调试基板，可拆卸设于所述壳体上；以及光线校准元件，设于所述光线发射器的一侧。4.根据权利要求1所述的多光学元件的同轴调试装置，其特征在于，所述调试基板为长方体形状，所述调试基板上设有多个定位孔，其中，中间的两个定位孔确定的直线方向为模拟光路方向。5.根据权利要求1所述的多光学元件的同轴调试装置，其特征在于，所述壳体为整体或拼接结构，所述壳体固定设于升降台上，且所述壳体上开设有与所述反射组件的数量相对应的通孔。6.根据权利要求1所述的多光学元件的同轴调试装置，其特征在于，所述反射组件包括：底座，设于所述壳体的一侧；晶体固定板，设于所述底座的一侧；反射晶体，设于所述晶体固定板上；以及挡板，可拆...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨兴宇，耿继宝，王超，李朝阳，
申请(专利权)人：安徽创谱仪器科技有限公司，
类型：发明
国别省市：