【技术实现步骤摘要】
一种涂胶显影机用平整度测定装置及其方法
[0001]本专利技术涉及涂胶显影机
,具体为一种涂胶显影机用平整度测定装置及其方法。
技术介绍
[0002]涂胶显影机是在光刻工序中和光刻机配套使用的机器,主要对半导体器件起到涂胶、烘烤和显影的作用,涂胶显影机是集成电路生产过程中不可或缺的设备,能够直接影响到光刻工序中曝光图案的形成。
[0003]涂胶显影机对半导体器件进行涂胶前,需要对半导体的平整度进行测定,现有的平整度测定方法多是选择激光位移传感器,由于激光位移传感器的位置是固定的,所以只能对半导体器件的单个水平位置进行测定,又不能根据半导体器件的厚度对激光位移传感器的高度进行调节,不但影响测定结果,导致对半导体的平整度出现误判,降低激光位移传感器的实用性,且影响企业形象,其次涂胶显影机内部的元件较多,且在工作时容易产生震动,使得半导体器件在放置时的位置容易出现偏移,不但影响涂胶效果,更影响对半导体器件的平整度进行测定,为解决上述问题,一种涂胶显影机用平整度测定装置及其方法,亟待开发。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的在于提供一种涂胶显影机用平整度测定装置及其方法,具备激光位移传感器高度和水平位置可调节和对半导体器件进行固定的优点,解决了上述
技术介绍
提出的问题。
[0005]为达成上述目的,本专利技术提供如下技术方案:一种涂胶显影机用平整度测定装置,包括:涂胶显影机,所述涂胶显影机内腔的左侧设置有横移结构;
[0006]所述横移结构包含有与涂胶显影机固定连接的固定架 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种涂胶显影机用平整度测定装置,包括:涂胶显影机(1),其特征在于:所述涂胶显影机(1)内腔的左侧设置有横移结构(2);所述横移结构(2)包含有与涂胶显影机(1)固定连接的固定架(21),所述固定架(21)的一侧设置有电机一(22),所述电机一(22)的输出轴固定连接有主动皮带轮(24),所述固定架(21)的一侧固定连接有稳固板一(25),所述稳固板一(25)的一侧设置有从动皮带轮(26),所述从动皮带轮(26)通过皮带与主动皮带轮(24)传动连接,所述主动皮带轮(24)和从动皮带轮(26)的一侧分别固定连接有螺纹杆一(27)和螺纹杆二(28),所述螺纹杆一(27)和螺纹杆二(28)的一端均与固定架(21)转动连接,所述螺纹杆一(27)和螺纹杆二(28)的表面均与稳固板一(25)转动连接,所述螺纹杆一(27)和螺纹杆二(28)的表面共同螺纹连接有活动架(23);所述固定架(21)的一侧设置有纵移结构(3);所述纵移结构(3)包含有位于电机一(22)下方的电机二(31),所述电机二(31)的输出轴固定连接有圆杆(32),所述圆杆(32)的一端与固定架(21)转动连接,所述活动架(23)位于圆杆(32)的表面并与圆杆(32)滑动连接,所述圆杆(32)表面的顶部和底部均固定连接有凸条(34),所述活动架(23)的内腔且位于圆杆(32)的表面滑动连接有蜗杆(33),所述蜗杆(33)内腔的顶部和底部均开设有与凸条(34)相适配的凹槽,所述活动架(23)内腔的顶部转动连接有螺纹杆三(35),所述螺纹杆三(35)的底端贯穿至活动架(23)的底部并固定连接有蜗轮(36),所述蜗轮(36)与蜗杆(33)相啮合,所述螺纹杆三(35)的表面螺纹连接有螺纹块(37),所述螺纹块(37)的一侧设置有激光位移传感器(38);所述涂胶显影机(1)内腔的底部设置有定位机构(4);所述定位机构(4)包含有与涂胶显影机(1)固定连接的外壳(41),所述外壳(41)的后侧贯穿至涂胶显影机(1)的后侧,所述外壳(41)内腔的一侧固定连接有电动伸缩杆(42),所述电动伸缩杆(42)的表面套接有圆套(43),所述圆套(43)表面的顶部固定连接有连接板(44),所述电动伸缩杆(42)的输出端固定连接有齿板一(45),所述外壳(41)的内腔转动连接有齿轮(46),所述外壳(41)内腔的前侧和后侧均开设有稳固槽(412),所述稳固槽(412)的内腔滑动连接有连动板(48),所述连动板(48)的底部固定连接有齿板二(47),所述齿轮(46)分别与齿板一(45)和齿板二(47)相啮合,所述连动板(48)和连接板(44)的顶部均固定连接有传动块(49),所述传动块(49)的顶部延伸至外壳(41)的外侧并固定连接有夹持板(410),所述外壳(41)的顶部开设有两个呈对称设置并与传动块(49)滑动连接的滑槽(411)。2.根据权利要求1所述的一种涂胶显影机用平整度测定装置,其特征在于:所述电机一(22)和电机二(31)的一侧均通过螺栓与固定架(21)可拆卸连接。3.根据权利要求1所述的一种涂胶显影机用平整度测定装置,其特征在于:所述圆杆(32)的表面转动连接有稳固板二(5),所述稳固板二(5)的一侧与固定架(21)固定连接。4.根据权利要求1所述的一种涂胶显影机用平整度测定装置,其特...
【专利技术属性】
技术研发人员:王作义,朱莉,高万智,何立新,
申请(专利权)人:广奕电子科技宁波有限公司,
类型:发明
国别省市:
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