引脚状态检测装置、方法和编程器制造方法及图纸

本申请涉及一种引脚状态检测装置、方法和编程器。该引脚状态检测装置包括输入输出电路和比较器，其中：输入输出电路，分别与芯片的电源引脚和芯片的待测引脚连接，用于将电源引脚配置为与电源引脚的类型所不同的电源模式，以及将待测引脚配置为对应的阻抗调节模式；比较器的第一输入端与处于阻抗调节模式的待测引脚连接，用于接收引脚输出信号；比较器的第二输入端用于接收预设比较信号，比较器用于根据引脚输出信号和预设比较信号确定用于表征引脚使用状态的检测电平。采用本装置能够提高引脚检测的安全性。脚检测的安全性。脚检测的安全性。

【技术实现步骤摘要】
引脚状态检测装置、方法和编程器


[0001]本申请涉及电子电路
，尤其是一种引脚状态检测装置、方法和编程器。

技术介绍

[0002]一般芯片的引脚内部集成有保护二极管电路。其中一个保护二极管的阳极接引脚，阴极接VDD引脚；另一个保护二极管的阴极接该引脚，阳极接VSS引脚。那么当芯片的工作电路处于正常工作状态时，保护二极管处于截止状态，此时不会影响芯片的正常工作。当工作电路出现异常过压并且达到保护二极管击穿电压时，保护二极管就会从高阻态变为低阻态，此时保护二极管导通，为瞬间激增的电流提供一条通路，同时把异常电压钳制在一个安全范围以内，避免引脚的异常电压损坏集成芯片内部电路，从而保护集成芯片。
[0003]传统的引脚状态连通性检测方法主要是将待测芯片的VCC引脚与供电电源断开，并且将VCC引脚连接到一设备的检测引脚。将芯片的GND引脚与GND网络断开，并将供电电源串接一个加载电阻后加载于芯片的GND引脚；通过设备检查剩余引脚的高低电平状态实现对二极管的检测。该检测方式存在引脚状态检测不准确的问题。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种引脚状态检测装置、方法和编程器，相较于传统方式安全性高，并且引脚状态检测更加准确。
[0005]一种引脚状态检测装置，所述装置包括输入输出电路和比较器；
[0006]所述输入输出电路，分别与芯片的电源引脚和所述芯片的待测引脚连接，用于将电源引脚配置为与所述电源引脚的类型所不同的电源模式，以及将所述待测引脚配置为对应的阻抗调节模式；
[0007]所述比较器的第一输入端与处于所述阻抗调节模式的待测引脚连接，用于接收引脚输出信号；所述比较器的第二输入端用于接收预设比较信号，所述比较器用于根据所述引脚输出信号和所述预设比较信号确定用于表征引脚使用状态的检测电平。
[0008]一种引脚状态检测方法，应用于芯片的引脚使用状态检测，所述方法包括：
[0009]将电源引脚配置为与所述电源引脚的类型所不同的电源模式，以及将待测引脚配置为对应的阻抗调节模式；
[0010]接收处于所述阻抗调节模式下所述待测引脚的引脚输出信号；
[0011]将所述引脚输出信号与预设比较信号进行比较，获得用于表征引脚使用状态的检测电平。
[0012]一种编程器，用于实现本申请各实施例中方法的步骤。
[0013]上述引脚状态检测装置、方法和编程器，输入输出电路，分别与电源引脚和待测引脚连接，用于将电源引脚配置为与电源引脚的类型所不同的电源模式，以及将待测引脚配置为对应的阻抗调节模式，通过比较器根据引脚输出信号和预设比较信号确定用于表征引脚使用状态的检测电平，检测电路简单，安全性高，可操控性强，配置比较器输出比较电压
可以快速检测出芯片引脚是否存在保护二极管以及开路、短路等情况，准确性高。
附图说明
[0014]图1为一个实施例中引脚状态检测装置的结构框图；
[0015]图2为一个实施例中检测VDD引脚和待测引脚之间的保护二极管的电路示意图；
[0016]图3为一个实施例中检测VSS引脚和待测引脚之间的保护二极管的电路示意图；
[0017]图4为一个实施例中引脚状态检测方法的流程示意图。
具体实施方式
[0018]应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
[0019]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有付出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0020]需要说明，本申请实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变，所述的连接可以是直接连接，也可以是间接连接。
[0021]另外，在本申请中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本申请要求的保护范围之内。
[0022]本申请所使用的术语“第一”、“第二”等可在本文中用于描述各种元件，但这些元件不受这些术语限制。这些术语仅用于将第一个元件与另一个元件区分。距离来说，在不脱离本申请的范围的情况下，可以将第一开关管称为第二开关管，且类似地，可将第二开关管称为第一开关管。第一开关管和第二开关管两者都是开关管，但其不是同一开关管。
[0023]可以理解，以下实施例中的“连接”，如果被连接的电路、模块、单元等相互之间具有电信号或数据的传递，则应理解为“电连接”、“通信连接”等。
[0024]比较器是通过比较两个输入端的电流或电压的大小，在输出端输出不同电压结果的一种电子元件。(输出是高或低)以引脚输出信号的电平大于预设比较信号的电平时比较器输出高电平，引脚输出信号的电平小于预设比较信号的电平时比较器输出低电平为例进行说明。本申请实施例中以正电源引脚为VDD引脚、地端引脚为VSS引脚、待测引脚包括IO1引脚和IO2引脚为例进行说明。可以理解的是，芯片除了IO1引脚之外还有其它引脚。
[0025]在一个实施例中，传统的方式芯片引脚耐压值较低，其直接与待测芯片的引脚连接存在损坏芯片的风险；并且通过设备检查剩余引脚的高低电平状态实现对二极管的检测，仅能检测是否存在引脚，存在引脚状态检测不准确的问题，因此提出了本申请各实施例中的技术方案。如图1所示，为一个实施例中引脚状态检测装置的结构框图。图1中包括芯片
100、输入输出电路200和比较器300。芯片100包括引脚，引脚包括电源引脚110和待测引脚120。电源引脚110与输入输出电路200连接，待测引脚120与输入输出电路200连接。比较器300的第一输入端与处于阻抗调节模式的待测引脚120连接，第二输入端用于接收预设比较信号，输出端用于输出检测电平。芯片100、输入输出电路200和比较器300位于编程器中，芯片100放入编程器上的IC座中。
[0026]芯片中除了待测引脚，还有其它引脚，且其它引脚分别与各输入输出电路相连接。即一个引脚对应一个输入输出电路。例如，一个芯片有8个引脚，那么这8个引脚每个引脚均对应一个输入输出电路，总共对应8个输入输出电路。并且，同一芯片的引脚所对应的输入输出电路的电路结构可以相同。
[0027]一种引脚状态检测装置，装置包括输入输出电路和比较器；
[0028]输入输出电路，分别与芯片的电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种引脚状态检测装置，其特征在于，所述装置包括输入输出电路和比较器；所述输入输出电路，分别与芯片的电源引脚和所述芯片的待测引脚连接，用于将所述电源引脚配置为与所述电源引脚的类型所不同的电源模式，以及将所述待测引脚配置为对应的阻抗调节模式；所述比较器的第一输入端与处于所述阻抗调节模式的待测引脚连接，用于接收引脚输出信号；所述比较器的第二输入端用于接收预设比较信号，所述比较器用于根据所述引脚输出信号和所述预设比较信号确定用于表征引脚使用状态的检测电平。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述预设比较信号包括第一比较信号和第二比较信号；所述第一比较信号和所述第二比较信号所表征的电压值不同；所述装置还包括处理器；所述比较器用于将所述引脚输出信号与所述第一比较信号进行比较，获得第一检测电平；当所述第一检测电平为第一电平时，将所述引脚输出信号与所述第二比较信号进行比较，获得第二检测电平；所述处理器用于当所述第二检测电平为第二电平时，确定所述待测引脚处于正常使用状态。3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述电源引脚包括正电源引脚；所述输入输出电路，用于将所述正电源引脚配置为接地模式，以及将所述待测引脚配置为上拉模式；第一比较电压值和第二比较电压值中的一个电压值取值为0至保护二极管压降之间的值，另一个电压值取值为所述保护二极管压降至所述上拉模式的电源电压之间的值；所述第一比较电压值是所述第一比较信号所表征的电压值；所述第二比较电压值是所述第二比较信号所表征的电压值。4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述电源引脚包括地端引脚；在根据所述第一检测电平或所述第二检测电平确定所述待测引脚处于短路状态的情况下，所述输入输出电路用于将所述地端引脚配置为供电模式，将除了处于短路状态的待测引脚之外的其它待测引脚配置为下拉模式。5.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述电源引脚包括地端引脚；所述输入输出电路，用于将所述地端引脚配置为供电模式，将所述待测引脚以及所述正电源引脚配置为下拉模式；第一比较电压值和第二比较电压值中的一个电压值取值为0和目标差值之间的值，另一个电压值取值为所述目标差值和所述供电模式所表征的供电电压之间的值；所述第一比较电压值是所述第一比较信号所表征的电压值；所述第二比较电压值是所述第二比较信号所表征的电压值；所述目标差值为所述供电电压与保护二极管压降之间的差值。6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述预设比较信号包括第一比较信号和第二比较信号；所述装置还包括处理器；所述输入输出电路还用于将从所述芯片各引脚中选中的第一引脚配置为接地模式；以及将除所述第一引脚之外的第二引脚配置为上拉模式；所述比较器还用于将处于上拉模式的所述第二引脚的引脚输出信号与所述第一比较
信号进行比较，获得第一检测电平；当所述第一检测电平为第一电平时，将所述引脚输出信号与所述第二比较信号进行比较，获得第二检测电平；所述处理器用于当所述第二检测电平为第二电平时，确定所述第一引脚为正电源引脚；第一比较电压值和第二比较电压值中的一个电压值取值为0至保护二极管压降之间的值，另一个电压值取值为所述保护二极管压降至所述上拉模式的电源电压之间的值；所述第一比较电压值是所述第一比较信号所表征的电压值；所述第二比较电压值是所述第二比较信号所表征的电压值。7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述处理器还用于在遍历完所述芯片的引脚之后，获得两个待定的正电源引脚；所述输入输出电路，用于将两个所述待定的正电源引脚中的一个配置为供电模式，另一个配置为下拉模式，以从所述两个待定的正电源引脚中确定正电源引脚和地端引脚；或者所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：ꢀ五一IntClG零一R三一二八，
申请(专利权)人：深圳数马电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：