本申请涉及一种无测试向量集成电路产品测试方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：针对从属于目标集成电路产品且依赖于测试向量的目标测试项目，获取目标测试项目的功能测试用例，并将所有功能测试用例存储于存储模块中；确定目标集成电路产品的当前待测测试项目；判断当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目，若是，则从存储模块中调取目标功能测试用例，通过目标功能测试用例对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果；根据测试结果，确定当前待测测试项目是否通过测试。从而在集成电路产品研制厂商不愿提供或者不能提供测试向量的情况下，实现对缺乏测试向量的测试项目的测试。量的测试项目的测试。量的测试项目的测试。
【技术实现步骤摘要】
无测试向量集成电路产品测试方法、装置和计算机设备
[0001]本申请涉及集成电路测试
，特别是涉及一种无测试向量集成电路产品测试方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。
技术介绍
[0002]集成电路产品在被交付到使用方前会经过种类繁多的测试，以便验证其质量可靠性。集成电路产品的测试项目通常包含直流参数、交流参数、接口参数、功能和应用性能等，其中交直流参数测试需要依赖ATE测试系统，其他接口参数、功能、应用性能等测试项目可以在ATE测试系统或板级测试系统之间合理选择。由于集成电路产品功能通常较为复杂，为了实现对集成电路产品的测试项目的测试，需要从研发端基于该集成电路产品设计结构及功能开发测试向量，并转换到ATE测试系统中结合程序调用开展测试项目的测试。测试向量是ATE测试系统对集成电路产品的测试项目进行测试的重要前提和基础。
[0003]相关技术中，对于需要依赖测试向量才能完成测试的目标测试项目，通常基于集成电路产品研制厂商的测试向量，完成对待测集成电路产品的目标测试项目的测试。具体地，通过ATE测试系统将研制厂商的测试向量下载到待测集成电路产品，从而开展测试，所有测试流程及测试向量的配置由ATE测试系统控制和完成。但是随着集成电路产品国产化的推进以及市场应用需求的日益增大，越来越多的集成电路产品需要由使用方、第三方或者非自主研发的研制厂商开展测试，由于存在集成电路产品研制厂商不愿提供或者不能提供测试向量的情况，在此情况下，则使用方、第三方或者非自主研发的研制厂商将难以完成对集成电路产品的测试项目的完整测试。
技术实现思路
[0004]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够在集成电路产品研制厂商不愿提供或者不能提供测试向量的情况下，实现对缺乏测试向量的测试项目的测试的无测试向量集成电路产品测试方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
[0005]第一方面，本申请提供了一种无测试向量集成电路产品测试方法。所述方法应用于ATE测试系统，该ATE测试系统包括ATE测试板，该ATE测试板包括存储模块；所述方法包括：
[0006]针对从属于目标集成电路产品且依赖于测试向量的目标测试项目，获取目标测试项目的功能测试用例，并将所有功能测试用例存储于存储模块中；
[0007]确定目标集成电路产品的当前待测测试项目；
[0008]判断当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目，若是，则从存储模块中调取目标功能测试用例，通过目标功能测试用例对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果；
[0009]根据测试结果，确定当前待测测试项目是否通过测试。
[0010]在其中一个实施例中，从存储模块中调取目标功能测试用例，通过目标功能测试
用例对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果，包括：
[0011]获取目标功能测试用例的地址；
[0012]基于地址从存储模块中读取目标功能测试用例，将所读取的目标功能测试用例加载至目标集成电路产品；
[0013]若加载成功，则向目标集成电路产品配置目标功能测试用例、测试模式、环境测试参数及测试时序，并配置目标功能测试用例；环境测试模式、测试参数及测试时序均基于当前待测测试项目确定；
[0014]基于配置的目标功能测试用例、测试模式、环境测试参数及测试时序，对目标集成电路产品进行测试，获得测试结果。
[0015]在其中一个实施例中，ATE测试板还包括开关切换阵列；将所读取的目标功能测试用例加载至目标集成电路产品，包括：
[0016]基于开关切换阵列，获取测试路径；
[0017]按照测试路径，将所读取的目标功能测试用例加载至目标集成电路产品。
[0018]在其中一个实施例中，判断当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目之后，还包括：
[0019]若否，则向目标集成电路产品配置默认的测试模式、环境测试参数及测试时序；基于默认的测试模式、环境测试参数及测试时序，对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果。
[0020]在其中一个实施例中，根据测试结果，确定当前待测测试项目是否通过测试，包括：
[0021]判断测试结果与预设测试结果是否匹配，若匹配，则当前待测测试项目通过测试，若否，则当前待测测试项目测试不通过。
[0022]在其中一个实施例中，获取目标测试项目的功能测试用例，包括：
[0023]对目标集成电路产品的数据手册及设计规范文件进行内容提取，获得目标测试项目的功能测试用例。
[0024]第二方面，本申请还提供了一种无测试向量集成电路产品测试装置。所述装置包括：
[0025]获取模块，用于针对从属于目标集成电路产品且依赖于测试向量的目标测试项目，获取目标测试项目的功能测试用例，并将所有功能测试用例存储于存储模块中；
[0026]第一确定模块，用于确定目标集成电路产品的当前待测测试项目；
[0027]判断模块，用于判断当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目，若是，则从存储模块中调取目标功能测试用例，通过目标功能测试用例对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果；
[0028]第二确定模块，用于根据测试结果，确定当前待测测试项目是否通过测试。
[0029]第三方面，本申请还提供了一种计算机设备。所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：
[0030]针对从属于目标集成电路产品且依赖于测试向量的目标测试项目，获取目标测试项目的功能测试用例，并将所有功能测试用例存储于存储模块中；
[0031]确定目标集成电路产品的当前待测测试项目；
[0032]判断当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目，若是，则从存储模块中调取目标功能测试用例，通过目标功能测试用例对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果；
[0033]根据测试结果，确定当前待测测试项目是否通过测试。
[0034]第四方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质。所述计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
[0035]针对从属于目标集成电路产品且依赖于测试向量的目标测试项目，获取目标测试项目的功能测试用例，并将所有功能测试用例存储于存储模块中；
[0036]确定目标集成电路产品的当前待测测试项目；
[0037]判断当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目，若是，则从存储模块中调取目标功能测试用例，通过目标功能测试用例对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果；
[0038]根据测试结果，确定当前待测测试项目是否通过测试。
[0039]第五方面，本申请还提供了一种计算机程序产品。所述计算机程序产品，包本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种无测试向量集成电路产品测试方法，其特征在于，所述方法应用于ATE测试系统，所述ATE测试系统包括ATE测试板，所述ATE测试板包括存储模块；所述方法包括：针对从属于目标集成电路产品且依赖于测试向量的目标测试项目，获取所述目标测试项目的功能测试用例，并将所有功能测试用例存储于所述存储模块中；确定所述目标集成电路产品的当前待测测试项目；判断所述当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目，若是，则从所述存储模块中调取目标功能测试用例，通过所述目标功能测试用例对所述目标集成电路产品进行测试，获得所述目标集成电路产品的测试结果；根据所述测试结果，确定所述当前待测测试项目是否通过测试。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从所述存储模块中调取目标功能测试用例，通过所述目标功能测试用例对所述目标集成电路产品进行测试，获得所述目标集成电路产品的测试结果，包括：获取所述目标功能测试用例的地址；基于所述地址从所述存储模块中读取所述目标功能测试用例，将所读取的所述目标功能测试用例加载至所述目标集成电路产品；若加载成功，则向所述目标集成电路产品配置目标功能测试用例、测试模式、环境测试参数及测试时序，并配置所述目标功能测试用例；所述环境测试模式、所述测试参数及所述测试时序均基于所述当前待测测试项目确定；基于配置的目标功能测试用例、测试模式、环境测试参数及测试时序，对所述目标集成电路产品进行测试，获得所述测试结果。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述ATE测试板还包括开关切换阵列；所述将所读取的所述目标功能测试用例加载至所述目标集成电路产品，包括：基于所述开关切换阵列，获取测试路径；按照所述测试路径，将所读取的所述目标功能测试用例所述加载至所述目标集成电路产品。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述判断所述当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目之后，还包...
【专利技术属性】
技术研发人员：胡湘洪，罗军，李军求，唐锐，罗道军，
申请(专利权)人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室，
类型：发明
国别省市：
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