一种电路绘制方法、装置、可读介质及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种电路绘制方法、装置、可读介质及电子设备，包括：确定待修正转角电路，所述待修正转角电路包括第一电路和第二电路；确定所述第一电路的第一参考点坐标，以及所述第二电路的第二参考点坐标；根据所述待修正转角电路的宽度，确定修正参数；根据所述第一参考点坐标和所述修正参数，确定第一标定点坐标；根据所述第二参考点坐标和所述修正参数，确定第二标定点坐标；根据所述第一标定点坐标和所述第二标定点坐标，确定所述待修正转角电路对应的第三电路；本发明专利技术实现了自动确定第一标定点和第二标定点的坐标，从而避免了手工绘制45

【技术实现步骤摘要】
一种电路绘制方法、装置、可读介质及电子设备


[0001]本专利技术涉及集成电路
，尤其涉及一种电路绘制方法、装置、可读介质及电子设备。

技术介绍

[0002]静电释放（即Electro
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Static discharge，简称ESD）可能对芯片造成严重的影响。所以在芯片设计过程中，静电防护是一项用来表征芯片可靠性的关键指标。为实现静电防护，芯片内部的电流泄放通路上的金属导线，通常在直角转角处，会增加45
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走线处理，以便于实现更好的电流泄放效果。
[0003]为此，在芯片中集成电路的设计过程中，需要将该45
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的走线处理绘制在电路设计图当中。然而，常用的集成电路绘制工具无法在电路图中自动的绘制生成45
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走线。必须由设计师在特定位置进行手工的操作，方可绘制出45
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走线。可见现有技术的缺陷在于，手工绘制45
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走线的效率较为低下。而且手工绘制45
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走线亦可能导致较大的误差，准确性不理想。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种电路绘制方法、装置、可读介质及电子设备，以实现自动的绘制电路直角转角处的45
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走线。
[0005]第一方面，本专利技术提供了一种电路绘制方法，包括：确定待修正转角电路，所述待修正转角电路包括第一电路和第二电路；确定所述第一电路的第一参考点坐标，以及所述第二电路的第二参考点坐标；根据所述待修正转角电路的宽度，确定修正参数；根据所述第一参考点坐标和所述修正参数，确定第一标定点坐标；根据所述第二参考点坐标和所述修正参数，确定第二标定点坐标；根据所述第一标定点坐标和所述第二标定点坐标，确定所述待修正转角电路对应的第三电路。
[0006]优选的，还包括：确定所述第一电路的第一基准点和第二基准点；确定所述第二电路的第三基准点和第四基准点；根据所述第一基准点、第二基准点、第三基准点和第四基准点，确定所述待修正转角电路的转角朝向；根据所述转角朝向，确定补偿参数。
[0007]优选的，所述确定所述第一电路的第一参考点坐标，以及所述第二电路的第二参考点坐标包括：根据所述补偿参数，确定所述第一参考点坐标及所述第二参考点坐标。
[0008]优选的，所述根据所述待修正转角电路的宽度，确定修正参数包括：
根据所述待修正转角电路的宽度，确定所述修正参数的绝对值；根据所述转角朝向，确定所述修正参数的正负值。
[0009]优选的，所述根据所述待修正转角电路的宽度，确定所述修正参数的绝对值包括：；其中u为修正参数，w为待修正转角电路的宽度。
[0010]优选的，所述根据所述第一标定点坐标和所述第二标定点坐标，确定所述待修正转角电路对应的第三电路包括：将所述第一标定点坐标和所述第二标定点坐标输入预设的绘制工具，以使所述绘制工具确定所述第三电路。
[0011]优选的，所述绘制工具确定所述第三电路包括：根据所述第一标定点坐标和所述第二标定点坐标，确定所述第三电路的轴线；根据所述待修正转角电路的宽度，确定所述第三电路的宽度；根据所述第三电路的轴线和宽度，确定所述第三电路；所述第三电路为矩形。
[0012]第二方面，本专利技术提供了一种电路绘制装置，包括：待修正转角电路确定模块，用于确定待修正转角电路，所述待修正转角电路包括第一电路和第二电路；参考点确定模块，用于确定所述第一电路的第一参考点坐标，以及所述第二电路的第二参考点坐标；修正参数确定模块，用于根据所述待修正转角电路的宽度，确定修正参数；标定点确定模块，用于根据所述第一参考点坐标和所述修正参数，确定第一标定点坐标；根据所述第二参考点坐标和所述修正参数，确定第二标定点坐标；第三电路确定模块，用于根据所述第一标定点坐标和所述第二标定点坐标，确定所述待修正转角电路对应的第三电路。
[0013]第三方面，本专利技术提供了一种可读介质，包括执行指令，当电子设备的处理器执行所述执行指令时，所述电子设备执行如第一方面中任一所述的方法。
[0014]第四方面，本专利技术提供了一种电子设备，包括处理器以及存储有执行指令的存储器，当所述处理器执行所述存储器存储的所述执行指令时，所述处理器执行如第一方面中任一所述的方法。
[0015]本专利技术提供了一种电路绘制方法、装置、可读介质及电子设备，实现了自动确定第一标定点和第二标定点的坐标，从而在传统的绘制工具中增设了新功能，该新功能可实现对于45
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走线处理的自动绘制；由此避免了手工绘制45
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走线的低效过程，也排除了手工绘制产生的误差。
[0016]上述的非惯用的优选方式所具有的进一步效果将在下文中结合具体实施方式加以说明。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1A~图1B为现有技术中直角转角电路的结构示意图；图2为本专利技术一实施例提供的一种电路绘制方法的流程示意图；图3~图6为本专利技术一实施例提供的一种电路绘制方法中直角转角电路的结构示意图；图7为本专利技术一实施例提供的一种电路绘制装置的结构示意图；图8为本专利技术一实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0019]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合具体实施例及相应的附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0020]在芯片中集成电路的设计过程中，常规绘制的直角转角形态的电路结构，如图1A所示。而直角转角经过45
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走线处理后，形态如图1B所示。在实际电路中，上述45
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转角处理后的金属导线，可以实现更好的电流泄放效果。
[0021]常用的集成电路绘制工具当中，可以较为轻易的绘制得到如图1A所示的电路。但是通过特定的程序功能，无法自动绘制出如图1B所示的电路。类似图1B所示的电路，必须由电路的设计师通过手工操作进行绘制。而手工绘制过程效率低下，影响了集成电路设计的整体效率。并且手工绘制过程可能产生一定的误差，准确性不理想。
[0022]有鉴于此，本专利技术提供一种电路绘制方法。参见图2所示，为本专利技术提供的电路绘制方法的具体实施例。本实施例中，所述方法包括：步骤201、确定待修正转角电路，所述待修正转角电路包括第一电路和第二电路。
[0023]待修正转角电路，即常规绘制的直角转角形态的电路结构，如图3所示。通常，待修正转角电路包括正交形态的一段横向的金属导线和一段纵向的金属导线。本实施例本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路绘制方法，其特征在于，包括：确定待修正转角电路，所述待修正转角电路包括第一电路和第二电路；确定所述第一电路的第一参考点坐标，以及所述第二电路的第二参考点坐标；根据所述待修正转角电路的宽度，确定修正参数；根据所述第一参考点坐标和所述修正参数，确定第一标定点坐标；根据所述第二参考点坐标和所述修正参数，确定第二标定点坐标；根据所述第一标定点坐标和所述第二标定点坐标，确定所述待修正转角电路对应的第三电路。2.根据权利要求1所述方法，其特征在于，还包括：确定所述第一电路的第一基准点和第二基准点；确定所述第二电路的第三基准点和第四基准点；根据所述第一基准点、第二基准点、第三基准点和第四基准点，确定所述待修正转角电路的转角朝向；根据所述转角朝向，确定补偿参数。3.根据权利要求2所述方法，其特征在于，所述确定所述第一电路的第一参考点坐标，以及所述第二电路的第二参考点坐标包括：根据所述补偿参数，确定所述第一参考点坐标及所述第二参考点坐标。4.根据权利要求2所述方法，其特征在于，所述根据所述待修正转角电路的宽度，确定修正参数包括：根据所述待修正转角电路的宽度，确定所述修正参数的绝对值；根据所述转角朝向，确定所述修正参数的正负值。5.根据权利要求4所述方法，其特征在于，所述根据所述待修正转角电路的宽度，确定所述修正参数的绝对值包括：；其中u为修正参数，w为待修正转角电路的宽度。6.根据权利要求1~5任意一项所述方法，其特征在于，所述根据所述第一标定点坐标和所述第二标定点坐标，确定所述待修正转角电...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄钧，
申请(专利权)人：北京紫光芯能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：